過去的幾年里,測試探針卡的發(fā)展允許平行測試更多的器件——同時可測的待測器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測試平臺的數(shù)目。這樣,通過在300 mm晶圓上一次完成測試,
2011-11-10 12:04:20
4899 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A6/10/wKgZomUMO4yAcsynAAAYknVviyE582.jpg)
行業(yè)網(wǎng)絡(luò)、SDN、LTE將是未來測試產(chǎn)業(yè)的三大戰(zhàn)略發(fā)展機(jī)遇,這三大領(lǐng)域都處于快速發(fā)展期,對測試的需求量非常巨大。
2013-11-12 17:55:52
2608 spacer.gif2017年12月6日,英國,倫敦 ——全球領(lǐng)先的電子元器件、連接器、微波元器件,子系統(tǒng)以及射頻產(chǎn)品生產(chǎn)商Smiths Interconnect史密斯英特康正式推出一款性能更優(yōu)化的晶片級芯片封裝測試探針頭——Volta系列探針頭。
2017-12-08 11:06:32
6376 Volta獨(dú)特的設(shè)計(jì)具有極短的信號路徑,低接觸電阻,可實(shí)現(xiàn)最佳電氣性能,并且可有效地降低清潔頻率,提高了探針頭的使用壽命和延長單次正常運(yùn)行時間。
2020-03-17 08:21:00
752 大家參考。因經(jīng)驗(yàn)有限,有說的不合適的地方,望大家指正。一:手動探針臺用途:探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保
2020-02-10 14:28:15
探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測
2023-05-31 10:29:33
測試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件,能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測試和分析,從而作為判斷探針質(zhì)量的一個依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
`射頻探針是通過安裝在測試治具上,一端與射頻線纜組件配合連接測試儀器,另一端與客戶的被測物連接,檢查被測件的信號傳輸性能;產(chǎn)品測試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口,連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口,具有使用頻率高
2019-07-25 14:21:01
性價(jià)比高的,建議選用(ingun、LH)。通常ICT測試治具的探針有很多的規(guī)格,針主要是由三個部份組成:一是針管,主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧,主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭,主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金,以上三個部分組裝成一種探針。
2016-02-23 11:26:56
性價(jià)比高的,建議選用(ingun、LH)。通常ICT測試治具的探針有很多的規(guī)格,針主要是由三個部份組成:一是針管,主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧,主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭,主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金,以上三個部分組裝成一種探針。
2016-02-23 13:50:27
四探針電阻率測試儀測試四探針筆的方法是什么?使用四探針電阻率測試儀有哪些注意事項(xiàng)?
2021-05-08 07:12:20
提供測試探針及各類Socket,有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
臺積電宣布5nm基本完工開始試產(chǎn):面積縮小45%、性能提升15%.pdf(105.52 KB)
2019-04-24 06:00:42
旋緊小螺絲;5、將針裝好,注意針頭針尾方向,尖頭為探針頭部。四探針電阻率測試儀注意事項(xiàng):1、儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書,規(guī)范操作;2、輕拿輕放,避免儀器震動,水平放置,垂直測量;3、儀器不使用時請
2018-01-26 11:10:03
為滿足市場需求,意法半導(dǎo)體啟動新工廠、擴(kuò)充STM8產(chǎn)能取得積極進(jìn)展,預(yù)計(jì)在2018年第四季度初開始批量出貨。點(diǎn)擊查看STM8單片機(jī)產(chǎn)品信息
2018-06-15 16:21:15
WLAN測試的五要素分別是什么?如何提升WLAN測試系統(tǒng)的測量速度?
2021-05-07 06:34:30
的損傷!所以,如果想提高探針的使用壽命,還請從以下方面進(jìn)行改善:1.定期清理探針頭部的污染物,清理時采用干燥的靜電刷,針尖與地面平行2.保證測點(diǎn)的潔凈,不要有過多的松香、助焊劑之類的殘留3.測試探針
2019-07-22 17:39:39
在很多PCB板、晶圓的測試中,高頻探針是一個必不可少的探測工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測試中,對于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問題來了,探針本身的性能好壞如何衡量?
