IGBT,中文名字為絕緣柵雙極型晶體管,它是由MOSFET(輸入級(jí))和PNP晶體管(輸出級(jí))復(fù)合而成的一種器件,既有MOSFET器件驅(qū)動(dòng)功率小和開關(guān)速度快的特點(diǎn)(控制和響應(yīng)),又有雙極型器件飽和
2022-07-08 16:50:21
4084 絕緣柵雙極晶體管(IGBT)結(jié)合了GTR和MOSFET的優(yōu)點(diǎn),具有良好的特性。IGBT也是三端器件,具有柵極G、集電極C和發(fā)射極E。
2022-10-28 16:12:42
9922 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/74/EF/pYYBAGNbjmqAAccAAAB7CV-lFiM756.png)
IGBT的開關(guān)過程主要是由柵極電壓VGE控制的,由于柵極和發(fā)射極之間存在著寄生電容艮,因此IGBT的開通與關(guān)斷就相當(dāng)于對(duì)CGE進(jìn)行充電與放電。假設(shè)IGBT初始狀態(tài)為關(guān)斷狀態(tài),即VGE為負(fù)壓VGC-,后級(jí)輸出為阻感性負(fù)載,帶有續(xù)流二極管。
2023-03-15 09:23:39
888 本文就MOSFET的開關(guān)過程進(jìn)行相關(guān)介紹與分析,幫助理解學(xué)習(xí)工作過程中的相關(guān)內(nèi)容。首先簡(jiǎn)單介紹常規(guī)的基于柵極電荷的特性,理解MOSFET的開通和關(guān)斷的過程,然后從漏極導(dǎo)通特性、也就是放大特性曲線,來理解其開通關(guān)斷的過程,以及MOSFET在開關(guān)過程中所處的狀態(tài)。
2023-12-04 16:00:48
549 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/B2/7D/wKgaomVthxSAc-2DAADb7gF3OZM536.jpg)
IGBT在二極管鉗位感性負(fù)載條件下的電路如圖1所示,該電路為IGBT常用電路,可作為IGBT開關(guān)特性的測(cè)試電路,評(píng)估IGBT的開通及關(guān)斷行為。
2024-03-15 10:25:51
194 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C5/5F/wKgaomXzsnGAbIrvAAAqMpYPlPA255.png)
對(duì)IGBT的開通特性、負(fù)載短路能力和dVcE/dt電流有較大影響,而門極負(fù)偏壓則對(duì)關(guān)斷特性的影響比較大。在門極電路的設(shè)計(jì)中,還要注意開通特性、負(fù)載短路能力和由dVcE/dt 電流引起的誤觸發(fā)等
2012-07-25 09:49:08
,暫時(shí)不用考慮,重點(diǎn)考慮動(dòng)態(tài)特性(開關(guān)特性)?! ?b class="flag-6" style="color: red">動(dòng)態(tài)特性的簡(jiǎn)易過程可從下面的表格和圖形中獲?。骸 ?b class="flag-6" style="color: red">IGBT的開通過程 IGBT 在開通過程中,分為幾段時(shí)間 1.與MOSFET類似的開通過程,也是
2011-08-17 09:26:02
降小,耐壓 1000V 的 IGBT 通態(tài)壓降為 2 ~ 3V 。IGBT 處于斷態(tài)時(shí),只有很小的泄漏電流存在。 動(dòng)態(tài)特性 IGBT 在開通過程中,大部分時(shí)間是作為 MOSFET 來運(yùn)行的,只是在漏源
2012-07-09 14:14:57
);2、通過觀察IGBT的柵極波形,評(píng)估IGBT驅(qū)動(dòng)板是否能為IGBT開啟提供足夠的驅(qū)動(dòng)電流;3、獲取IGBT在開通、關(guān)斷過程的主要參數(shù),以評(píng)估Rgon與Rgoff的選擇是否合適;4、觀察開通、關(guān)斷過程
2019-09-11 09:49:33
IGBT封裝過程中有哪些關(guān)鍵點(diǎn)?
