通常，DDR設(shè)計完成之后 ，對信號質(zhì)量并沒有一個完全確定的概念，需要我們通過仿真和測試的手段去判斷和驗證。而此時，往往我們拿到的就是一個波形，測試波形或者仿真波形，該如何去判斷其信號質(zhì)量，參照的標(biāo)準(zhǔn)又是怎樣的，就是我們需要去考慮的重點(diǎn)。

DDR信號是數(shù)字信號，表現(xiàn)為0、1兩種形式，一般看到的波形都是類似于正弦波的樣式，什么時候判定為1，什么時候判定為0呢？每一個信號都是以電磁波的形式進(jìn)行傳輸，因此一定具有相應(yīng)的幅值，所以判定方法肯定是當(dāng)幅值高于某一個值時，判定信號為1，低于某一個值時，判定為0。而判定的依據(jù)——某一個值就是可以從JEDEC中找到的。如圖一所示，是DDR3地址命令信號的AC、DC標(biāo)準(zhǔn)，對應(yīng)相應(yīng)的速率，就可以在波形上面標(biāo)注出相應(yīng)的VIH和VIL。當(dāng)幅值范圍為VIHAC（min）~VIHDC（min）時，判定為1，當(dāng)幅值范圍為VILAC（max）~VILDC（max）時判定為0，如下圖二所示

圖一

圖二

對于做為差分線的CK信號和DQS信號而言，判定的要求又分為單根和差分模式，單根模式的判定標(biāo)準(zhǔn)和地址數(shù)據(jù)線基本一致，如下圖三所示。它的判定標(biāo)準(zhǔn)只有VSEH和VSEL。實際這兩個值對應(yīng)的就是VIH.AC和VIL.AC。

圖三

差分模式如圖四所示，數(shù)據(jù)見表格。

圖四

而且同時對兩個單根的交點(diǎn)也有一定的要求，如下圖五所示，兩個單根的交點(diǎn)位置要在VSEH和VSEL之間，否則的話差分模式下，正半周期和負(fù)半周期可能會有比較大的一個比例差異。

圖五

對信號幅值的要求不僅僅在這一個方面，幅值太小，會讓芯片無法識別信號，那么幅值越大，豈不是對于信號的判定越有利。其實不然，一般的芯片都會有一個耐壓值，高于該值，對于芯片的使用壽命會有一個較大的影響，所以，可以看到JEDEC中，還有一個Overshoot和Undershoot的概念，下面是DDR3對于信號這方面的一個要求，圖六中是對Overshoot和Undershoot一個面積區(qū)域和具體的數(shù)值的定義，即最大值的范圍在VSS-0.4~VDD+0.4之間，斜率按照相應(yīng)的速率查找，其中斜率的定義對于數(shù)據(jù)線和地址線是有區(qū)別的，要用到的時候，在JEDEC中查找即可。

圖六

這些都是對DDR信號最基礎(chǔ)的認(rèn)識，只是基于幅值方面的一些要求。

編輯：hfy