2019-08-09 06:26:54
的市場規(guī)模在飛速擴(kuò)大。要想進(jìn)行全面的生產(chǎn)測試并提高測試產(chǎn)能,測試工程師們必須懂得選用最適合的儀器完成這些測試工作。那么,如何選擇射頻測試儀器呢?
2019-09-24 07:53:56
射頻探針是通過安裝在測試治具上,一端與射頻線纜組件配合連接測試儀器,另一端與客戶的被測物連接,檢查被測件的信號傳輸性能;產(chǎn)品測試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口,連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口,具有使用頻率高、機(jī)械
2019-12-18 17:32:00
答案是可以。進(jìn)行焊接測試后的WLCSP IC樣品,從測試板上拔下欲二次進(jìn)行FIB電路修改,IC上的錫球?qū)瞧扑椴煌暾?,因此,第一步驟必須先將WLCSP表面破碎的錫球清除干凈,第二步驟,即可二次進(jìn)行
2021-12-17 17:01:00
怎么快速提升LabVIEW編程水平?
2022-03-17 14:33:35
現(xiàn)在需要設(shè)計(jì)一個板子,用到WLCSP封裝,但是在Altium Designer里面沒有找到這樣的封裝,應(yīng)該用什么軟件去設(shè)計(jì)
2018-04-26 09:42:01
操作,測試系統(tǒng)的測量速度已經(jīng)變得越來越重要。然而,在大多數(shù)情況下,除了縮短測試的時間并降低測試成本之外,系統(tǒng)的測量精度與可重復(fù)性卻不能受到影響。怎么進(jìn)行WLAN測試?提升測試速度?這些問題急需解決。
2019-08-08 08:28:40
現(xiàn)在測試治具中,探針是作為一個媒介,探針放在套管里,探針頭接觸待測物,另一端的套管引出線將信號傳導(dǎo)出去,接收回來的信號在測試機(jī)里處理,比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降,電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
`手動探針臺測試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢,在此收集整理供手動探針臺相關(guān)信息供大家參考。一:手動探針臺用途:探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
數(shù)據(jù)存儲測試產(chǎn)品概述
2019-05-07 07:04:44
與工時。iST宜特科技的第二代WLCSP電路修改技術(shù),已為此類產(chǎn)品帶來全面的解決方案,在錫球、RDL、或有機(jī)護(hù)層下方的區(qū)域,都能執(zhí)行電路修改。1獨(dú)特前處理工法搭配平整快速的有機(jī)護(hù)層FIB局部移除技術(shù),有效縮短工時。2提供局部錫球移除解決方案,不須重新植回錫球。3錫球移除后,可植回全新錫球。
2018-09-11 10:09:57
一、針頭安裝調(diào)試問題1,堵針頭:分析原因:裝回去后,因每個人扭的力度不一樣,就算同一個人也沒辦法扭得跟拆之前一模一樣。未經(jīng)過調(diào)機(jī),就開始運(yùn)行,有些錫膏里面有比較粗的顆?;蛘咂渌愇飼r,導(dǎo)致堵針頭
2019-07-22 11:44:16
`芯片失效分析探針臺測試簡介:可以便捷的測試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號引出功能,支持微米級的測試點(diǎn)信號引出或施加,配備硬探針和牛毛針,宜特檢測實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用,外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
你好,在我們的應(yīng)用中,7x7mm QFN將不適合。我們需要使用WLCSP版本,但我們很難找到任何參考設(shè)計(jì)使用這個包。你有這個包裝的推薦設(shè)計(jì)嗎?PSoC 4 BLE WLCSP和PROC 4 BLE WLCSP插銷是相同的/可互換的嗎?
