作者：泰克科技 使用長電纜或電容夾頭的測試設置會增加測試儀器輸出的電容，導致測量結果不準確或不穩(wěn)定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時，能觀察到這種效應。為了應對這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時
2020-02-17 09:27:57
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NI推出新的PXI SMU系列產品，適用于自動化半導體測試。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取樣率為600，000，具有4個通道，堪稱通道密度最高的SMU，非常適合多針腳半導體待測裝置的平行測試，并且
2012-09-14 10:46:231646 的容性觸摸屏技術方便直觀使用。此技術能讓學習曲線短并讓工程師和科學家更輕松地創(chuàng)造、更聰明地工作而且更快速地學習。2450是一款適合所有人的通用SMU，特別適于分析當今現(xiàn)代縮微半導體、納米器件和材料、有機
2020-05-30 15:21:58
本文旨在對4G LTE和LTE-Advanced設備在制造和測試過程中會遇到的一些挑戰(zhàn)進行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術方面的，也有經(jīng)濟方面的。了解哪些缺陷需要檢測有助于我們在實際的生產環(huán)境中采用更好的測試
2019-07-18 06:22:43
`寬帶5G設備的五大測試挑戰(zhàn)寬帶5G設備的設計工程師和測試工程師亟需快速、準確且經(jīng)濟高效的測試解決方案來確保新型芯片設計的可靠性。了解寬帶5G IC測試的最大測試挑戰(zhàn)及其解決方案。1.波形變得更寬且
2019-08-16 14:03:51
的早期進行預一致性測試。待機功率測量挑戰(zhàn)查看隨時間記錄的電源輸入側低待機功率的示例（圖 1），可以立即看出功率非常失真、峰值和不規(guī)則。它也非常低。例如，如果您在歐洲使用 230 V 輸入測量 10
2022-08-23 08:00:00
檢測設置比較，例如，計數(shù)值為50表示傳感器接觸；而計數(shù)值小于50可能表示沒有接觸。在本例中，當用戶接觸傳感器時，測量的準確性和精度與參考時鐘的頻率有關，并與在寬廣的容性傳感器數(shù)值范圍上電流源的可重復性
2019-05-06 09:18:18
南京容向測試設備有限公司，專注于EMC測試。在南京有實驗室基地，實驗室測試范圍廣泛。覆蓋軍標、汽車電子、家電、工業(yè)、醫(yī)療、信息技術、照明等各個行業(yè)。有專業(yè)的工程師優(yōu)質完成測試。歡迎有測試需求的企業(yè)來我司測試認證。我們會竭誠為您服務。
2013-08-01 16:58:08
新型序列式測試儀器測試技術指南吉時利測試技術指南-適合電子制造商使用的，測試成本更低的新型序列式測試儀器目前，生產線所用的ATE系統(tǒng)可分為大容量、高成本、大機柜式的測試系統(tǒng)；采用PC控制的基于慢速
2009-11-04 10:00:03
高速串行總線的特點是什么？測試高速串行總線面臨哪些挑戰(zhàn)？如何應對這些測試挑戰(zhàn)？
2021-05-10 07:00:10
小弟正在測試開關電源的容性負載，不是很明白，為何AC在90V輸入時容性負載為2000uF；而AC輸入110V時容性負載為3000uF?還請大神指教!
