隨著PCIe Gen 4和Gen 5的項(xiàng)目開發(fā)越來越多，很多公司希望在PCIe鏈路層注入故障來模擬針對主板/背板一側(cè)，或者外設(shè)一側(cè)（如插卡，NVMe SSD等）的各種異常，業(yè)內(nèi)主流的CPU廠商例如Intel和AMD， 以及PCIe Switch廠商Broadcom， Microchip目前都在使用英國Quarch的PCIe Gen 5 x16的測試卡實(shí)現(xiàn)針對Gen 5的測試。

Quarch公司提供針對PCIe Gen 4和Gen 5各種接口的測試插卡和模塊，包括U.2， U.3， M.2， AIC （x8和x16），EDSFF L1.S （x4） / L1.L （x8），以及各類PCIe Cable的測試模塊等，滿足用戶測試的各種需求。當(dāng)然，除了針對NVMe SSD的各種模塊之外，傳統(tǒng)的針對24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相應(yīng)的測試模塊。

下面的功能概覽適用于上述所有各種PCIe接口，工程師可以根據(jù)需要通過GUI或者Phyton API腳本對于主板/背板端，或者外設(shè)（插卡，NVMe SSD）端進(jìn)行測試。

模擬在任意針腳上注入信號毛刺，進(jìn)行物理層/協(xié)議層故障注入

可以設(shè)置信號毛刺的多少，注入一次毛刺，還是持續(xù)加毛刺，間隔時(shí)間多長等

信號毛刺的高低，疏密，持續(xù)的時(shí)間長短

通過調(diào)整信號毛刺參數(shù)實(shí)現(xiàn)針對PCIe協(xié)議的故障注入，如bit error，CRC error等。

模擬盤的熱插拔

模擬盤熱插拔過程中導(dǎo)致的pin bounce時(shí)斷時(shí)通等接觸不好的情況

模擬某些針腳斷掉

模擬某些針腳長通

模擬某個(gè)Lane中的某些差分信號有毛刺，或者某個(gè)Lane不通

模擬非?？焖俚牟灏危ㄍ?斷）測試

電壓拉偏和功耗測試是測試SSD的基本測試項(xiàng)，包括PCIe/NVMe SSD和傳統(tǒng)的SAS/SATA HDD/SSD。其中，電壓拉偏測試主要是保證SSD在接入不同廠商設(shè)計(jì)的主板/背板時(shí)候如果其輸出電源和標(biāo)準(zhǔn)有偏離，那么SSD是否還可以正常穩(wěn)定的工作，該測試電壓拉偏的設(shè)置最低允許工程師以1us作為粒度調(diào)整電壓。功耗測試是找出SSD在不同的業(yè)務(wù)負(fù)載等情況下的電壓/電流/功耗的情況，Quarch可編程電源支持最大250K采樣率，可以實(shí)現(xiàn)非常精細(xì)的電壓/電流/功耗計(jì)量，在最小采樣率7Hz設(shè)置的時(shí)候其內(nèi)部記錄buffer可以實(shí)現(xiàn)24小時(shí)以上的持續(xù)記錄，記錄的數(shù)據(jù)可以通過GUI界面分析，其Test Monkey圖形化軟件允許用戶放大/縮小插卡分析局部細(xì)節(jié)，同時(shí)也自動自動計(jì)算出電壓/電流/功耗的最大/最小/平均值，另外軟件也允許用戶將記錄的數(shù)據(jù)導(dǎo)出成.csv作離線進(jìn)一步分析。

責(zé)任編輯：haq