2019-10-28 06:03:07
調(diào)試產(chǎn)品該從何入手呢?我看到一些工程師只要去做靜電測試或者電源干擾測試時有問題了他們就知道從哪方面去解決,而我就是一頭霧水{:2:}
2013-03-18 18:02:39
是非常重要的,測試環(huán)境對彈簧的材料要求也是非常嚴(yán)格的,高低溫測試直接影響探針的工作壽命?! ♂樄?、選擇的材料比較多一般選用PB的材料?! ?dǎo)致良率低下的最主要的原因可能是由于探針的測試過程中阻抗變大引起的?! ∽杩沟淖兇?,多數(shù)是由于針頭在測試過程中針頭的磨損、鍍層的破壞、以及針頭的掛錫造成的
2016-06-27 16:48:19
`特點(diǎn)/應(yīng)用 ◆ 2至6英寸樣品臺◆ 高真空腔體◆ 防輻射屏設(shè)計(jì),樣品溫度均勻性更好◆ 77K-675K高低溫環(huán)境◆ 兼容IV/CV/RF測試◆ 外置多探針臂,移動行程大◆ 經(jīng)濟(jì)實(shí)用,可無縫升級
2020-03-20 16:17:48
給大家推薦一款國產(chǎn)RF射頻測試探針(6代RF測試探針)6代RF測試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進(jìn)行線纜轉(zhuǎn)接,同時自帶浮動裝置,彈簧內(nèi)置保護(hù),使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測試探針,也叫高頻探針。我們針對第6代USS天線插座定制了一款測試探針,型號為21340019601。主要是針對日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
SPEA-4080 飛針測試機(jī)簡介4080是由SPEA研發(fā)生產(chǎn)的一款高速雙面飛針測試設(shè)備,設(shè)備搭載8個探針頭(4頂部+4底部),每秒測試點(diǎn)位可達(dá)180個,適合中大產(chǎn)能的PCBA、PCB
2022-09-09 11:51:20
探針的電性能與使用壽命都得到了提升。ST1外型尺寸圖我們的ST1探針使用頻率滿足0-8G,外殼采用不銹鋼主體與黃銅鍍金工藝,硬度高,使用壽命長,導(dǎo)通性能好;測試內(nèi)針
2022-10-28 10:27:29
選擇用于阻抗測試的最佳IP探針:使用Polar CITS或其它TDR探針測量阻抗時,選擇尤為重要。本應(yīng)用說明將討論如何選擇最佳探針并澄清可能存在的誤區(qū)。
是否有適用于所有阻抗
2009-10-08 08:24:04
9 超聲針針頭韌性測試儀醫(yī)用針針管剛性測試儀是一款專門設(shè)計(jì)用來測試醫(yī)用針管剛性的設(shè)備。醫(yī)用針管在醫(yī)療領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用,其質(zhì)量直接影響到醫(yī)療效果和患者安全。因此,對醫(yī)用針管進(jìn)行全面的檢測是至關(guān)重要的。醫(yī)用針
2023-11-01 13:45:02
摘 要: 本文介紹了在斜置式方形探針測試系統(tǒng)中,如何應(yīng)用圖像識別技術(shù)來判定探針在微區(qū)的位置,進(jìn)而控制步進(jìn)電機(jī),使探針自動定位成方形結(jié)構(gòu),從而保證測試的準(zhǔn)確性
2006-03-24 13:13:33
699 ![](https://file1.elecfans.com//web2/M00/A4/31/wKgZomUMMxOAfoXIAAAk5oBWrFE298.jpg)
用靜脈注射針頭拆卸元器件
采用靜脈注射針頭拆卸多腳元器件,簡便易行,
2009-09-14 18:01:19
1044 首先根據(jù) 四探針 測試理論.闡述了恒流源電路在四探針測試儀中的重要性,給出了對恒流源的基本要求。然后介紹了我們在開發(fā)前期實(shí)驗(yàn)過的2種恒流源電路,它們分別是級聯(lián)型鏡象電流
2011-08-09 14:59:21
44 受到零組件供貨吃緊沖擊,包括愛德萬(Advantest)、泰瑞達(dá)(Teradyne)的高端系統(tǒng)單晶片(SoC)測試機(jī)臺交期大幅拉長到近6個月時間,導(dǎo)致高端SoC測試產(chǎn)能在第三季出現(xiàn)供不應(yīng)求,每小時
2018-07-23 16:14:00
3885 飛針測試是目前電氣測試一些主要問題的最新解決辦法。它用探針來取代針床,使用多個由馬達(dá)驅(qū)動的、能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測量。
2019-04-23 16:22:57
20832 近日,智光電氣在投資者互動平臺上透露,其參與投資的廣州粵芯半導(dǎo)體技術(shù)有限公司在生產(chǎn)線在做試產(chǎn)前的測試,計(jì)劃在本月月內(nèi)試產(chǎn)。
2019-06-19 17:56:07
5873 外面鍍金。二是彈簧:主要是琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金。三是針頭:主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金。以上三個部分組裝成一根探針。另外還有外套管,可以連焊接線。 PCB探針廣泛用于測試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送,導(dǎo)電接觸,通過探針導(dǎo)電
2019-07-12 16:05:00
13136 10月30日消息,半導(dǎo)體測試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達(dá)科技,今天宣布推出新款測試探針卡—思達(dá)牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機(jī)械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測試探針卡 ,主要是針對圖像
2019-10-30 15:30:13
4009 什么是探針?探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件,主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中,起連接作用。文中介紹的測試探針相當(dāng)于一個媒介,測試時可用探針的頭部去接觸待測物,另一端則用來傳導(dǎo)信號,進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:23
