失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:23
3510 節(jié)能燈功率管失效機(jī)理分析
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1引言
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源,在全世界得到了廣泛的
2009-07-29 12:20:19
824 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:00
12633 IGBT 功率模塊工作過程中存在開關(guān)損耗和導(dǎo)通損耗,這些損耗以熱的形式耗散,使得在 IGBT 功率模塊封裝結(jié)構(gòu)產(chǎn)生溫度梯度。并且結(jié)構(gòu)層不同材料的熱膨脹系數(shù)( Coefficient of Thermal Expansion,CTE) 相差較大
2022-09-07 10:06:18
4436 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:05
1332 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A3/30/wKgaomT35E-ASB0TAAAWPaaBoXE753.png)
眾所周知,IGBT失效是IGBT應(yīng)用中的難題。大功率IGBT作為系統(tǒng)中主電路部分的開關(guān)器件,失效后將直接導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。宇宙射線作為一個(gè)無(wú)法預(yù)知的因素,可能就是導(dǎo)致IGBT發(fā)生意外故障的關(guān)鍵。
2023-12-27 09:39:34
676 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/B9/79/wKgaomWLgHaAQpj9AAnsLePMFXc730.png)
和發(fā)射極的過壓/過流和柵極的過壓/過流引起?! ?b class="flag-6" style="color: red">IGBT失效機(jī)理:IGBT由于上述原因發(fā)生短路,將產(chǎn)生很大的瞬態(tài)電流——在關(guān)斷時(shí)電流變化率di/dt過大。漏感及引線電感的存在,將導(dǎo)致IGBT集電極
2020-09-29 17:08:58
和結(jié)構(gòu)函數(shù)分析進(jìn)行模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)的缺陷辨識(shí)和失效機(jī)理分析,并利用仿真的方式對(duì)于不同邊界條件的動(dòng)態(tài)熱傳導(dǎo)過程進(jìn)行有限元仿真,更直觀地觀察到模塊的熱傳導(dǎo)的過程,同時(shí)驗(yàn)證了實(shí)驗(yàn)方法的準(zhǔn)確性?! ∷麄儼l(fā)現(xiàn)在溫度波動(dòng)
2020-12-10 15:06:03
IGBT傳統(tǒng)防失效機(jī)理是什么IGBT失效防護(hù)電路
2021-03-29 07:17:06
似)。在圖 1 所示的電路中,在市電電源 Us 的正半周期,將 Ug2.4 所示的高頻驅(qū)動(dòng)信號(hào)加在下半橋兩只 IGBT 的柵極上,得到管壓降波形 UT2D。其工作過程分析如下:在 t1~t2 時(shí)刻,受
2019-12-27 08:30:00
IGBT的失效機(jī)理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)(Safe Operating Area簡(jiǎn)稱SOA
2017-03-16 21:43:31
完整性、品種、規(guī)格等方面)來(lái)劃分材料失效的類型。對(duì)機(jī)械產(chǎn)品可按照其相應(yīng)規(guī)定功能來(lái)分類。 2.2 按材料損傷機(jī)理分類 根據(jù)機(jī)械失效過程中材料發(fā)生變化的物理、化學(xué)的本質(zhì)機(jī)理不同和過程特征差異
2011-11-29 16:46:42
分析委托方發(fā)現(xiàn)失效元器件,會(huì)對(duì)失效樣品進(jìn)行初步電測(cè)判斷,再次會(huì)使用良品替換確認(rèn)故障。如有可能要與發(fā)現(xiàn)失效的人員進(jìn)行交流,詳細(xì)了解原始數(shù)據(jù),這是開展失效分析工作關(guān)鍵一步。確認(rèn)其失效機(jī)理,失效機(jī)理是指失效
2020-08-07 15:34:07
`v失效:產(chǎn)品失去規(guī)定的功能。v失效分析:為確定和分析失效器件的失效模式,失效機(jī)理,失效原因和失效性質(zhì)而對(duì)產(chǎn)品所做的分析和檢查。v失效模式:失效的表現(xiàn)形式。v失效機(jī)理:導(dǎo)致器件失效的物理,化學(xué)變化
2011-11-29 17:13:46
丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯(cuò)、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題,嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此,有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對(duì)失效的IC卡進(jìn)行分析,深入研究其失效模式及失效機(jī)理,探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