2013-09-10 09:03:34
的略有差別，但量級大體相當，詳細的測試筆記見附件，測試程序為idle_profile_nonos對程序稍加修改就可以測試CC3200的功耗，簡單總結如下：
模式條件電流消耗測試圖DatasheetM4
2018-05-14 06:47:52
大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點。嵌入式邏輯分析工具無法滿足通用性要求，外部測試工具可以把FPGA內部信號與實際電路聯(lián)合起來觀察系統(tǒng)真實運行情況。隨著FPGA技術的發(fā)展，大容量、高速
2019-08-07 07:50:15
本文討論 IC制造商用于克服精度挑戰(zhàn)的一些技術，并讓讀者更好地理解封裝前和封裝后用于獲得最佳性能的各種方法，甚至是使用最小體積的封裝。
2021-04-06 07:49:54
，基于靜態(tài)電流(IDDQ)的測試方法被廣泛使用。然而，隨著深亞微米技術時代的到來，總的靜態(tài)漏電流急劇增加，IDDQ測試技術受到嚴峻挑戰(zhàn)，因此，需要尋找新的測試技術，而瞬態(tài)電流測試技術提供一個很好的替代或補充。這種測試方法能夠檢測傳統(tǒng)測試和IDDQ測試所不能檢測的缺陷。
2019-09-18 07:31:31
IIC總線調試筆記 1、信號表示起始信號，在時鐘線（SCL）為高的時候，數(shù)據(jù)線（SDA）產生一個下降沿即為起始信號。圖1 起始信號如圖，即產生了一個起始信號?？偩€空閑時數(shù)據(jù)線和時鐘線都為高。 數(shù)據(jù)
2015-12-16 23:12:30
IPv6過渡測試挑戰(zhàn)技術論文
2019-09-10 15:18:16
MIMO技術的無線區(qū)域網(wǎng)路生產測試新挑戰(zhàn)是什么？
2021-05-13 06:22:13
回路中已經(jīng)有24V的恒壓源跟負載（最大電流在2A左右），我想精確調控回路中的電流。所以想將NI的SMU板卡作為恒流源串進回路中，舉例人機交互界面控制SMU輸出個0.5A的電流。不知道方案有沒有可行性，在線等。
2016-06-07 16:54:20
削弱以至于消失，電路和系統(tǒng)的可測試性急劇下降，測試成本在電路和系統(tǒng)總成本中所占的比例不斷上升，常規(guī)測試方法正面臨著日趨嚴重的測試困難。PCB可測試性設計技術要概述在電路的邏輯設計完成后，通常是以手工
2018-09-19 16:17:24
之前發(fā)到論壇的PSFB調試筆記和問題石沉大海了目前自己調試得到了相對好些的波形，我把調試筆記傳上來，定期更新，感興趣的我們一起討論這是目前相對好些的波形調試筆記：下面的文章 在我的個人微信公眾號里也有的歡迎關注
2019-07-25 06:50:06
本文討論的是 RFID 通信系統(tǒng)的設計師所面對的測試挑戰(zhàn)：監(jiān)管測試、標準一致性和優(yōu)化。
2021-04-09 06:49:58
S32K14x系列MCU時鐘調試筆記
2021-11-26 07:40:49
SoC測試技術傳統(tǒng)的測試方法和流程面臨的挑戰(zhàn)是什么？SoC測試技術一體化測試流程是怎樣的？基于光子探測的SoC測試技術是什么？有什么目的？
2021-04-15 06:16:53
制造工藝，穩(wěn)定控制產品的各種參數(shù)，具有漏電電流小， 擊穿電壓穩(wěn)定，良率高，鉗位電壓低，電容有低容，普容和高容；做回掃型ESD產品性能更優(yōu)，CSP晶圓級封裝可以提高產品性能。接下來我們來分享常規(guī)ESD
2020-07-30 14:40:36
為了滿足USB2.0一致性應用的需求，所有的USB2.0設計都必須滿足USB IF發(fā)布的USB2.0物理層一致性測試要求。相對于比較成熟的PC平臺USB2.0 主機測試技術而言，基于通信類終端
2019-08-26 08:13:03
USB3.0物理層一致性測試挑戰(zhàn)是什么？如何進行通道去嵌？
2021-05-08 07:27:01
`10 Gbps USB 3.1技術規(guī)范通過更有效的數(shù)據(jù)編碼方案，能夠提供比現(xiàn)有5 Gbps USB3.0要高出兩倍多的實際數(shù)據(jù)速率。同時新的標準引入了正反可插的Type-C接口，這種數(shù)據(jù)速率的提高和新的接口給物理層的測試帶來了更嚴峻的挑戰(zhàn)。本文檔深入討論電纜連接器的一致性測試挑戰(zhàn)。`
2015-06-03 15:15:01
dft可測試性設計，前言可測試性設計方法之一：掃描設計方法可測試性設計方法之二：標準IEEE測試訪問方法可測試性設計方法之三：邏輯內建自測試可測試性設計方法之四：通過MBIST測試寄存器總結...