4959 探針是什么?探針是一個多義詞,在不同的領(lǐng)域中,探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢?主要可以分為以下幾類: 信息探測工具 探針是什么?作為信息探測工具來說,探針卡是一種測試接口,主要
2020-03-30 14:27:27
25526 Volta獨(dú)特的設(shè)計(jì)具有極短的信號路徑,低接觸電阻,可實(shí)現(xiàn)最佳電氣性能,并且可有效的降低清潔頻率,提高了探針頭的使用壽命和延長單次正常運(yùn)行時間。
2020-05-07 10:18:43
2826 導(dǎo)電膠點(diǎn)膠代加工過程中,導(dǎo)電膠直接由針頭流到點(diǎn)膠指定位置,點(diǎn)膠針頭的選擇直接關(guān)系著點(diǎn)膠的效果,有時我們遇到膠水出的太慢,效率不高,導(dǎo)電膠點(diǎn)膠代加工點(diǎn)的大小達(dá)不到要求,要么太小,要么膠點(diǎn)太大,膠水
2020-06-16 15:43:43
3089 PCB探針是電測試的接觸謀介,屬于重要的電子部件,是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送,導(dǎo)電接觸,通過探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:22
4815 阻抗的穩(wěn)定性。這種鍍層比普通鍍金耐磨三倍。有效適用于OSP技術(shù)上的PCB待測點(diǎn)。 強(qiáng)刺穿能力針頭 FUSION系列探針的針頭具有非常優(yōu)秀的刺穿能力,尤其是70頭型的設(shè)計(jì)針對無焊錫的OSP測試點(diǎn)有著優(yōu)秀的測試能力 彈力預(yù)增加 FUSION系列探針的彈簧比普通探針的彈簧有著更優(yōu)
2020-08-28 14:07:18
3853 如何使用正確的檢測技術(shù)幫助拯救生命?INGUN通過為醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域提供專業(yè)的測試解決方案,支持著這個高要求行業(yè)的制造商實(shí)現(xiàn)最高的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。我們所使用的測試探針和測試夾具不僅能確保電氣和電子元件
2020-08-31 17:01:43
4855 在進(jìn)行智能穿戴點(diǎn)膠代加工時所用自動點(diǎn)膠機(jī)設(shè)備的點(diǎn)膠針頭即點(diǎn)膠出膠針筒頂端可以任意裝卸的一種針頭。點(diǎn)膠針頭的規(guī)格通常較小,通常在14-35(G)之間。并且有色系種類,因此在選擇時需要考慮一個合適
2020-10-19 10:44:01
4291 電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測試材料的電阻率。 四探針法是目前測試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法,因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡單、操作方便、測量精度高且對樣品形狀
2020-10-19 09:53:33
3651 ![](https://file.elecfans.com/web1/M00/CA/AF/pIYBAF-M8KeASkX1AAFUHD8Ir7w224.png)
由于全球半導(dǎo)體市場規(guī)模不斷增長,終端電子產(chǎn)品需求旺盛,國內(nèi)半導(dǎo)體封裝測試產(chǎn)業(yè)迎來了良好的發(fā)展機(jī)遇。國內(nèi)半導(dǎo)體封裝測試產(chǎn)業(yè)如何實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、可持續(xù)發(fā)展?一時間,半導(dǎo)體封裝測試產(chǎn)業(yè)再起熱議。
2020-11-19 10:17:32
4483 使用壽命。以下建議可在您檢查彈簧探針時為您提供幫助并且保證測試的可靠性:1、活塞磨損機(jī)械磨損會降低探針的使用壽命。在檢測點(diǎn)上侵入的深度越深以及彈簧力越高,磨損也會越嚴(yán)重。側(cè)向負(fù)荷會增加涂層的磨損,并且還會
2020-12-30 15:45:41
3296 上的測試。這樣,可以檢測晶片上的功能缺陷。(包括失效分析,晶圓可靠性測試,器件表征測試) 當(dāng)然,這只是晶圓測試的概述。要更詳細(xì)地了解一下,我們首先檢查一下用于進(jìn)行此測試的設(shè)備-晶圓測試#探針臺#。 晶圓測試探針臺的組成: 誠然,
2021-10-14 10:25:47
7092 HC-Z4 直線四探針電阻率測試儀,包含直線直線四探針夾具、雙探針自動切換開關(guān)和測試軟件組成。使用時需要有一臺計(jì)算機(jī)安裝測試軟件,可以通過 R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:27
54 基于NI-VISA的晶圓測試探針臺遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:08
21 晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單,它不僅是節(jié)約芯片
2021-11-17 15:29:15
5703 史密斯英特康是全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商,其最新推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin(開爾文)彈簧探針技術(shù),適用于低至 0.35 毫米間距的Kelvin測試應(yīng)用。該探針獨(dú)特
2021-11-18 16:00:44
744 迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā),已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測試夾具,多款同軸連接器,高頻高速線纜和測試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品,并申請專利。
2022-04-15 17:55:13
2262 集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分。在對集成電路進(jìn)行在片測試時,需要對整個晶圓進(jìn) 行測試。文中以 Cascade Summit 12000 半自動探針臺為例,設(shè)計(jì)一個由計(jì)算機(jī)、探針臺、單片機(jī)
