ic芯片怎么看型號
IC(集成電路)型號各部分的意義如下:
1、第0部分
c表示中國制造
2、第1部分
T:TTL電路、H:HTL電路、E:ECL電路、C:CMOS電路
M:存儲器、μ:微型機電路、F:線性放大器、
W:穩(wěn)定器、B:非線性電路、J:接口電路、AD:A/D轉(zhuǎn)換器、
DA:D/A轉(zhuǎn)換器、D:音響、電視電路、SC:通信專用電路、
SS:敏感電路、SW:鐘表電路
3、第2部分
用數(shù)字表示器件的系列代號
4、第3部分
C:0~70℃、G:‐25~70℃、L:‐24~85℃、E:-40~85℃、
R:‐55~85℃、M:‐55~125℃
5、第4部分
F:多層陶瓷扁平、B:塑料扁平、H:黑瓷扁平、D:多層陶瓷雙列直插、
J:黑瓷雙列直插、P:塑料雙列直插、S:塑料單列直插、K:金屬菱形、
T:金屬圓形、C:陶瓷芯片載體、E:塑料芯片載體、G:網(wǎng)絡針柵陳列
ic芯片的作用
1、ic芯片用途-減少元器件的使用
集成電路的誕生,小規(guī)模的集成電路使內(nèi)容元器件的數(shù)量減少,在零散元器件上有了很大的技術(shù)提高。
2、ic芯片用途-產(chǎn)品性能得到有效提高
將元器件都集合到了一起,不僅減少了外電信號的干擾,也在電路設(shè)計方面有了很大的提升,提高了運行速度。
3、ic芯片用途-更加方便應用
一種功能對應一種電路,將一種功能集中成一個集成電路,如此一來,在以后應用中,要什么功能就可以應用相應的集成電路,從而大大方便了應用。
集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu);其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它的英文(integrated circuit)用字母“IC”表示。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計技術(shù),主要體現(xiàn)在加工設(shè)備,加工工藝,封裝測試,批量生產(chǎn)及設(shè)計創(chuàng)新的能力上。
如何判斷ic芯片的好壞
一、不在路檢測
這種方法是在ic未焊入電路時進行的,一般情況下可用萬用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進行比較。
二、在路檢測
這是一種通過萬用表檢測IC各引腳在路(IC在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩,是檢測IC最常用和實用的方法。
直流工作電壓測量
這是一種在通電情況下,用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進行測量;檢測IC各引腳對地直流電壓值,并與正常值相比較,進而壓縮故障范圍, 出損壞的元件。測量時要注意以下8點:
(1)萬用表要有足夠大的內(nèi)阻, 少要大于被測電路電阻的10倍以上,以免造成較大的測量誤差。
(2)通常把各電位器旋到中間位置,如果是電視機,信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。
(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞IC??刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動:取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上,并長出表筆尖約0.5mm左右,這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸,又能有效防止打滑,即使碰上鄰近點也不會短路。
(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時,應根據(jù)該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進行分析, 能判斷ic的好壞。
(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開路或變值時,或外圍電路連接的是一個阻值可變的電位器,則電位器滑動臂所處的位置不同,都會使引腳電壓發(fā)生變化。
(6)若ic各引腳電壓正常,則一般認為ic正常;若ic部分引腳電壓異常,則應從偏離正常值最大處入手,檢查外圍元件有無故障,若無故障,則ic很可能損壞。
(7)對于動態(tài)接收裝置,如電視機,在有無信號時,ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大,該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化,就可確定ic損壞。
(8)對于多種工作方式的裝置,如錄像機,在不同工作方式下,ic各引腳電壓也是不同的。
交流工作電壓測量法
為了掌握ic交流信號的變化情況,可以用帶有db插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋,正表筆插入db插孔;對于無db插孔的萬用表,需要在正表筆串接一只0.1~0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ic,如電視機的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同,波形不同,所以所測的數(shù)據(jù)是近似值,只能供參考。
總電流測量法
該法是通過檢測IC電源進線的總電流,來判IC好壞的一種方法。由于IC內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合,IC損壞時(如某一個pn結(jié)擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使總電流發(fā)生變化。所以通過測量總電流的方法可以判IC的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降,用歐姆定律計算出總電流值。
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