`對(duì)于LED產(chǎn)品在可靠性的視角來(lái)看,光輸出功率以及電性能隨著時(shí)間的推移逐漸退化[1-3] 為了滿足客戶對(duì)產(chǎn)品可靠性的要求,研究失效機(jī)理顯得尤為重要。 前些年有些科研人員針對(duì)負(fù)電極脫落開展失效分析工作
2017-12-07 09:17:32
分析對(duì)象的背景,確認(rèn)失效現(xiàn)象,接著制定LED失效分析方案,研究LED失效原因與機(jī)理,最后提出后續(xù)預(yù)防與改進(jìn)措施。 金鑒實(shí)驗(yàn)室綜合數(shù)千個(gè)失效分析案例,將LED芯片失效原因歸納為以下幾類: 1.封裝
2020-10-22 09:40:09
分析對(duì)象的背景,確認(rèn)失效現(xiàn)象,接著制定LED失效分析方案,研究LED失效原因與機(jī)理,最后提出后續(xù)預(yù)防與改進(jìn)措施。 金鑒實(shí)驗(yàn)室綜合數(shù)千個(gè)失效分析案例,將LED芯片失效原因歸納為以下幾類: 1.封裝
2020-10-22 15:06:06
MOSFET的失效機(jī)理至此,我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET,首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對(duì)最大
2022-07-26 18:06:41
`請(qǐng)問SMT焊點(diǎn)的主要失效機(jī)理有哪些?`
2019-12-24 14:51:21
參考資料:《 STM32F4xx 中文參考手冊(cè)》 RCC 章節(jié)。STM32時(shí)鐘可大致分為系統(tǒng)時(shí)鐘和其它時(shí)鐘兩大類,總共包含5個(gè)時(shí)鐘源 HSI(High Speed Internal Clock
2021-08-12 06:18:55
Simulink電路分析應(yīng)用 1. “Connectors”模塊庫(kù)其中包括接地點(diǎn)和中間節(jié)點(diǎn)兩大類共10個(gè)模塊 Simulink電路分析應(yīng)用 1. “Connectors”模塊庫(kù)其中包括接地點(diǎn)和中間
2009-08-20 18:40:15
WiFi模塊主要有網(wǎng)卡類和AP類兩大類。網(wǎng)卡類WiFi模塊通信接口、通信信道、綜合功能可以大體分成八大類;AP類的WiFi模塊可以分為嵌入式AP模塊(核心板方式,只引出接口pin腳)和AP主板(也就是不帶殼子和天線的成品).
2019-08-02 06:44:13
用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類,即致命
2018-01-03 13:25:47
次的失效原因即是下一層次的失效現(xiàn)象。越是低層次的失效現(xiàn)象,就越是本質(zhì)的失效原因?;靖拍睢 ?.1 失效和失效分析 產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能稱為失效。 判斷失效的模式,查找失效原因和機(jī)理,提出預(yù)防再失效
2011-11-29 16:39:42
伺服電機(jī)分為交流伺服和直流伺服兩大類。交流伺服電機(jī)的基本構(gòu)造與交流感應(yīng)電動(dòng)機(jī)(異步電機(jī))相似。在定子上有兩個(gè)相空間位移90°電角度的勵(lì)磁繞組Wf和控制繞組WcoWf,接恒定交流電壓,利用施加到Wc上
2021-06-28 09:45:02
失效分析基本概念定義:對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理,提出糾正措施,防止這種失效
2016-12-09 16:07:04
元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理,提出糾正措施,防止這種失效模式和失效機(jī)理的重復(fù)出現(xiàn)。3、失效
2016-10-26 16:26:27
單片機(jī)最小系統(tǒng)電路包括哪兩大類
2023-10-31 07:28:49
上一篇文章,我們只是粗略地介紹了一下吸波材料的類型和與吸波原理相關(guān)的知識(shí)。那么您可能會(huì)問:吸波材料為什么會(huì)吸收電磁波?在接下來(lái)的文章中,我們會(huì)向您較詳細(xì)地介紹吸波材料的兩大類吸波機(jī)制。今天我們向您
2019-07-01 08:12:47
封裝有兩大類;一類是通孔插入式封裝(through-hole package);另—類為表面安裝式封裝(surface mounted package)。每一類中又有多種形式。表l和表2是它們的圖例
2018-08-23 08:13:05
。標(biāo)準(zhǔn)的嵌入式系統(tǒng)架構(gòu)有兩大體系,RISC處理器和CISC處理器體系。嵌入式主板分為比較常見的兩大類:1、基于X86的嵌入式主板,Intel的X86 處理器就屬于CISC體系,(一般使用INTEL、AMD、威盛、或其他產(chǎn)家的...