2019-08-26 16:20:53
減小由于開關(guān)過程的差異造成的電流不均衡,通過均流電感的合理設(shè)計(jì)可以確保并聯(lián)IGBT的動(dòng)態(tài)均流效果滿足設(shè)計(jì)要求。5)降額使用:即使IGBT模塊的選擇、共用驅(qū)動(dòng)電路和優(yōu)化布局已達(dá)到最優(yōu),但其靜態(tài)和動(dòng)態(tài)性能
2015-03-11 13:18:21
作為Rg,1/3部分作為Re。輔助Re 能夠降低由于功率換流回路雜散電感不對(duì)稱引起的動(dòng)態(tài)電流不平衡。圖7為由輔助Re形成的一個(gè)負(fù)反饋機(jī)制開通過程,其中一個(gè)IGBT開關(guān)速度快,另一個(gè)則相對(duì)較慢,近而在雜散電感
2018-12-03 13:50:08
關(guān)損耗的影響如下 可見,開通損耗受柵極電阻的影響要更大?! ⊥恚聪蚧謴?fù)損耗受開通電阻的影響也可以在規(guī)格書中查到。 寄生電容: IGBT的寄生電容影響動(dòng)態(tài)性能,它是芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的固有特性,把
2021-02-23 16:33:11
二階微分方程: IGBT開通過程的理想波形如圖3所示,開通瞬態(tài)門極電壓尖峰主要發(fā)生在開通延遲階段(圖中未畫出門極電壓尖峰)。 圖3.IGBT開通理想波形這個(gè)時(shí)候IGBT還沒有開通,由于開通瞬態(tài)IGBT
2021-04-26 21:33:10
的可再生能源,而IGBT是光伏系統(tǒng)中主要的功率半導(dǎo)體器件,因此其可靠性對(duì)光伏系統(tǒng)有重要影響。IGBT模塊的熱特性是模塊的重要特性之一,模塊在退化過程中,熱性能變化對(duì)于半導(dǎo)體模塊的整體性
2020-12-10 15:06:03
常見的逆變電路的元件主要分為分立器件的IGBT和集成的IGBT模塊,這些又分為不同電壓等級(jí)和電流大小,那么IGBT的開通時(shí)間和關(guān)斷時(shí)間是否相同,如果不相同,哪個(gè)時(shí)間更長(zhǎng)一些?并且,在設(shè)計(jì)IGBT
2024-02-25 11:06:01
IGBT應(yīng)用于變頻器逆變電路中,存在這么一種情況,IGBT先短路再開通,請(qǐng)問這是一種什么樣的過程?按照字面理解意思就是先把IGBT的C和E短接起來,然后啟動(dòng)變頻器,此時(shí)這種過程就可以稱之為先短路再
2024-02-29 23:08:07
1000V 的IGBT 通態(tài)壓降為2~3V 。IGBT 處于斷態(tài)時(shí),只有很小的泄漏電流存在。2 .動(dòng)態(tài)特性IGBT 在開通過程中,大部分時(shí)間是作為MOSFET 來運(yùn)行的,只是在漏源電壓Uds下降過程后期
2018-10-18 10:53:03
形。 3、逆變橋動(dòng)態(tài)過程分析 1)開通時(shí)刻電流由上管IGBT→電感或者負(fù)載→N線→上母線電容; 2)關(guān)斷時(shí)刻電感進(jìn)行續(xù)流→負(fù)載→N線→下母線電容→下二極管?! ?、IGBT模塊損耗組成部分 IGBT
2023-02-24 16:47:34
IGBT模塊或者單管應(yīng)用于變頻器的制造,在做變頻器的短路實(shí)驗(yàn)時(shí),在IGBT開通時(shí)刻做出短路動(dòng)作,IGBT的CE電壓會(huì)從零逐漸升高到最大之然后回到母線電壓的一半后達(dá)到穩(wěn)定。
但是在具體波形時(shí),IGBT
2024-02-21 20:12:42
(潮光光耦網(wǎng)整理編輯)2012-04-03 變頻器的HCPL-316J特性 HCPL-316J是由Agilent公司生產(chǎn)的一種IGBT門極驅(qū)動(dòng)光耦合器,其內(nèi)部集成集電極發(fā)射極電壓欠飽和檢測(cè)電路
2012-07-06 16:28:56
電路的要求,設(shè)計(jì)一種可靠,穩(wěn)定的IGBT驅(qū)動(dòng)電路。 IGBT驅(qū)動(dòng)電路特性及可靠性分析 門極驅(qū)動(dòng)條件 IGBT的門極驅(qū)動(dòng)條件密切地關(guān)系到他的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性。門極電路的正偏壓uGS、負(fù)偏壓
2012-09-09 12:22:07
的門極驅(qū)動(dòng)條件密切地關(guān)系到他的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性。門極電路的正偏壓uGS、負(fù)偏壓-uGS和門極電阻RG的大小,對(duì)IGBT的通態(tài)電壓、開關(guān)、開關(guān)損耗、承受短路能力及du/dt電流等參數(shù)有不同程度的影響。其中
2009-09-04 11:37:02
MOSFET較小的柵極電阻可以減少開通損耗嗎?柵極電阻的值會(huì)在開通過程中影響與漏極相連的二極管嗎?