2021-07-22 09:10:42
1）pH測試筆的保養(yǎng)及注意事項此測試筆出廠時，已校準，可直接使用，下列情況須重新校準： 校準后已使用（或放置）很長時間； 電極使用特別頻繁； 測量精度要求比較高； 做校正時，勿重復使用校正
2018-03-22 09:52:11
通常使用的邏輯測試筆是由TTL電路或CMOS電路構成。這里介紹一種更為簡單的邏輯電平測試筆，電路如下圖所示。下圖中P點、N點分別接到集成電路電源的正負端上，T點為測試筆的探針。
2021-04-21 06:37:51
首要關注的焦點。這是特別現(xiàn)實的問題，因為LTE代表了無線接入技術的一個重大變化，其實現(xiàn)和部署都是一個巨大的挑戰(zhàn)。從器件到基站到終端用戶服務，整個LTE設備供應鏈對測試的需求非常大。從GSM/UMTS自然
2019-06-03 07:06:26
同步源和測量電壓/電流以提高研發(fā)到自動生產測試等應用的生產率。除保留了2601A的全部產品特點外，2601B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植**測試代碼的2400源表SMU軟件指令
2021-11-04 10:17:26
對使用新型測試技術和儀器的幾點忠告
2021-04-09 06:06:41
使用空中鼠標系統(tǒng)面臨哪些挑戰(zhàn)？如何去克服這些挑戰(zhàn)？
2021-05-10 07:26:42
2612B方案二：線性電源+8位半吉時利萬用表2002方案三：線性電源+吉時利皮安表6400系列方案一：雙通道源表實現(xiàn)電源供電和低電流信號采集 KeithleySMU2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界
2020-03-04 14:13:35
登場。在這些日新月異的技術革新背后，怎樣簡化從設計到產品量產驗證測試環(huán)節(jié)，并且確保這些產品在實際應用時始終都能正常工作呢？答案將在LitePoint 5月系列研討會中為您揭曉。 在此次研討會中，除了
2019-04-22 13:43:31
如何克服ACS測試系統(tǒng)和SMU的可靠性測試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
如何DigRF技術進行測試？DigRF技術生產測試的挑戰(zhàn)有哪些？
2021-04-15 06:05:31
如何去實現(xiàn)并行SMU-per-pin ACS集成測試系統(tǒng)？
2021-05-07 06:05:38
TD-LTE、FDD-LTE和LTE-Advanced(LTE-A)無線技術使用了幾種不同的多種輸入多路輸出(MIMO)技術。鑒于MIMO系統(tǒng)的復雜性正在日益提高，因此相關的測試方法也將更具挑戰(zhàn)性。那么，如何選擇LTE系統(tǒng)測試方法，存在哪些挑戰(zhàn)？
2019-02-28 11:18:42
，并且使用環(huán)境相對極端，為保證較長的使用壽命，相比3C電池在一致性上要求高的多，因此電池在分容中要求的電流精度較高，目前按照市場要求，保持0.02%的要求是電池測試設備生產商面臨的設計挑戰(zhàn)，為了爭取更高
2022-11-07 08:08:07
，并且使用環(huán)境相對極端，為保證較長的使用壽命，相比3C電池在一致性上要求高的多，因此電池在分容中要求的電流精度較高，目前按照市場要求，保持0.02%的要求是電池測試設備生產商面臨的設計挑戰(zhàn)，為了爭取更高
2022-11-07 06:30:41
對使用新型測試技術和儀器的幾點忠告隨著半導體制造商向65納米技術轉移并展望更小節(jié)點，嚴峻的測試挑戰(zhàn)也開始浮出水面?，F(xiàn)在，工藝開發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構成的良性世界，而將
2011-09-06 15:51:36
小白求助，求ADS1118的調試筆記
2021-11-18 07:31:05
家里有幾十個筆記本電池不知道買些什么工具 軟件來測試好壞 求大神們指點
2016-06-20 17:22:38
）WLAN標準（如802.11g）的期待。伴隨新的效能要求而來的是，所使用的生產測試系統(tǒng)必須克服新的挑戰(zhàn)，才能確保產品符合品質及效能要求的目標。而最值得關注的一點，則是有無可能在發(fā)射器和接收器的數(shù)目變成兩倍、三倍、甚至四倍，而且規(guī)格要求更嚴格的情形下，依然把測試成本控制在802.11a/g系統(tǒng)的水準？
2019-08-08 07:29:54