2022-06-02 10:04:41
3083 真空探針臺主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級的射頻測試、特種氣體環(huán)境測試、壓力測試、光電性能測試、溫度測試、震動測試、聲音測試及電參數(shù) 測試,這些測試類型都基于探針臺的真空環(huán)境。當(dāng)真空探針臺腔體
2022-06-06 10:44:30
2018 測試效率是探針臺除定位精度外的一個重要 指標(biāo)。探針臺用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺的測試效率,來縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本文將從分析探針臺自動測試 的流程入手,提出幾種
2022-06-06 10:50:07
1145 晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:10
3834 探針臺是半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵設(shè)備,成立于2003年的矽電股份長期專注探針臺研發(fā)與制造,攻克高精度快響應(yīng)大行程精密步進(jìn)技術(shù)、定位精度協(xié)同控制等在內(nèi)的多項(xiàng)探針測試核心技術(shù),打破海外廠商的壟斷,成為中國大陸首家實(shí)現(xiàn)12英寸晶圓探針臺設(shè)備量產(chǎn)的企業(yè)。
2022-09-02 09:39:51
1733 以上6種粉末材料在使用兩種測試方法測得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢,且趨勢一致(如圖2左圖)。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對比分析,GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測試結(jié)果均小于兩探針的測試結(jié)果
2022-09-22 11:52:27
3307 探針卡是由探針(probe pin)、電子元件(component)、線材(wire)與印刷電路板(PCB)組成的一種測試接口,根據(jù)不同的情況,還會有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板(Stiffener)等的需求,主要對裸芯進(jìn)行測試,即wafer level測試。
2022-10-17 17:44:42
1781 測試一:先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后,然后連接兩個探針測試DUT,將兩個探針的S參數(shù)、兩個探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出,然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌,得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:42
4893 在ICT或者FCT測試中,治具上的探針總歸會測試到一定的壽命時候變得臟污,造成測試不通,通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài),但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:32
1811 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/86/E3/poYBAGOrpOGAJrmQAAEggMdnyiA101.png)
在通常的ICT測試案例里,有三種主要的測試解決方案。 焊點(diǎn),過孔,引腳。 一些電子制造服務(wù)商都會有在線測試和功能性測試, 在我們開始如何有效選擇探針頭型之時,請對我們的測試環(huán)境有個初步了解。 大部分
2022-12-29 09:59:26
1077 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/87/A9/pYYBAGOs7eyAFyqLAABuU99Esn0607.png)
尖端來匹配測試點(diǎn),在這里你可以參考如何選擇探針針頭的選擇。 事實(shí)上,安捷倫ICT測試機(jī)通過一個探針來檢查PCB線路的開路或短路,從而接觸焊接、引腳和通孔。在EMS(電子制造服務(wù))行業(yè)中,用于檢查電腦線路板、筆記本電腦線路板和服務(wù)器
2022-12-30 09:49:14
1197 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/87/F2/pYYBAGOuQzWAA5DzAADjNOl-Q44166.png)
晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:50
1579 隨著集成電路的快速發(fā)展,許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測試這類產(chǎn)品正在成為一個新的挑戰(zhàn)。 我們還開發(fā)了大電流測試探針,通常用于測試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來看,要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:05
2010 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/89/CB/poYBAGO8s6GAGEGFAACMZRYxbJ4343.png)
探針卡(Probe card)或許很多人沒有聽過,但看過關(guān)于,也就是晶圓測試方面文章的人應(yīng)該不會陌生,其中就有提到過探針卡。
2023-02-27 17:48:49
2327 晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺的聯(lián)動,在測試過程中,測試機(jī)臺并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02
885 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/82/8C/wKgZomRYYOuAH26gAAAbOz6eI_w900.png)