2023-05-16 14:33:51
?! ?.2 電壓測(cè)量 IGBT 開通和關(guān)斷過程中電壓的完整觀測(cè)可以直接使用示波器探頭, 但對(duì)于開通時(shí)IGBT 電壓拖尾過程和通態(tài)飽和壓降的測(cè)量, 則需要使用箝位電路( 見圖5) 。原因在于此時(shí)示波器的Y
2018-10-12 17:07:13
晶體管組成的復(fù)合晶體管,它的轉(zhuǎn)移特性與MOSFET十分類似。為了便于理解,這里我們可通過分析MOSFET來理解IGBT的轉(zhuǎn)移特性。圖2.MOSFET截面示意圖當(dāng)MOSFET的柵極-源極電壓VGS=0V
2019-10-17 10:08:57
如圖所示,Pspice仿真mosfet開通過程,通過仿真得到的波形如圖所示(藍(lán)色是Vds,紅色是Vgs,綠色是Id),與課本上給的開通過程有區(qū)別。想請(qǐng)教一下仿真圖中的幾個(gè)問題:為什么電流Id上升
2019-06-04 20:39:14
生產(chǎn)線投入使用;(4)2015年10月,中車永電/上海先進(jìn)聯(lián)合開發(fā)的國(guó)內(nèi)首個(gè)具有完全知識(shí)產(chǎn)權(quán)的6500V高鐵機(jī)車用IGBT芯片通過高鐵系統(tǒng)上車試驗(yàn);(5)2016年5月,華潤(rùn)上華/華虹宏力基于6英寸
2021-03-22 19:45:34
畫出了IGBT一個(gè)橋臂的典型結(jié)構(gòu)。在正常運(yùn)行時(shí),兩個(gè)IGBT將依次開通和關(guān)斷。如果兩個(gè)器件同時(shí)導(dǎo)通,則電流急劇上升,此時(shí)的電流將僅由直流環(huán)路的雜散電感決定。圖1 電壓源逆變器的典型結(jié)構(gòu)當(dāng)然, 沒有誰故意使兩個(gè)
2019-04-23 08:00:00
動(dòng)態(tài)特性是指?jìng)鞲衅鲗?duì)于隨時(shí)間變化的輸入量的響應(yīng)特性。只要輸入量是時(shí)間的函數(shù),則其輸出量必將是時(shí)間的函數(shù)。研究動(dòng)態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)輸入形式有三種,即正弦、階躍和線性,而經(jīng)常使用的是前兩種。
2020-04-29 06:28:27
傳感器在測(cè)量過程中,要能夠準(zhǔn)備感知被測(cè)量,使之不失真地轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電學(xué)信號(hào)。衡量傳感器這一指標(biāo)主要在其靜態(tài)特性和動(dòng)態(tài)特性,下面介紹一下何謂傳感器的靜態(tài)特性和動(dòng)態(tài)特性。靜態(tài)特性 傳感器的靜態(tài)特性是指
2016-04-26 15:33:26
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-11 14:30 編輯
在使用28335調(diào)試的過程中,當(dāng)暫停程序時(shí),出現(xiàn)IGBT開通,使IGBT燒壞,換用IPM,仍然出現(xiàn)此問題,所以應(yīng)該不是驅(qū)動(dòng)
2018-06-11 08:01:47
中的開關(guān)損耗。開關(guān)損耗內(nèi)容將分成二次分別講述開通過程和開通損耗,以及關(guān)斷過程和和關(guān)斷損耗。功率MOSFET及驅(qū)動(dòng)的等效電路圖如圖1所示,RG1為功率MOSFET外部串聯(lián)的柵極電阻,RG2為功率
2017-02-24 15:05:54