之一的毫米波技術已成為目前標準組織及產業(yè)鏈各方研究和討論的重點，毫米波將會給未來5G終端的實現(xiàn)帶來諸多的技術挑戰(zhàn)，同時毫米波終端的測試方案也將不同于目前的終端。本文將對毫米波頻譜劃分近況，毫米波終端技術實現(xiàn)挑戰(zhàn)及測試方案進行介紹及分析。
2021-01-08 07:49:38
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:58 編輯
求硬件測試筆試題，最好帶答案，謝謝了。
2013-01-04 08:41:08
過去，汽車電子系統(tǒng)很少采用容性傳感器，因為它們被認為難以控制、難以讀出、容易老化且易受溫度影響。另一方面，容性傳感器具有制造成本適中、外形尺寸簡單和功耗低等有吸引力的特性，這就為它們的使用提供了動力。隨著新型測量技術的出現(xiàn)，汽車中容性傳感器的使用數(shù)量急劇增加。
2020-03-19 07:56:42
能：數(shù)字萬用表 (DMM)、電源、實際電流源、電子負載、脈沖發(fā)生器。在緊湊型外形中的一臺緊閉同步儀器集成上述所有儀器。 即使具有多種功能，SMU 的精度并未受到影響。 事實上，由于測量儀器具有通用性
2020-02-12 11:38:19
電源調試筆記 – 二階補償系統(tǒng)仿真R2=12K 這里是筆誤
2021-12-31 08:00:28
。由于AC測試不會給容性負載充電，從開始施加電壓到測試結束電流讀數(shù)保持一致。因此，由于不存在監(jiān)視電流讀數(shù)所要求的穩(wěn)定化問題，也就不需要逐漸升高電壓。這意味著，除非被測產品感應到突然施加的電壓，操作員可以
2015-08-31 18:58:04
(CMRR)、電源抑制比 (PSSR) 和放大器開環(huán)增益 (Aol)。本文我們將探討輸入偏置電流的兩種測試方法。選擇哪種方法要取決于偏置電流的量級。我們將介紹器件測試過程中需要考慮的各種誤差源。本系列
2018-09-07 11:04:42
很多技術大咖將深入探討和展示當下最具創(chuàng)新性的測試技術，幫助企業(yè)搶占5G先機，從容應對無線測試技術所帶來的挑戰(zhàn)！熱門議題：*5GmmWave OTA測試*5GmmWave 波束成形測試*802.11ax
2018-11-16 11:39:12
隨著智能無線設備和電動汽車的快速發(fā)展，鋰電池的市場需求越來越廣，生產制造效率也越來越高，由于節(jié)能減排的需要，鋰電池化成也正大量采用能量回饋的形式，實現(xiàn)節(jié)能環(huán)保。想知道如何更準確地進行化成分容測試
2019-07-19 08:43:39
阿南的ARM入門調試筆記 第一章 開發(fā)工具與調試環(huán)境第二章 我的第一個實驗第三章 點亮我的LED第四章 鍵盤輸入第五章 模擬量輸入第六章 RS232串口通信第七章 串口DMA控制實驗第八章 中斷控制
2014-03-19 14:36:39
TensION電壓測試筆適用AC & DC靜電消除器及靜電產生設備的檢測使用、非接觸感應亮燈顯示模式、操作非常安全和便捷。操作時無需接觸到靜電設備的發(fā)射極(離子針)，只要依據(jù)不同設備的工作電壓測量
2021-12-22 17:55:38
妙用邏輯電平測試筆電路及制作
2009-04-14 10:24:01
7 相序測試筆電路及制作
2009-04-14 10:28:383 迷你邏輯型測試筆電路及制作
2009-04-14 10:48:388 SimcoionTensION靜電測試筆TensION靜電測試筆TensION靜電測試筆，用來檢測交流及直流靜電消除及靜電產生產品是否有效工作。無需與實際設備接觸，提供了一種安全簡便
2022-10-12 15:06:06
具有存貯功能的邏輯測試筆電路圖
2009-04-07 09:15:28623 
簡易邏輯測試筆電路圖
2009-05-19 13:35:562543 
數(shù)字邏輯測試筆電路圖
2009-05-19 13:44:05960 
發(fā)射功率測試筆的制作
本人從1981年就從事無線電通信的維修工作。根據(jù)二十多年來的工作實踐，自制了一些檢測工具，其中有一種行之有效的手持
2009-12-27 16:38:011267 
泰克專家支招 解決測試挑戰(zhàn)以克服LED照明應用瓶頸
近日，第二屆亞太LED技術論壇峰會在深圳和寧波相繼舉辦。深圳和華南地區(qū)在中國LED照明產業(yè)的重要位置自然
2010-04-12 09:45:18386 為了克服以上LTE測試挑戰(zhàn)，安捷倫提出了一個完整的LTE測試解決方案，為研發(fā)型和生產性的終端廠家提供了兩套方案。
2012-04-09 11:27:56780 
邏輯測試筆原理圖都是值得參考的設計。
2016-05-11 17:00:4713 阿南《AT91SAM7S64調試筆記》
