ESD的概念想必大家都非常清楚,即兩個物體之間的電荷的轉移,當兩個物體之間直接接觸或者相互靠近發(fā)生介質擊穿時,就會產(chǎn)生靜電放電。
而TLP(傳輸線脈沖測試Transmission-line pulse -TLP)是一種通過測量時域的電流和電壓來研究集成電路的及其特性的ESD測試方法。
下面詳細介紹一下TLP測試相關的知識:
TLP脈沖發(fā)生器的基本結構:長度為L的充電線(TL1),開關S1和高壓電源(Vo)。
A、充電線的長度決定了脈沖的寬度;
B、標準TLP的典型值為100ns脈沖寬度,1ns的上升時間;
C、逐步增加脈沖幅度,直到DUT出現(xiàn)故障或者達到最大的電壓;
D、DUT的故障通常通過DC漏電流來判斷
E、通常讀取脈沖時間70%到90%的時間。
使用TLP測試出來的I-V曲線
動態(tài)阻抗是ESD保護器件的一個非常重要的參數(shù),動態(tài)阻抗越低,表明更多的ESD電流會流經(jīng)保護器件,更少的電流會流經(jīng)被保護設備。
動態(tài)阻抗的定義:dv/dI
一般TVS的動態(tài)阻抗為幾百mohm到幾ohm,而多層壓敏電阻-對于低電容設備,有幾ohm或者更高的阻抗。
審核編輯:劉清
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