,通態(tài)電阻等)-- 截止時(shí)有漏電流;-- 最大的通態(tài)電流有限制;-- 最大的阻斷電壓有限制;-- 控制信號(hào)有功率要求,等等。(3):電子開關(guān)的動(dòng)態(tài)開關(guān)特性有限制:-- 開通有一個(gè)過程,其長(zhǎng)短與控制信號(hào)
2018-10-25 16:11:27
IGBT的門極驅(qū)動(dòng)條件密切地關(guān)系到他的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)特性。門極電路的正偏壓uGS、負(fù)偏壓-uGS和門極電阻RG的大小,對(duì)IGBT的通態(tài)電壓、開關(guān)、開關(guān)損耗、承受短路能力及du/dt電流等參數(shù)有不同程度
2012-06-11 17:24:30
整個(gè)混合開關(guān)的頻率響應(yīng)。實(shí)驗(yàn)樣品該實(shí)驗(yàn)基于溝槽場(chǎng)停止IGBT芯片的樣品,該芯片的額定阻斷電壓高達(dá)1200 V,標(biāo)稱電流高達(dá)200 A,厚度為125μm。通過質(zhì)子輻照改善了IGBT的頻率特性,相關(guān)技術(shù)在
2023-02-22 16:53:33
EMI?! ≡诜治鯩OS管的開通過程,還需要結(jié)合MOS管的轉(zhuǎn)移特性和輸出特性以及實(shí)際的電路進(jìn)行分析?! ∫?2V的驅(qū)動(dòng)電壓,Vth為4.5V,開通Vds電壓為24V的MOS管為例?! ≡趖0~t1階段
2023-03-22 14:52:34
起主導(dǎo)作用,二極管損耗隨著電感的增加而從24.6mJ提高至29.7mJ,增幅為20%。實(shí)驗(yàn)結(jié)果的總動(dòng)態(tài)損耗盡管在開通過程中,dI/dt和寄生電感可降低IGBT的電壓,但在關(guān)斷過程中,它也增大IGBT
2018-12-10 10:07:35
柵極電阻RG對(duì)IGBT開關(guān)特性有什么影響?
2021-06-08 06:56:22
時(shí),為獲得最小導(dǎo)通壓降,應(yīng)選取Ugc≥(1.5~3)Uge(th),當(dāng)Uge增加時(shí),導(dǎo)通時(shí)集射電壓Uce將減小,開通損耗隨之減小,但在負(fù)載短路過程中Uge增加,集電極電流Ic也將隨之增加,使得IGBT
2016-11-28 23:45:03
信號(hào)、脈沖信號(hào)、斜坡信號(hào)、隨機(jī)噪聲信號(hào)及正弦信號(hào)。這是因?yàn)橐恍?fù)雜的信號(hào)可分解為階躍信號(hào)序列、脈沖信號(hào)序列,或用傅里葉變換展開,分解為若干個(gè)正弦信號(hào)之和。測(cè)量系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性可以由時(shí)域過渡過程曲線或
2018-01-24 13:32:47
的過程,然后從漏極導(dǎo)通特性、也就是放大特性曲線,來理解其開通關(guān)斷的過程,以及MOSFET在開關(guān)過程中所處的狀態(tài)。1、MOSFET柵極電荷特性與開關(guān)過程基于柵極電荷的MOSFET的開通過程如圖1所示,此圖
2016-11-29 14:36:06
?我們?cè)賮砜聪?b class="flag-6" style="color: red">IGBT關(guān)斷電阻與關(guān)斷損耗的關(guān)系,通過圖2可以看出IGBT的關(guān)斷電阻對(duì)關(guān)斷損耗的影響甚微。圖2. IGBT關(guān)斷損耗與門極電阻關(guān)系從以上兩張圖片可知,通過門極電阻影響IGBT關(guān)斷特性似乎并不
2023-02-13 16:11:34
MOS管的門極開通電壓典型值為多少伏?那么IGBT的門極開通電壓典型值又為多少伏呢?