2021-12-16 06:41:20
兩大類,即致命失效和參數(shù)漂移失效?,F(xiàn)場(chǎng)使用統(tǒng)計(jì)表明,電阻器失效的85%~90% 屬于致命失效,如斷路、機(jī)械損傷、接觸損壞、短路、絕緣、擊穿等,只有1 0 % 左右的是由阻值漂移導(dǎo)致失效。 電阻器電位器失效
2018-01-05 14:46:57
電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類
2018-01-02 14:40:37
本文采用恒定溫度應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)對(duì)功率VDMOS的可靠性進(jìn)行了研究,得到較為完整的可靠性數(shù)據(jù),并分析得到引起其漏源電流IDS退化的主要失效機(jī)理是柵極擊穿,從而為功率VDMOS類型器件的加工制造及應(yīng)用等方面提供有價(jià)值的數(shù)據(jù)。
2021-04-14 06:37:09
作為現(xiàn)今大力發(fā)展的無(wú)線接入技術(shù),大體上可分為移動(dòng)式接入和無(wú)線方式的固定接入兩大類。
2019-09-12 09:02:02
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:08 編輯
IGBT失效分析大概有下面幾個(gè)方面:1、IGBT過壓失效,Vge和Vce、二極管反向電壓失效等。2、IGBT過流,一定程度
2012-12-19 20:00:59
`以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應(yīng)用,但廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景也意味著可能會(huì)出現(xiàn)各種各樣令人頭疼的失效情況,進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備發(fā)生故障!因此,正確分析電力電子器件的失效情況,對(duì)于
2019-10-11 09:50:49
型、功能型失效模式和其他失效模式。在此針對(duì)系統(tǒng)中導(dǎo)致電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效,影響整車正常運(yùn)行的元件或部件失效進(jìn)行分析。(2)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效機(jī)理分析針對(duì)電機(jī)控制器,選取以下幾種失效模式進(jìn)行機(jī)理分析。①過壓
2016-04-05 16:04:05
/Intranet功能的網(wǎng)絡(luò)化電子設(shè)備的實(shí)質(zhì)是在電子設(shè)備的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化和信息化,其核心是使電子設(shè)備本身實(shí)現(xiàn)TCP/IP網(wǎng)絡(luò)通信協(xié)議。? 總體上講,電子設(shè)備網(wǎng)絡(luò)化的方案可分為兩大類,一類是直接在電子設(shè)備上實(shí)現(xiàn)
2019-06-28 07:56:04
`電容器的常見失效模式和失效機(jī)理【上】電容器的常見失效模式有――擊穿短路;致命失效――開路;致命失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54
3.2 電容器失效機(jī)理分析3.2.1潮濕對(duì)電參數(shù)惡化的影響3.2.2銀離子遷移的后果3.2.3高濕度條件下陶瓷電容器擊穿機(jī)理3.2.4高頻精密電容器的低電平失效機(jī)理3.2.5金屬化紙介電容失效機(jī)理
2011-12-03 21:29:22
誰(shuí)來(lái)闡述一下電感式傳感器可分為哪兩大類?
