車規(guī)級功率器件可靠性測試難點(diǎn)及應(yīng)用場景
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一文通過AEC-Q102車規(guī)級芯片測試認(rèn)證了解激光雷達(dá)核心技術(shù)及行業(yè)格局
、振動等,大大降低了雷達(dá)的穩(wěn)定性和可靠性。
而且多線激光雷達(dá)這種轉(zhuǎn)動的工作模式,若采用滑環(huán)設(shè)計(jì)會容易失效,而無線供電的方式則不夠穩(wěn)定,很難滿足車規(guī)級別的應(yīng)用場景。
2.3.2 MEMS 激光雷達(dá)
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產(chǎn)品推薦 | Abracon 的車規(guī)級共模扼流圈
過濾。這些扼流圈可以廣泛應(yīng)用于汽車、工業(yè)、IIoT以及網(wǎng)絡(luò)和電信。
車規(guī)級電源線共模扼流圈
車規(guī)級信號線共模扼流圈
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什么是高可靠性?
,放眼全球,國家與國家的競爭已經(jīng)演變成企業(yè)與企業(yè)的競爭,可靠性工程是企業(yè)開展全球化競爭的門檻,也是企業(yè)在日益劇烈的市場當(dāng)中脫穎而出的致勝法寶!四、為什么PCB的高可靠性應(yīng)當(dāng)引起重視?作為各種電子元器件
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基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測試方法
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軍用電子元器件二篩,進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗(yàn),進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類:
(1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
(2)密封性篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
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單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性與可靠性設(shè)計(jì)
;可靠性測試記錄。 (2)最大的系統(tǒng)集成最大的系統(tǒng)集成可以最大限度簡化系統(tǒng)構(gòu)成,有助于減少系統(tǒng)硬件失誤概率。最大的系統(tǒng)集成應(yīng)具備:依靠器件解決的思想;單片機(jī)選擇實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最大包容;0EM 的支持。 2.
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單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)
可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā),詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
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基于汽車GDDR6的高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)測試
汽車行業(yè)發(fā)展迅速,汽車的設(shè)計(jì)、制造和操控方式在發(fā)生著重大轉(zhuǎn)變。最值得注意的是,與半導(dǎo)體技術(shù)相關(guān)的安全性和可靠性在很大程度上影響著汽車的安全性。系統(tǒng)集成商面對的挑戰(zhàn)是構(gòu)建強(qiáng)大的平臺,并確保該平臺能夠在
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大功率白光LED的應(yīng)用及其可靠性研究
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如何對嵌入式軟件進(jìn)行可靠性測試
摘 要 本文針對目前嵌入式軟件設(shè)計(jì)可靠性測試用例的手段主要依靠手工分析,沿用傳統(tǒng)的軟件測試用例設(shè)計(jì)方法進(jìn)行,不能夠滿足可靠性測試用例設(shè)計(jì)的基本要求的問題,設(shè)計(jì)了一套行之有效的可靠性測試用例自動生成
2021-10-27 06:10:28
如何提高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性與可靠性?
PMU的原理是什么?如何提高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性與可靠性?
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開關(guān)電源設(shè)計(jì)的可靠性研究
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怎么測試網(wǎng)口的可靠性?
怎么測試網(wǎng)口的可靠性?平時(shí)用的時(shí)候,都是看能不能ping通電腦而已,但是怎么具體的網(wǎng)口測試呢?
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提高開關(guān)電源可靠性的技巧
技術(shù)。開關(guān)電源電氣可靠性工程設(shè)計(jì)技術(shù) 對于功率因數(shù)校正技術(shù)具體是指由于開關(guān)電源的諧波電流污染電網(wǎng),干擾了其它共網(wǎng)設(shè)備,可能會使采用三相四線制的中線電流過大,引發(fā)事故,一般選擇的解決途徑是采用具有功率因素
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板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
強(qiáng)度測試、彎曲測試等,將傳統(tǒng)對于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇,擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu),做一個(gè)先期驗(yàn)證。為了滿足車用「板階(Board Level)」客戶需求,建置相關(guān)設(shè)備能良,并結(jié)合車用芯片與車用系統(tǒng),可提供您完整的可靠性驗(yàn)證環(huán)境。
2018-09-06 16:56:38
極海推出APM32A系列車規(guī)級MCU芯片
/LQFP144主流型APM32A103系列車規(guī)級MCU 助力擴(kuò)展更多汽車應(yīng)用場景APM32A103系列車規(guī)級MCU,高集成度、低功耗、高可靠性,采用 Arm? Cortex?-M3內(nèi)核,帶有FPU浮點(diǎn)運(yùn)算
2023-02-21 14:21:11
武漢芯源半導(dǎo)體首款車規(guī)級MCU,CW32A030C8T7通過AEC-Q100測試考核
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作為武漢芯源半導(dǎo)體首款車規(guī)級MCU產(chǎn)品,CW32A030C8T7產(chǎn)品順利通過AEC-Q100(Grade2)車規(guī)級可靠性測試,符合車用電
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汽車電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試
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汽車車燈的可靠性測試要求標(biāo)準(zhǔn)
幫幫忙。一般汽車車燈的可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求是怎么樣的?像高溫測試是測多少度多久的。像前大燈和霧燈,尾燈這類的
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2016-11-17 22:41:33