2017-01-08 14:27:4923 pH測試筆的保養(yǎng)及注意事項 此測試筆出廠時，已校準，可直接使用，下列情況須重新校準： 校準后已使用（或放置）很長時間； 電極使用特別頻繁； 測量精度要求比較高； 做校正時，勿重復使用校正緩沖液
2017-09-25 10:04:102 ARM入門調試筆記
2017-10-13 14:26:1211 基于KUN-TC35調試筆記
2017-10-16 08:19:5013 針對快速增長的3D傳感市場，美國泰克公司（Tektronix）將四條20瓦SMU通道封裝在每個1U尺寸的機架槽上以實現(xiàn)存儲機架最大化。
2018-05-29 15:03:033925 本邏輯測試筆．僅用一塊NE555時基集成塊和外圍少量的元件組成。這種測試筆可用于對數(shù)字電路中的高低信號電平和脈沖信號的有無進行判別。
2019-10-13 10:32:007120 
Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀模塊為擁有高測試連接電容、不穩(wěn)定低電流測量的應用提供了理想的解決方案。
2019-11-13 09:33:421315 扭力試驗機PS-2205S測試筆記本轉軸單體扭矩：筆記本轉軸的可靠性直接關乎筆記本的質量，日常開合，轉軸扭力保持，耐過壓，壽命等等都是筆記本成本綜合測試中極其重要的一項，使用扭力試驗機
2020-03-16 16:17:161805 本文探討了4201-SMU和4211-SMU可以進行穩(wěn)定的弱電流測量的多種應用實例，包括測試：平板顯示器上的OLED像素器件、長電纜MOSFET傳遞特點、通過開關矩陣連接的FET、卡盤上的納米FET I-V測量、電容器泄漏測量。
2019-12-09 15:03:391737 
源測量單元（SMU）是一種可以提供電流或電壓，并測量電流和電壓的儀器。SMU用來對各種器件和材料進行I-V表征，是為測量非常靈敏的弱電流，同時提供或掃描DC電壓而設計的。但是，在擁有長電纜或其他高電容測試連接的測試系統(tǒng)中，某些SMU可能不能在輸出上容忍這樣的電容，從而產生有噪聲的讀數(shù)和/或振蕩。
2020-10-09 09:39:231390 我們每天購買和使用的產品比幾年前復雜得多。物聯(lián)網(wǎng)、技術融合、語音控制以及更多的趨勢正在推動設備功能越來越強，隨之而來的是測試團隊的壓力越來越大。 上一次您遇到一個簡單的測試范圍要求是什么時候？不包含
2020-10-30 03:18:54135 ，泰克將推出一系列關于光通信測試的技術文章，本篇為第一講，為您講解關于無源器件的 PD 暗電流測試問題。本文作者是來自泰克代理商“柯泰測試”的一位工程師朋友段工，他偶然聽見幾個搞光電的小伙伴在掰扯 PD 暗電流以及如何測試的問題，正好想
2020-10-30 04:00:12748 一些問題待解決。本文從測試工程師的角度來討論這些挑戰(zhàn)。不過在討論用戶端設備（UE）設計和測試的技術挑戰(zhàn)之前，先從更廣闊的視野來看看一些潛在問題。
2021-06-24 17:28:232103 我們的新型電流鉗表CP系列基于霍爾效應，這些新型的電流鉗表采用了新型專利的磁感應線圈，可以更好地抵御外部磁場的干擾，最終可以得到更加優(yōu)質的測試結果。
2021-07-22 10:13:58592 華為2021開發(fā)者大會HarmonyOS測試技術與實戰(zhàn)-軟件棧對測試的挑戰(zhàn)
2021-10-23 14:14:261010 
S32K14x系列MCU時鐘調試筆記
2021-11-18 16:51:0245 調試筆記--keil 測量周期小技巧
2021-12-01 15:21:0311 python通過繼電器控制車機電源通斷，實現(xiàn)重啟壓力測試筆記需配合logger日志記錄和relayControl繼電器控制方法使用。 # coding:utf-8"""author:yutao函數(shù)
2023-05-04 11:40:010 SMU 在單個儀表內集成了電流源、電壓源、電流表和電壓表，可以通過液晶屏或者上位機軟件在各功能之間輕松轉換。區(qū)別于傳統(tǒng)的直流電源，SMU可以在四個象限獨立完成IV測試。SMU還具有各種保護措施
2022-11-08 14:42:23690 
摘要：我在2022年時設計了“邏輯電平
測試筆“，針對常用的3.3V和5V的TTL電平進行快速測量，在當時我就決定了做一款”升級版“。時間轉眼來到了2023年，我對這支
測試筆的構想在腦中逐漸完善，在”CW32生態(tài)社區(qū)“的支持下我決定將這一設計變?yōu)閷嵨铩?/div>
2023-10-18 10:31:24619 
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