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RFIC設(shè)計(jì)中的MOS變?nèi)莨?/h1>

VCO,是一個(gè)頻率隨電壓變化的部件,而變?nèi)莨軇t是產(chǎn)生該頻率變化的核心。在VCO的各項(xiàng)性能中,有兩個(gè)性能,分別為頻率的調(diào)諧范圍和輸出信號(hào)的相噪。這兩項(xiàng)性能,則對(duì)應(yīng)變?nèi)莨艿膬蓚€(gè)特性:(1) 電容的調(diào)諧范圍,即變?nèi)莨苣芴峁┑淖畲箅娙莺妥钚‰娙?(2)變?nèi)莨艿钠焚|(zhì)因數(shù)(qulity factor),這個(gè)通常受變?nèi)莨艿募纳?jí)聯(lián)電阻限制。這兩個(gè)參數(shù),在某些情況下,是一個(gè)矛盾的關(guān)系。

在以前的RFIC設(shè)計(jì)中,變?nèi)莨苁怯梅雌腜N結(jié)實(shí)現(xiàn)。但在現(xiàn)在RFIC設(shè)計(jì)中,MOS變?nèi)莨芤呀?jīng)取代了PN結(jié),成為主流。

常規(guī)的MOSFET在將D極和S極連接時(shí),Cgs與Vgs的關(guān)系如下圖所示,Cgs會(huì)隨著Vgs變化,但是變化曲線呈現(xiàn)非線性。這個(gè)非線性,會(huì)產(chǎn)生這樣一個(gè)結(jié)果。比如說(shuō),你設(shè)計(jì)了一個(gè)VCO,當(dāng)你緩慢升高電壓時(shí),它的輸出頻率也相應(yīng)地從1G變到2G。但是由于這個(gè)非線性的存在,當(dāng)你緩慢升高電壓時(shí),剛開(kāi)始頻率是1G變化到1.5G;然后你在緩慢升高電壓,發(fā)現(xiàn)頻率又緩慢變回去了。當(dāng)然,也不是完全不能用,但是總覺(jué)得心里有那么點(diǎn)不舒服。

而且,這種非線性的頻率調(diào)諧特性,在鎖相環(huán)設(shè)計(jì)中是個(gè)問(wèn)題,會(huì)使得鎖相環(huán)失鎖。

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那怎么辦?解決辦法,就是對(duì)MOS管做一個(gè)小小的調(diào)整,具體方法,就是把NMOS管放在一個(gè)N阱中,這種MOS管,稱為“累積型MOS變?nèi)?a target="_blank">二極管(Accumulation-mode MOS varacotr)”。

當(dāng)VGVS時(shí),硅/氧化物的交接面從n+的源極和漏極吸收電子,形成一個(gè)通道。此時(shí),等效電容為柵氧電容。

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在65nm器件中, VGS ≈ ±0.5 V時(shí),接近其飽和水平的Cmax和Cmin。MOS變?nèi)荻O管可以在低供電電壓下工作,而且,為了使得MOS管提供最大的調(diào)諧特性,MOS管需要正負(fù)偏置。

電路仿真,需要在一定程度上能夠模擬變?nèi)莨艿腃/V特性曲線。在實(shí)際中,這種特性是對(duì)加工器件進(jìn)行測(cè)量,然后以由一系列的離散值組成的表格來(lái)表征。然后,再用一個(gè)連續(xù)函數(shù)來(lái)對(duì)C/V曲線進(jìn)行擬合。雙曲正切能夠很好地模擬其飽和特性,具有連續(xù)導(dǎo)數(shù),因此可以用來(lái)擬合C/V曲線。

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其中a和V0分別允許擬合截點(diǎn)和斜率,而Cmin和Cmax則包含柵漏和柵源的重疊電容。

什么是重疊電容呢(overlap capacitance)?

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如上圖所示,MOS管有三種主要電容:

一種是柵極和溝道之間的電容,稱為柵氧電容,值為WLCox;

一種為源極和襯底,漏極和襯底之間的PN結(jié)電容;

一種為重疊電容(overlap capacitance)。

在加工過(guò)程中,會(huì)使得柵極和漏極,柵極和源極在結(jié)構(gòu)上部分重疊;另外柵極邊緣與源極/漏極區(qū)域頂部之間的邊緣場(chǎng)線,這兩者構(gòu)成了重疊電容。

上述C/V模型,也可轉(zhuǎn)換成Q/V模型,即電荷隨電壓變化的曲線。由dQ=C(V)/dV可知,

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MOS變?nèi)莨艿腝值,由柵極和漏極之間的電阻決定,如下圖所示。

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MOS變?nèi)莨艿腝值又是如何變化的呢?當(dāng)變?nèi)莨艿娜葜禐镃min時(shí),其容值低,電阻又比較大;而當(dāng)變?nèi)莨艿娜葜禐镃max時(shí),其容值大,而電阻又比較低。由Q=1/(RCw)可知,Q如果按照上述規(guī)律變化的話,可能能夠保持不變。實(shí)際上,當(dāng)Cgs從Cmin變化到Cmax時(shí),Q值也是下降的。這表明,當(dāng)Cgs從Cmin變大到Cmax時(shí),R也會(huì)從Rmax變化Rmin,但是顯然C的變化量要大于R的變化量。

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振蕩器設(shè)計(jì)中,希望最大化變?nèi)莨艿腝值。當(dāng)溝道長(zhǎng)度最短的時(shí)候,變?nèi)莨艿腝值最大;但是,此時(shí)柵源和柵漏之間的重疊電容在總電容中所占比值增大,從而限制了電容的調(diào)諧范圍。重疊電容(overlap capacitance)基本上不太隨電壓變化,它的存在,會(huì)使得變?nèi)莨艿奶卣髑€上移,即從Cmin+2WCov變化到Cmax+2WCov。當(dāng)溝道長(zhǎng)度最短的時(shí)候,2WCov甚至?xí)菴min還大。因此會(huì)降低電容的調(diào)諧范圍。

具體用數(shù)字來(lái)表征一下:假設(shè), Cmax=0.85fF,Cmin=0.18fF,此時(shí)R=Cmax/Cmin=4.72;如果考慮重疊電容,假設(shè)其值為0.18fF,則Cmax=0.18fF+0.85fF=1.03fF,Cmin=0.18fF+0.18fF=0.36fF,此時(shí)R=Cmax/Cmin=2.86。調(diào)諧范圍下降。

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因此,溝道長(zhǎng)度短,變?nèi)莨躋值大,但是電容的調(diào)諧范圍相對(duì)較小。變?nèi)莨躋值和調(diào)諧范圍之間的矛盾,反應(yīng)到VCO的性能上,就是頻率調(diào)諧范圍和相噪的矛盾。在實(shí)際的設(shè)計(jì)中,需要折中取舍。

審核編輯:湯梓紅

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原文標(biāo)題:芯片設(shè)計(jì)中的變?nèi)莨?/p>

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