2019-11-18 15:14:40
,必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析?! ?b class="flag-6" style="color: red">失效分析的基本程序 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程,否則可能會(huì)漏掉寶貴的失效信息,造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯(cuò)誤
2018-09-20 10:59:15
過壓保護(hù)元件按其作用機(jī)理可分為兩大類:開關(guān)型元件和限壓型(箝位型)開關(guān)型元件主要是:陶瓷氣體放電管、半導(dǎo)體放電管、玻璃氣體放電管限壓型(箝位型)主要是:壓敏電阻、TVS二極管
2018-05-24 11:07:01
IGBT損耗計(jì)算和損耗模型研究:器件的損耗對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)堯器件參數(shù)及散熱器的選擇相當(dāng)重要。損耗模型主要分為兩大類院基于物理結(jié)構(gòu)的IGBT損耗模型淵physics-based冤和基于數(shù)學(xué)方法的IG
2009-06-20 08:33:53
96 服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導(dǎo)體器件等分立器件,以及上述元件構(gòu)成的功率模塊檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)l GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)?法和程序l 
2024-01-29 22:40:29
的失效分析設(shè)備,專注功率器件失效根因分析,可為客戶提供完整的失效根因分析服務(wù)。服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導(dǎo)體器件等分立器件,以及上述
2024-03-13 16:26:07
節(jié)能燈功率管的失效機(jī)理分析
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源,在全世界得到了廣泛的應(yīng)用,國(guó)內(nèi)節(jié)能燈的生產(chǎn)
2009-05-13 15:25:19
677 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A4/E6/wKgZomUMNiKAPYHzAAARtdE3R54247.jpg)
從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機(jī)理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:42
2665 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A5/78/wKgZomUMOJSALI3AAABlKs8BcDw591.jpg)
器件的損耗對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)堯器件參數(shù)及散熱器的選擇相當(dāng)重要遙損耗模型主要分為兩大類院基于物理結(jié)構(gòu)的IGBT損耗模型淵physics-based冤和基于數(shù)學(xué)方法的IGBT損耗模型遙對(duì)近年來(lái)的各種研究
2011-09-01 16:38:45
65 判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36
121 高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機(jī)理研究,IGBT原理,PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:33
0 大功率白光LED的可靠性研究及失效機(jī)理分析
2017-02-07 21:04:01
1 電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類 根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果,可將失效進(jìn)行不同的分類。電動(dòng)觀光車常見的失效模式可以分為:損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)
2017-03-09 01:43:23
1760 元器件長(zhǎng)期儲(chǔ)存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-17 13:37:34
20 元器件的長(zhǎng)期儲(chǔ)存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-19 08:37:34
32 高清存儲(chǔ)大環(huán)境分析 對(duì)于高清存儲(chǔ),主要是根據(jù)存儲(chǔ)規(guī)模和部署方式進(jìn)行分類,一般分為兩大類: 以 NVR、HDVR 為代表的分布式存儲(chǔ)架構(gòu): 主要針對(duì)中小型的監(jiān)控環(huán)境,如園區(qū)、酒店等,一般采用分布式部署
2017-10-29 10:53:08
4 電流Tsc 1、 引言 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)(Safe Operating Area簡(jiǎn)稱SOA)使用引起的。因此全面了解SOA,并在使用中將IGBT的最大直流電流IC和集電極發(fā)射極電壓
2017-12-03 19:17:49
2531 已有研究表明,鍵合線老化脫落失效是影響絕緣柵雙極型晶體管( IGBT)可靠性的主要因素之一。以此為研究背景,首先根據(jù)IGBT模塊內(nèi)部鍵合線的結(jié)構(gòu)布局與物理特性,分析鍵合線等效電阻與關(guān)斷暫態(tài)波形的關(guān)系
