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各個(gè)ST的SF流程的詳細(xì)功能

2010年01月11日 11:27 www.delux-kingway.cn 作者:佚名 用戶評(píng)論(0
關(guān)鍵字:ST(127737)

各個(gè)ST的SF流程的詳細(xì)功能


T的SF流程

在Cert流程表中, 各個(gè)流程段所做的工作是不同的:

01-03 預(yù)處理(可能清除所有FW)

04-0F 伺服測(cè)試(包括掃描缺陷軌道)

10-1F 通道優(yōu)化測(cè)試

20-2F 伺服參數(shù)調(diào)試

30-3E 缺陷掃描,分析,處理 (精確掃描壞扇區(qū)并作屏蔽)

40-4E 邏輯方式工作測(cè)試 (沒(méi)有任何修復(fù)作用,僅作為出廠前的可*性測(cè)試, 只要在任何一個(gè)過(guò)程發(fā)現(xiàn)有錯(cuò)誤就認(rèn)為該硬盤不適宜出廠)

4F-50 失敗或成功的最后處理

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