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機(jī)臺有所不同,針對不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:27
3464 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/82/8C/wKgZomRYYXaADUOiAAAbOz6eI_w798.png)
晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺的聯(lián)動,在測試過程中,測試機(jī)臺并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:14
2363 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/82/AB/wKgaomRcjU-AXLLIAAAbOz6eI_w428.png)
Multisim的虛擬測試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開,使得待測電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞,利用變壓器變電流的原理測量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測量。
2023-05-18 11:26:00
7286 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/A6/16/poYBAGRlmpqAeQftAABTpJl1trc859.png)
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測試,就是對晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測,以檢測和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導(dǎo)體晶圓測試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55
732 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/88/B7/wKgaomRwIQyARz6BAALMkMeqfVw038.png)
據(jù)《經(jīng)濟(jì)日報(bào)》報(bào)道,芯片測試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測試的探針芯片,將于今年年底在臺元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?!崩^新工廠啟動之后,預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42
633 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series(測試探針與測試線纜)
2022-03-02 11:40:11
786 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/33/75/poYBAGIe4IKAHNt0AAA9lOdyeek314.png)
了解RF射頻測試座的用途及如何選擇合適的測試探針
2023-02-24 11:03:17
1033 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/93/77/poYBAGP3NuCAVRowAAC3NqyfO1g521.png)
5代IPEX天線座專用測試探針,同時兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04
869 ![](https://file.elecfans.com/web2/M00/98/AE/pYYBAGQRN4KAG1EbAACYec7gmW4736.png)
飛針測試:用探針來取代針床,使用多個由馬達(dá)驅(qū)動的、能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測量。
2023-07-25 11:12:15
1424 近年來,隨著電池廠商對太陽能電池生產(chǎn)的要求越來越高,在生產(chǎn)中太陽能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn),「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測試儀,可對
2023-08-26 08:36:01
332 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/90/B6/wKgaomTcZGeAJZInAAAfzRiM67Q313.png)
"去嵌"是一種高頻測試中常用的技術(shù),旨在消除測量中探針或連接線等外部元件的影響,以便更準(zhǔn)確地測量被測試器件的性能。
2023-08-28 15:39:24
1153 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A0/4B/wKgZomTsT26ALn2uACjD8G_qsj8662.jpg)
制造工藝:制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常,鎢粉與其他金屬粉末混合,然后通過拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度,以滿足高頻測試的要求。
2023-09-15 17:04:07
529 ![](https://file1.elecfans.com/web2/M00/A4/B8/wKgaomUEHliAcXnWAAAaq9w3vxg492.jpg)
針對目前主流使用的RF射頻測試座與USS天線插座進(jìn)行射頻測試時如何匹配合適的射頻探針進(jìn)行選型推薦,歡迎交流合作。
2021-10-11 17:21:03
36 探針測試臺是一種用于測試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上,然后通過探針接觸到芯片的引腳,以測試芯片的功能和性能。在測試過程中,探針測試臺會生成一系列的測試信號,通過
2024-02-04 15:14:19
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