要想實現(xiàn)精確的電橋測量,需要考慮的一個重要因素是傳感器的電氣特性對 ADC 性能的影響。下表顯示了典型負(fù)載單元中使用的電阻式電橋的通用規(guī)格表。其中FS表示滿量程。
其中許多特性的誤差是可以校準(zhǔn)的,而其他誤差必須添加到總誤差預(yù)算中。以下簡要介紹表上中的一些較為重要的電氣特性,因此并不涵蓋所有特性。
電橋靈敏度
電橋靈敏度指的是施加最大負(fù)載時每伏激勵電壓 VEXCITATION 的最大預(yù)期輸出電壓。典型電橋負(fù)載單元的靈敏度為 1mV/V 至 3mV/V,例如表 4-1 中的電橋,其靈敏度為2mV/V。該值表示,VEXCITATION 每增加 1V,電橋輸出將增加2mV。例如,在施加最大負(fù)載的情況下,用5V電壓激勵此電橋可產(chǎn)生 10mV 的最大電橋輸出。 這個10mV輸出電壓也是 ADC 測得的最大差分輸入電壓。使用該值可以確定需要多大的增益才能增加測得的輸入信號并提高ADC滿量程范圍的利用率。許多ADC都包含可編程增益放大器來實現(xiàn)上述目的。
電橋電阻
電橋具有不同的標(biāo)稱電阻值,但120Ω、350Ω 和 1000Ω 最常見。較低的電橋電阻也可能需要很大的電流才能驅(qū)動。例如,使用VEXCITATION = 5V 驅(qū)動350Ω電橋需要 14.3mA 電流。這可能比測量電路(包括ADC和放大器)消耗的電流大很多。實際上,電橋的功耗可能是系統(tǒng)功耗預(yù)算中最大的一部分。此外,這個較大的激勵電流可與激勵路徑中的任何寄生電阻產(chǎn)生相互作用,導(dǎo)致電橋上的實際電壓與ADC測得的基準(zhǔn)電壓不匹配。通過使用六線電橋,可以消除此誤差。
輸出共模電壓
通常,當(dāng)AVDD = VEXCITATION時,所需的電橋輸出共模電壓是ADC電源 AVDD 的 1/2。這是 ADC的理想共模輸入電壓,并可實現(xiàn)最大增益。 有些系統(tǒng)使用大于 AVDD 的 VEXCITATION。如果是這樣,電橋輸出共模電壓可能會與ADC輸入共模范圍不匹配。 例如,為了盡可能提高傳感器輸出而選擇 VEXCITATION= 10V ,會將電橋共模電壓設(shè)置為 5V。如果ADC的 AVDD = 5V,則此測量可能非常接近 ADC 輸入范圍限值。此外,用于放大電橋輸出的高增益放大器通常會將共模輸入范圍限制為遠(yuǎn)低于AVDD,因此需要替代解決方案。后面的文章中有VEXCITATION> AVDD 時適應(yīng)電橋配置的電路。
失調(diào)電壓
理想電橋輸出應(yīng)該是在未施加負(fù)載的情況下為0V。但實際上電橋在未施加負(fù)載的情況下具有非零輸出。此誤差是使負(fù)載響應(yīng)向上或向下平移的失調(diào)電壓,如下圖所示。
失調(diào)電壓可能有各種來源。制造容差可能導(dǎo)致電橋元件之間的標(biāo)稱電阻不同。即使在未施加負(fù)載的情況下,這也會導(dǎo)致固有的失調(diào)電壓誤差,通常會在傳感器數(shù)據(jù)表中指定。 在傳感器外部,電橋連接中的寄生熱電偶可能會產(chǎn)生隨溫度變化的微小失調(diào)電壓。此外,與電橋?qū)Ь€電阻或任何ADC輸入濾波電阻相互作用的ADC輸入偏置電流也可能產(chǎn)生微小的失調(diào)電壓。 無論是什么失調(diào)電壓源,都可以使用數(shù)字方式或其他有源電路方法(例如交流激勵)將失調(diào)電壓輕松歸零,從而校準(zhǔn)該誤差。
滿量程誤差