2018-01-02 11:18:14
5 對(duì)電子元器件的失效分析技術(shù)進(jìn)行研究并加以總結(jié)。方法 通過對(duì)電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機(jī)理等故障現(xiàn)象進(jìn)行分析。
2018-01-30 11:33:41
10912 本文通過大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法,針對(duì)不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機(jī)理進(jìn)行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:45
6951 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/51/3C/pIYBAFsCgxOAI6qrAAAXbV2uwN8034.jpg)
薄膜電容是一種電子元件,在很多的家用電器中都有使用,應(yīng)用范圍十分廣泛!薄膜電容器已經(jīng)漸漸的取代了鋁電解電容器。薄膜電容器可以分為哪兩大類了,其作用又是什么,一起跟小編了解一下。 薄膜電容器是以金屬
2018-05-30 13:59:19
3346 本文主要對(duì)變壓器線圈常見的三種失效機(jī)理進(jìn)行了介紹,另外還對(duì)電感和變壓器類失效機(jī)理與故障進(jìn)行了分析。
2018-05-31 14:41:52
9637 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/51/F0/pIYBAFsPnCKADfkuAAA_rDCp7Ks063.jpg)
IGBT模塊主要由若干混聯(lián)的IGBT芯片構(gòu)成,個(gè)芯片之間通過鋁導(dǎo)線實(shí)現(xiàn)電氣連接。標(biāo)準(zhǔn)的IGBT封裝中,單個(gè)IGBT還會(huì)并有續(xù)流二極管,接著在芯片上方灌以大量的硅凝膠,最后用塑料殼封裝,IGBT單元
2018-10-18 18:28:03
599 汽車傳感器裝備的目的不同,可以分為提升單車信息化水平的傳統(tǒng)微機(jī)電傳感器(MEMS)和為無(wú)人駕駛提供支持的智能傳感器兩大類。MEMS 在汽車各系統(tǒng)控制過程中進(jìn)行信息的反饋,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制,是汽車的“神經(jīng)元”。而智能傳感器則直接向外界收集信息,是無(wú)人駕駛車輛的“眼睛”。
2019-07-24 14:49:36
4932 或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。 所以掌握各類電子元器件的實(shí)效機(jī)理與特性是硬件工程師比不可少的知識(shí)。下面分類細(xì)敘一下各類電子元器件的失效模式與機(jī)理。 電阻器失效 失效模式:各種失效的
2020-06-29 11:15:21
6642 隨著LED產(chǎn)品制造技術(shù)的逐漸成熟,成本越來(lái)越低,性價(jià)比越來(lái)越高。目前小功率LED產(chǎn)品在大屏幕戶外顯示等商用領(lǐng)域有很大的應(yīng)用范圍,如何增加使用壽命,減少維護(hù)成本也是業(yè)界關(guān)注的要點(diǎn)所在。解決高成本問題的一個(gè)積極態(tài)度,就是要分析其失效機(jī)理,彌補(bǔ)技術(shù)缺陷,以提高LED產(chǎn)品的可靠性,提高LED的性價(jià)比。
2020-06-14 09:07:46
1111 IGBT的封裝失效機(jī)理 輸出功率器件的可信性就是指在要求標(biāo)準(zhǔn)下,器件進(jìn)行要求作用的工作能力,一般用使用期表明。因?yàn)榘雽?dǎo)體材料器件主要是用于完成電流量的轉(zhuǎn)換,會(huì)造成很大的輸出功率耗損,因而,電力
2020-12-09 16:34:12
1379 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供IGBT失效防護(hù)機(jī)理及電路資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-01 08:50:22
22 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供鉭電容失效的兩大類原因資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-08 08:53:35
59 ,我已經(jīng)做好了思維導(dǎo)圖,點(diǎn)個(gè)分享再收藏,支持一下,也方便以后查閱。 分布式鎖三個(gè)屬性和兩大類 多線程編程通常使用 mutex 或信號(hào)量等方式進(jìn)行同步;在同一個(gè)操作系統(tǒng)下的多進(jìn)程也能通過共享內(nèi)存等方式同步;但在分布式系統(tǒng)多進(jìn)
2021-10-22 17:30:12
1712 或斷裂;致命失效 ――絕緣子破裂;致命失效 ――絕緣子表面飛??;部分功能失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同,失效機(jī)理也各不一樣。 各種常見失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:53
2688 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:06
18 接上一篇討論了IGBT應(yīng)用的環(huán)境,在什么條件下算是高濕?而高濕環(huán)境又是如何影響IGBT的可靠性的。本篇內(nèi)容我們接著討論,從用戶端的角度,如何預(yù)防IGBT模塊因?yàn)楦邼?b class="flag-6" style="color: red">失效?