2019-08-20 04:35:46
提高了50V,達(dá)到650V。圖1圖1 全新650V IGBT4的截面圖。相對(duì)于600V IGBT3的改進(jìn):芯片厚度增加 (y)、溝道寬度降低(z)、背部P射極能效提高。650V IGBT4動(dòng)態(tài)特性
2018-12-07 10:16:11
安裝過程我們看到,它在安裝過程中發(fā)揮的作用。產(chǎn)品性能,我們應(yīng)用IGBT過程中,開通過程對(duì)IGBT是比較緩和的,關(guān)斷過程中是比較苛刻。大部分損壞是關(guān)斷造成超過額定值。我們看到紅色區(qū)線條件下,關(guān)斷的時(shí)候
2012-09-17 19:22:20
利用試驗(yàn)?zāi)B(tài)分析法獲得了某機(jī)槍結(jié)構(gòu)的模態(tài)參數(shù),分析了機(jī)槍的動(dòng)態(tài)特性,并通過基于模態(tài)試驗(yàn)的靈敏度分析方法,獲得了影響該機(jī)槍動(dòng)態(tài)特性的敏感部位,為改善機(jī)槍動(dòng)態(tài)
2009-10-10 14:29:07
13 本文在分析IGBT的動(dòng)態(tài)開關(guān)特性和過流狀態(tài)下的電氣特性的基礎(chǔ)上,通過對(duì)常規(guī)的IGBT推挽驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行改進(jìn),得到了具有良好過流保護(hù)特性的IGBT驅(qū)動(dòng)電路。該電路簡(jiǎn)單,可靠,易用
2009-10-15 11:12:39
77 實(shí)驗(yàn)七:一階動(dòng)態(tài)電路的動(dòng)態(tài)過程
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?. 觀察一階動(dòng)態(tài)電路的動(dòng)態(tài)過程。6. 確定電路的時(shí)間常數(shù) 。二、實(shí)
2008-09-25 15:32:24
9013 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A4/67/wKgZomUMNAyAcS7mAAAcJlmUypU265.jpg)
傳感器的動(dòng)態(tài)特性
動(dòng)態(tài)特性是指?jìng)鞲衅鲗?duì)于隨時(shí)間變化的輸入量的響應(yīng)特性。只要輸入量是時(shí)間的函數(shù),則其輸出量必將是時(shí)間的函
2009-05-19 08:38:17
2886 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A4/EC/wKgZomUMNjeAB9ojAABSfDq3EeE191.jpg)
控制系統(tǒng)動(dòng)態(tài)特性的時(shí)域測(cè)試
控制系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性是指系統(tǒng)在動(dòng)態(tài)過程(過渡過程)中輸出量對(duì)于輸入量的時(shí)間函數(shù)關(guān)系。由于大多數(shù)控制
2009-07-25 10:53:42
3319 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A5/30/wKgZomUMN02ANTMTAAA7Dx-RLHo309.jpg)
IGBT開關(guān)等效電路和開通波形電路
2010-02-17 17:22:57
2966 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A5/77/wKgZomUMOJGAdiNZAACUTcc-7LA235.gif)
IGBT的原理和基本特性
IGBT的原理
絕緣柵雙極晶體
2010-03-05 15:53:45
10640 IGBT的靜態(tài)特性包括伏安特性、轉(zhuǎn)移特性和靜態(tài)開關(guān)特性。IGBT的伏安特性如圖1-33所示,與GTR的伏安特性基本相似,
2010-11-09 17:04:58
2159 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A5/C4/wKgZomUMOgCACiQKAAEetqsep58303.jpg)
在核動(dòng)力蒸汽發(fā)生器(SG)運(yùn)行過程中,其逆動(dòng)力學(xué)效應(yīng)使其動(dòng)態(tài)特性難以辨識(shí)。為提高蒸汽發(fā)生器動(dòng)態(tài)特性辨識(shí)的效果,提出了基于小波神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的蒸汽發(fā)生器動(dòng)態(tài)過程辨識(shí)的新方法。辨
2011-09-28 14:01:44
12 串聯(lián)晶閘管在大脈沖電流下的開通過程研究_王晨
2017-01-07 17:16:23
1 并聯(lián)IGBT模塊靜動(dòng)態(tài)均流方法研究_肖雅偉
2017-01-08 10:11:41
5 會(huì)減低;MOS就是MOSFET的簡(jiǎn)稱了;IGBT和MOS是全控器件,是電壓型驅(qū)動(dòng),即通過控制柵極電壓來開通或關(guān)斷器件;可控硅是半控器件,電流型驅(qū)動(dòng),即給柵極通一定的電流,可以是可控硅開通,但是一旦開通
