對(duì)無(wú)線電管理工作來(lái)說(shuō)，雜散發(fā)射是產(chǎn)生干擾的重要原因 . 在無(wú)線電發(fā)射設(shè)備檢測(cè)過(guò)程中，雜散測(cè)試是一個(gè)重要的必測(cè)項(xiàng)目。雜散是指在工作帶寬外某個(gè)頻點(diǎn)或某些頻率上的發(fā)射，其發(fā)射電平可降低但不影響相應(yīng)的信息傳遞。包括：諧波發(fā)射、寄生發(fā)射、互調(diào)產(chǎn)物、以及變頻產(chǎn)物，但帶外發(fā)射除外。

輻射雜散測(cè)試系統(tǒng)

在射頻測(cè)試中，雜散發(fā)射測(cè)試是一個(gè)基礎(chǔ)測(cè)試項(xiàng)目，主要包括傳導(dǎo)雜散測(cè)試和輻射雜散測(cè)試。

下面主要談一下輻射雜散的一些影響因素：輻射型雜散是指由于機(jī)箱(或機(jī)柜)以及設(shè)備的結(jié)構(gòu)而引起的任何雜散輻射，主要是指由 EUT的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互聯(lián)電纜引起的雜散騷擾。所以說(shuō)EUT的整機(jī)設(shè)計(jì)，天線質(zhì)量，外殼材料及表面工藝的影響對(duì)輻射雜散存在一定的影響。在測(cè)試過(guò)程中，曾遇到很多不同因素的影響，比如：EUT機(jī)殼的金屬框，喇叭的金屬網(wǎng)，按鍵板的影響等等。但是這些只是外殼材料及表面工藝的影響，整機(jī)的設(shè)計(jì)、屏蔽占有更重要的地位。

對(duì)無(wú)線電管理工作來(lái)說(shuō)，雜散發(fā)射是產(chǎn)生干擾的重要原因，在無(wú)線電發(fā)射設(shè)備檢測(cè)中，雜散發(fā)射是一個(gè)重要的必測(cè)項(xiàng)目。那么，怎樣正確測(cè)量雜散發(fā)射呢？本文參考國(guó)際電聯(lián)的 ITU-R SM .329-8 文件，并結(jié)合實(shí)際工作中的體會(huì)，對(duì)雜散發(fā)射的測(cè)量方法做一詳細(xì)的介紹。

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