2022-07-10 11:55:27
1964 通常大家所提到的IGBT,一般指分立IGBT器件或IGBT模塊,這些器件的結(jié)構(gòu)和工作機(jī)理都是以IGBT芯片為基礎(chǔ),一代IGBT芯片技術(shù)決定了一代IGBT模塊?IPM?DIPIPMTM等以IGBT為基礎(chǔ)的關(guān)聯(lián)器件的主要性能。
2022-07-21 11:45:34
789 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:48
4175 MOSFET的失效機(jī)理本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時(shí)流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB,使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08
829 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/8C/ED/pYYBAGPbjtOAYcf3AABe40A-OMI893.png)
、線路短路等,但最終的失效都可歸結(jié)為電擊穿和熱擊穿兩種,其中電擊穿失效的本質(zhì)也是溫度過高的熱擊穿失效。目前對(duì)IGBT芯片失效的研究主要集中在對(duì)引起失效的各種外部因素,如過電壓、過電流、過溫等進(jìn)行分析上,
2023-02-22 15:05:43
19 實(shí)際應(yīng)用中,IGBT常見的兩種失效機(jī)理:
突發(fā)失效:即自發(fā)的,不可預(yù)知的失效
漸變失效:可預(yù)測(cè)的失效,隨著時(shí)間推移慢慢產(chǎn)生,制造商起著決定性的作用
1、突發(fā)失效:應(yīng)用工程師的主要任務(wù)是通過
2023-02-24 15:08:58
2 MOSFET等開關(guān)器件可能會(huì)受各種因素影響而失效。因此,不僅要準(zhǔn)確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件,還要全面考慮電路工作中的各種導(dǎo)致失效的因素。本系列文章將介紹MOSFET常見的失效機(jī)理。
2023-03-20 09:31:07
638 失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:04
1120 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/82/14/wKgaomRAo26Aa2qgAABSDMO5snA688.jpg)
隨著IGBT的耗散功率和開關(guān)頻率不斷增大,以及工作環(huán)境嚴(yán)苛,使得IGBT模塊產(chǎn)生大量的熱量,由于模塊內(nèi)的熱量無(wú)法及時(shí)得到釋放,從而引起模塊內(nèi)部溫度升高。
2023-05-16 11:30:25
513 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/82/CF/wKgZomRi-TqAH1ViAAArpqVTEzw303.png)
IGBT模塊主要由若干混聯(lián)的IGBT芯片構(gòu)成,個(gè)芯片之間通過鋁導(dǎo)線實(shí)現(xiàn)電氣連接。標(biāo)準(zhǔn)的IGBT封裝中,單個(gè)IGBT還會(huì)并有續(xù)流二極管,接著在芯片上方灌以大量的硅凝膠,用塑料殼封裝,IGBT單元堆疊結(jié)構(gòu)如圖1-1所示。
2023-05-30 08:59:52
555 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/88/D6/wKgZomR0gZGANuEgAAA1i9XwrhM228.jpg)
IGBT模塊主要由若干混聯(lián)的IGBT芯片構(gòu)成,個(gè)芯片之間通過鋁導(dǎo)線實(shí)現(xiàn)電氣連接。標(biāo)準(zhǔn)的IGBT封裝中,單個(gè)IGBT還會(huì)并有續(xù)流二極管,接著在芯片上方灌以大量的硅凝膠,用塑料殼封裝。
2023-06-02 09:09:29
586 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/89/1A/wKgZomR5QUGAQi7QAAEIGgDK6u0833.png)
驅(qū)動(dòng)電路的工作頻率(最小脈寬)相對(duì) IGBT 開關(guān)頻率(占空比范圍)不足,或輔助電源平均輸出功率不足,導(dǎo)致的輸出不穩(wěn)定。這個(gè)問題導(dǎo)致的后果是,驅(qū)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生波動(dòng),系統(tǒng)最壞情況出現(xiàn)概率增加。
2023-06-16 10:34:23
734 為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30
315 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/8A/8E/wKgZomSXkk-AOJzrABexeXm6sJQ678.jpg)
本文通過對(duì)典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對(duì)各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15
932 肖特基二極管失效機(jī)理? 肖特基二極管(Schottky Barrier Diode, SBD)作為一種快速開關(guān)元件,在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是,隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08
971 電壓型逆變電路分類解讀 逆變電路可分為哪兩大類 電壓型逆變電路是一種將直流電轉(zhuǎn)化為交流電的電路,是現(xiàn)代電力電子技術(shù)中的重要應(yīng)用之一。根據(jù)不同的控制方式和輸出波形,逆變電路可以分為幾種類型,下面我們
2023-10-16 15:52:16
1169 保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45
267 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/B1/ED/wKgZomVdmuGAPUkQAAMauvvAMKU759.png)
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同,如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ),尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07
724 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/3F/D6/poYBAGJqO-mASPG4AAAes7JY618194.jpg)
評(píng)論