2017-05-14 10:09:42
53166 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A6/BF/wKgZomUMQByAPL_MAAAFZks6eD0448.jpg)
在正常情況下IGBT的開通速度越快,損耗越小。但在開通過程中如有續(xù)流二極管的反向恢復(fù)電流和吸收電容的放電電流,則開通的越快,IGBT承受的峰值電流越大,越容易導(dǎo)致IGBT損壞。因此應(yīng)該降低柵極驅(qū)動(dòng)
2017-05-17 14:18:33
2996 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A6/C0/wKgZomUMQCGAL3TPAAAioiEuDkU620.png)
特性,嚴(yán)重制約了其推廣應(yīng)用。從壓接式IGBT的封裝結(jié)構(gòu)和電氣特性出發(fā),基于雙脈沖測(cè)試原理,設(shè)計(jì)并搭建壓接式IGBT模塊的動(dòng)態(tài)開關(guān)特性測(cè)試平臺(tái)。采用Ansoft Q3D軟件對(duì)測(cè)試平臺(tái)的雜散參數(shù)進(jìn)行仿真,分析雜散參數(shù)的分布特征、影響與提取方法,
2017-12-26 14:16:01
3 對(duì)于壓接式IGBT器件,封裝結(jié)構(gòu)引起的寄生參數(shù)不一致將導(dǎo)致開通瞬態(tài)過程中并聯(lián)IGBT芯片的電流分布不一致,使部分芯片在開關(guān)瞬態(tài)過程中的電流過沖太大,從而降低了開通性能。采用寄生參數(shù)提取、電路建模
2018-01-07 11:04:08
7 IGBT作為具有開關(guān)速度快,導(dǎo)通損耗低的電壓控制型開關(guān)器件被廣泛應(yīng)用于高壓大容量變頻器和直流輸電等領(lǐng)域。現(xiàn)在IGBT的使用比較關(guān)注的是較低的導(dǎo)通壓降以及低的開關(guān)損耗。作為開關(guān)器件,研究它的開通和關(guān)斷過程當(dāng)然是必不可少的,今天我們就來說說IGBT的開通過程。
2019-01-01 15:04:00
48899 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/7F/0A/pIYBAFwbP8aAPfRnAAAWvU2kDMI681.png)
IGBT的驅(qū)動(dòng)條件與IGBT的特性密切相關(guān)。在設(shè)計(jì)柵極驅(qū)動(dòng)電路時(shí),當(dāng)柵極驅(qū)動(dòng)電壓大于閾值電壓時(shí)IGBT即可開通,一般情況下閾值電壓Uge(th)=5~6V。這樣即可以使IGBT在開通時(shí)完全飽和
2019-07-26 09:46:25
16179 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/9E/CB/pIYBAF06W_GAGdIQAAAQMTZ-DiQ498.jpg)
動(dòng)態(tài)工作指電力電子器件的開通和關(guān)斷過程。IGBT的開關(guān)頻率越高,動(dòng)態(tài)均流問題對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的影響就越大。
2020-05-02 17:21:00
10468 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/B9/BE/o4YBAF6QOciAS-mDAAAzER1aJp0342.jpg)
IGBT器件T1通過雙脈沖信號(hào)兩次開通和關(guān)斷。換流的變化率di/dt導(dǎo)通過電阻RGon來調(diào)節(jié)的,VCC是直流母線電壓。
2020-05-02 17:51:00
3613 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/B9/BF/o4YBAF6QQKiAMnqUAABD6URSeMU576.jpg)
IGBT工作中的特性: IGBT 的靜態(tài)特性, 靜態(tài)數(shù)據(jù)特性關(guān)鍵有光電流特性、遷移特性和電源開關(guān)特性。 (1)光電流特性: IGBT 的光電流特性就是指以柵源電壓Ugs 為參變量時(shí),漏極電流與柵極
2020-12-15 16:10:31
5907 ,后級(jí)輸出為阻感性負(fù)載,帶有續(xù)流二極管。 由于寄生參數(shù)以及負(fù)載特性的影響,IGBT的實(shí)際開通與關(guān)斷過程比較復(fù)雜,如圖1為IGBT的開通關(guān)斷過程示意圖,圖中柵極驅(qū)動(dòng)波形較為理想化,集電極電流以及集電極-發(fā)射極電壓的波形大致上是實(shí)際波形,只有細(xì)節(jié)被理想化。
2021-02-19 09:31:12
15196 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/DF/32/pIYBAGAvFYqAeMKJAABjwodtoO0779.png)
電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供功率MOSFET的開通過程和開通損耗資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-04 08:55:50