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2009-12-04 14:32:45
電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型
設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)(降額參數(shù)和降額因子)、熱設(shè)計(jì)(熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測試、熱器件選型)、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)(布局布線、接地、阻抗匹配、加工工藝)、可用性
2009-12-18 16:29:17
電路板可靠性測試,求教懂的人們
接插件)?,F(xiàn)在狀態(tài)是PCB板基本功能都已測試都過?,F(xiàn)在公司讓小弟做PCB板硬件可靠性方面的工作(證明電路板可靠度,如果不可靠的話找到薄弱環(huán)節(jié)).現(xiàn)在電路板的數(shù)量不多(3-5塊),大批量做可靠性實(shí)驗(yàn)不太
2017-02-22 09:49:18
硬件電路的可靠性
我想問一下高速電路設(shè)計(jì),是不是只要做好電源完整性分析和信號完整性分析,就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性,要做好哪些工作???在網(wǎng)上找了好久,也沒有找到關(guān)于硬件可靠性的書籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17
碳化硅功率器件可靠性之芯片研發(fā)及封裝篇
要求。測試新品器件是否合規(guī)比較容易,但判斷器件的物理特征是否會隨時(shí)間和環(huán)境而變化比較麻煩。本文將從碳化硅芯片研發(fā)和封裝方面探討可靠性問題?! ⌒酒邪l(fā)環(huán)節(jié)的可靠性測試 衡量可靠性可以從器件的故障率入手
2023-02-28 16:59:26
能推薦一些國內(nèi)車規(guī)級電子元器件原廠嗎?
誰能推薦一些國內(nèi)車規(guī)級的電子元器件廠商?主要是電源IC、ADC、邏輯IC、復(fù)位IC、高低邊IC等等,其它的分立元器件也可以推薦,要國產(chǎn)的,謝謝!本人在國內(nèi)一線整車廠上班。
2019-12-04 11:38:53
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;高溫存儲試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
請問PCBA可靠性測試有什么標(biāo)準(zhǔn)可循嗎?
剛剛接觸PCBA可靠性,感覺和IC可靠性差異蠻大,也沒有找到相應(yīng)的測試標(biāo)準(zhǔn)。請問大佬們在做PCBA可靠性時(shí)是怎么做的,測試條件是根據(jù)什么設(shè)定?
2023-02-15 10:21:14
車載電子設(shè)備可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)
車載電子設(shè)備可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目匯總一、綜述汽車的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ),因此電子控制設(shè)備的可靠性對整車的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來說,使用環(huán)境會影響到電子設(shè)備和單元的耐久性以及操作性能。因此
2022-01-12 08:07:28
量產(chǎn)發(fā)布!國民技術(shù)首款車規(guī)級MCU N32A455上市
2023年2月20日,國民技術(shù)在深圳正式推出兼具通用性、硬件安全性和車規(guī)級高可靠性等優(yōu)勢特性的N32A455系列車規(guī)級MCU并宣布量產(chǎn)。這是繼N32S032車規(guī)級EAL5+安全芯片之后,國民技術(shù)發(fā)布
2023-02-20 17:44:27
高可靠、高性能車規(guī)MCU, 滿足車身控制多元應(yīng)用
(MGEQ1C064AD48)于今年6月已獲AEC-Q100 Grade2車規(guī)級可靠性認(rèn)證,滿足安全標(biāo)準(zhǔn)車規(guī)級MCU的功能,近期也正導(dǎo)入試產(chǎn)中,預(yù)計(jì)今年第4季可實(shí)現(xiàn)規(guī)模量產(chǎn)。
表1_車規(guī)等級芯片要求
資料來源: 方正證券
2023-09-15 12:04:18
AEC-Q101分立半導(dǎo)體器件車規(guī)級認(rèn)證可靠性測試
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗(yàn)服務(wù),設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)?zāi)芰Α7?wù)背景AEC-Q101對對各類半導(dǎo)體
2024-01-29 21:35:04
功率半導(dǎo)體模塊,封裝可靠性試驗(yàn)-功率循環(huán)測試
封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-1
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:09:31
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-2
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:05
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-3
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:30
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-4
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:10:55
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-5
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:21
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-6
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:11:46
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可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:12:14
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-8
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:12:40
#硬聲創(chuàng)作季 #可靠性 電子封裝可靠性評價(jià)中的實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法-9
可靠性設(shè)計(jì)可靠性元器件可靠性
水管工發(fā)布于 2022-09-29 22:13:05
中科院微電子所在硅基氮化鎵橫向功率器件的動態(tài)可靠性研究方面獲進(jìn)展
提升硅基氮化鎵橫向功率器件可靠性的難點(diǎn)在于如何準(zhǔn)確測試出器件在長期高壓大電流應(yīng)力工作下的安全工作區(qū),如何保證器件在固定失效率下的壽命。硅基氮化鎵橫向功率器件在高壓大電流場景下的“可恢復(fù)退化”與“不可恢復(fù)退化”一直以來很難區(qū)分,這給器件安全工作區(qū)的識別和壽命評估帶來了極大挑戰(zhàn)。
2023-06-08 15:37:12477
功率器件可靠性試驗(yàn)測試項(xiàng)目
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估,公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則,制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808
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