滿量程誤差或增益誤差是消除失調(diào)電壓后負(fù)載條件下的實際和理想電橋測量響應(yīng)之間的斜率差異。上圖給出了滿量程誤差的一個示例。滿量程誤差的來源包括比例式測量中的導(dǎo)線阻抗或來自 ADC的固有增益誤差。此外,電橋靈敏度容差可能會改變負(fù)載與輸出電壓曲線的斜率,并導(dǎo)致誤差。例如,上表中給出的±15%容差可以使典型2mV/V 電橋靈敏度跨越 1.7mV/V 至 2.3mV/V 的范圍。假設(shè) VEXCITATION = 5V,理想的電 橋最大輸出信號為 2mV/V ? 5V = 10mV。但實際電橋最大輸出信號的范圍可能是 8.5mV(負(fù)誤差)至 11.5mV(正誤差)。 幸運的是,滿量程誤差是一種測量增益誤差,通??梢詫φ找阎斎雭?a href="http://www.delux-kingway.cn/soft/data/50-103/" target="_blank">測試測量系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。
非線性誤差和遲滯
非線性誤差是指隨著電橋輸出的增加,輸出曲線與預(yù)期滿量程直線輸出的偏差。此非線性由電橋電阻式元件的特性所致。例如,電阻式電橋元件超過特定范圍或負(fù)載時,可能具有更強(qiáng)的非線性。電橋數(shù)據(jù)表通常會表征非線性并建議限制最大負(fù)載以使非線性保持在較低水平。
與非線性誤差相似,遲滯是隨電橋輸出而變化的小誤差。不過,此誤差可能會不同,具體取決于電橋輸出是提高還是降低。遲滯與非線性誤差加在一起稱為組合誤差。組合誤差是在從空載到最大負(fù)載條件(提高和降低)范圍 內(nèi)相對于直線的最大誤差。下圖以圖形方式顯示了非線性誤差、遲滯和組合誤差。
非線性誤差和遲滯不容易校準(zhǔn)。這些誤差可能因裝置的不同而不同,因此校準(zhǔn)需要在電橋的整個工作范圍內(nèi)進(jìn)行 許多次測量。不過,這些誤差一般比失調(diào)電壓和滿量程誤差小得多。另外值得注意的是,ADC可能會導(dǎo)致非線性 誤差,但與電橋非線性誤差相比,該誤差一般可以忽略不計。
漂移
上表中所示的許多參數(shù)都是在一個溫度下指定的,該溫度通常為 25°C。漂移誤差指定這些參數(shù)如何在某個溫度范圍內(nèi)變化。一種常見的漂移誤差是失調(diào)電壓漂移,指的是電橋初始失調(diào)電壓隨溫度的變化。另一種常見的漂移誤差是滿量程漂移,指定電橋輸出斜率如何隨溫度變化。同樣,ADC本身具有影響測量精度的漂移特性。失調(diào)電壓和增益漂移誤差通常以%FS/°C 為單位表 示,但也可能使用其他單位。由于非線性或不同的極性,溫度漂移可能很難進(jìn)行補償。此外,精確校準(zhǔn)這些誤差可能需要在整個工作溫度范圍內(nèi)的不同點進(jìn)行測量。在設(shè)計任何電橋測量系統(tǒng)時,重要的是確定工作溫度范圍并計算漂移可能導(dǎo)致的預(yù)期系統(tǒng)誤差。
蠕變和蠕變恢復(fù)
蠕變是指在已施加負(fù)載但所有其他環(huán)境因素不變的情況下電橋輸出的變化。負(fù)載單元在負(fù)載下經(jīng)過一段時間后可能會產(chǎn)生變形,從而導(dǎo)致蠕變。蠕變恢復(fù)是指在取消負(fù)載條件后電橋輸出的變化。這兩種誤差都是在給定時間段內(nèi)的額定值,可能包含在電橋數(shù)據(jù)表中。不過,這些誤差與ADC測量本身沒有關(guān)系。與某些其他參數(shù)類似,蠕變和蠕變恢復(fù)是無法進(jìn)行校準(zhǔn)的誤差。產(chǎn)生的影響必須在系統(tǒng)設(shè)計的誤差預(yù)算之內(nèi)。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:電橋測量基本指南-電橋測量的電氣特性
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