57 在IGBT開關(guān)過程中通常用開通延遲td(on)、關(guān)斷延遲td(off)、上升時(shí)間tr和下降時(shí)間tf來進(jìn)行描述。
2021-05-06 10:06:01
6718 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/ED/84/o4YBAGCTT1eAEaOyAABslvWlY2I480.png)
這個(gè)時(shí)候IGBT還沒有開通,由于開通瞬態(tài)IGBT輸入電容相當(dāng)于短路,因此門極電流Ig快速上升至峰值電流,隨后門極電容會(huì)逐漸被充電至開啟閾值電壓Vge,th,米勒平臺(tái)Vgep,最后到Vcc,門極電流也逐漸減小至0。
2022-04-26 15:14:32
6085 如圖,MOS管內(nèi)部有寄生電容Cgs,Cgd,Cds。因?yàn)榧纳娙莸拇嬖?,所以給柵極電壓的過程就是給電容充電的過程。
2022-08-25 09:47:26
5204 IGBT的開關(guān)過程主要是由柵極電壓VGE控制的,由于柵極和發(fā)射極之間存在著寄生電容艮,因此IGBT的開通與關(guān)斷就相當(dāng)于對(duì)CGE進(jìn)行充電與放電。假設(shè)IGBT初始狀態(tài)為關(guān)斷狀態(tài),即VGE為負(fù)壓VGC-,后級(jí)輸出為阻感性負(fù)載,帶有續(xù)流二極管。
2023-01-10 09:05:47
1975 在現(xiàn)在使用的MOS和IGBT等開關(guān)電源應(yīng)用中,所需要面對(duì)一個(gè)常見的問題 — 米勒效應(yīng),本文將主要介紹MOS管在開通過程中米勒效應(yīng)的成因、表現(xiàn)、危害及應(yīng)對(duì)方法。
2023-02-10 14:05:50
6736 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/90/49/pYYBAGPl3myASMt0AAMleI_5eIQ590.png)
上一篇,我們寫了基于感性負(fù)載下,IGBT的開通過程,今天,我們就IGBT的關(guān)斷過程進(jìn)行一個(gè)敘述。對(duì)于IGBT關(guān)斷的可以基于很對(duì)方面進(jìn)行分析,而今
天我們從電壓電流對(duì)IGBT的關(guān)斷過程進(jìn)行分析。
2023-02-22 15:21:33
9 (一)IGBT雙脈沖測(cè)試的意義 對(duì)比不同IGBT的參數(shù)及性能; 獲取IGBT開通和關(guān)斷過程的參數(shù); 評(píng)估驅(qū)動(dòng)電阻是否合適; 開通和關(guān)斷過程是否有不合適的震蕩; 評(píng)估二極管的反向恢復(fù)行為和安全
2023-02-22 15:07:15
11 ,即VGE為負(fù)壓VGC-,后級(jí)輸出為阻感性負(fù)載,帶有續(xù)流二極管。 由于寄生參數(shù)以及負(fù)載特性的影響,IGBT的實(shí)際開通與關(guān)斷過程比較復(fù)雜,如圖1為IGBT的開通關(guān)斷過程示意圖,圖中柵極驅(qū)動(dòng)波形較為理想化,集
2023-02-22 15:08:43
1 2.1 短路類型 2.2 橋臂直通短路在進(jìn)行IGBT短路實(shí)驗(yàn)的過程中,我們通常使用“退飽和電路”進(jìn)行器件的短路保護(hù)。那么退飽和電路的實(shí)現(xiàn)機(jī)理是什么樣的?另外,短路負(fù)載對(duì)短路特性有什么樣的影響呢?本文主
2023-02-22 15:14:44
6 與母線電壓相減使IGBT模塊電壓下降,因此不需要為開通過程增加吸收電容),而合理地增加吸收電容可以解決該問題。
2023-02-23 09:11:12
16 ? ▌ 01動(dòng)態(tài)特性 ??近期,關(guān)于用于全國(guó)大學(xué)生智能車節(jié)能信標(biāo)組的100W無線充電系統(tǒng)正在測(cè)試。使用MOS半橋作為發(fā)送線圈的功率驅(qū)動(dòng)電路。由于半橋電路中MOS管的功率消耗主要發(fā)生在開關(guān)管的動(dòng)態(tài)切換過程
2023-02-24 10:22:11
1 一開始我們簡(jiǎn)單介紹過IGBT的基本結(jié)構(gòu)和工作原理,不同的行業(yè)對(duì)使用IGBT時(shí),對(duì)于其深入的程度可能不一樣,但是作為一個(gè)開關(guān)器件,開通和關(guān)斷的過程
2023-05-25 17:16:25
1262 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/88/B1/wKgaomRvJzqAFPfjAADguhJb5WE868.jpg)
8.2.12.1開通過程,0
2022-03-08 09:22:21
234 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/18/F6/pYYBAGFyVuSAMzSMAAFjwzg_URo256.png)
IGBT的開關(guān)特性是通過對(duì)門極電容進(jìn)行充放電來控制的,實(shí)際應(yīng)用中經(jīng)常使用+15V的正電壓對(duì)IGBT進(jìn)行開通,再由-5V…-8V…-15V的負(fù)電壓進(jìn)行關(guān)斷。
2023-07-04 14:54:05
1699 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/8B/FB/wKgZomSjwa6AcfJeAAAJeBu_2oc996.jpg)
采用TCAD器件仿真和工藝仿真軟件對(duì)芯片進(jìn)行結(jié)構(gòu)仿真、特性仿真、電場(chǎng)分布仿真和工藝仿真。
2023-07-13 10:31:54
869 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/8C/A1/wKgaomSvYbSAY9b-AABQxGJhf3E204.jpg)
重要意義。為了全面獲得電-熱-力綜合影響下壓接型 IGBT 芯片的動(dòng)態(tài)特性,該文結(jié)合雙脈沖測(cè)試
電路原理,研制出具備電-熱-力靈活調(diào)節(jié)的壓接型 IGBT 芯片動(dòng)態(tài)特性實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。通過對(duì)動(dòng)態(tài)特性
實(shí)驗(yàn)平臺(tái)關(guān)鍵問題進(jìn)行有限元仿真計(jì)算,實(shí)現(xiàn)平臺(tái)回路寄生電感、IGBT 芯片表面壓力分布
2023-08-08 09:58:28
0 IGBT是如今被廣泛應(yīng)用的一款新型復(fù)合電子器件,而IGBT測(cè)試也變的尤為重要,其中動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是IGBT模塊測(cè)試一項(xiàng)重要內(nèi)容,IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是評(píng)估IGBT模塊開關(guān)性能的重要依據(jù)。其動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有:主要參數(shù)有開關(guān)參數(shù)、柵極電阻、柵極電荷、寄生電容等。
2023-10-09 15:14:35
644 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A9/2A/wKgZomUjp36AQFZtAAD4pF67R4A742.png)
對(duì)比不同IGBT的參數(shù)及性能;
獲取IGBT開通和關(guān)斷過程的參數(shù);
評(píng)估驅(qū)動(dòng)電阻是否合適;
開通和關(guān)斷過程是否有不合適的震蕩;
2023-11-10 09:12:32
786 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/AF/2F/wKgZomVNg_SALBYVAAAgnLbgVtM232.png)
和性能,動(dòng)態(tài)測(cè)試是必不可少的。下面將詳細(xì)介紹IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試的參數(shù)。 1. 開通特性測(cè)試(Turn-on Characteristics Test): 開通特性測(cè)試是通過控制IGBT的輸入信號(hào),來檢測(cè)
2023-11-10 15:33:51
885 MOS管開通過程的米勒效應(yīng)及應(yīng)對(duì)措施
2023-11-27 17:52:43
1378 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/B1/DA/wKgZomVdfpCAJT39AALYaQHH35g271.png)
IGBT元件的損耗總和分為:通態(tài)損耗與開關(guān)損耗。開關(guān)損耗分別為開通損耗(EON)和關(guān)斷損耗(EOFF)之和。
2024-01-12 09:07:17
1028 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/BC/33/wKgZomWgkWOAJ-u8AAAtKhgRxd8373.png)
IGBT開通過程發(fā)生的過流、短路故障 IGBT是一種三端功率半導(dǎo)體器件,常用于電力電子領(lǐng)域。它具有開關(guān)速度快、工作溫度范圍廣、損耗小等優(yōu)點(diǎn),因此在各種電源、驅(qū)動(dòng)、變換和控制系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用。 然而
2024-02-18 11:14:33
309 ,以及普通功率MOSFET的低導(dǎo)通電阻和高頻開關(guān)能力。IGBT因其獨(dú)特的特性在電力電子、變頻器、UPS(不間斷電源)等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。 然而,由于IGBT技術(shù)本身的復(fù)雜性和高頻、高溫環(huán)境等外部因素的影響,IGBT導(dǎo)通過程中容易出現(xiàn)過流和短路故障,給
2024-02-18 11:14:37
247 的重要指標(biāo),直接影響著設(shè)備的工作效率和可靠性。 開通時(shí)間 開通時(shí)間是指從驅(qū)動(dòng)信號(hào)施加到IGBT導(dǎo)通的時(shí)間。在開通過程中,當(dāng)控制極(門極)施加一個(gè)適當(dāng)?shù)恼妷簳r(shí),控制電流通過絕緣柵而在MOS層形成電子-空穴對(duì)。電子從N型區(qū)向P型區(qū)注入,并
2024-02-20 11:19:16
280
評(píng)論