2008年石墨烯的發(fā)現(xiàn)掀起了二維材料研究的熱潮,2011年高性能單層二硫化鉬晶體管的制備掀起了二維半導(dǎo)體材料研究熱潮,大家開始對(duì)二維材料有了更多的期待。隨后幾年,很多基于二硫化鉬的經(jīng)典文章發(fā)表出來,它們構(gòu)建了現(xiàn)有二維半導(dǎo)體材料的基礎(chǔ)的理論和實(shí)驗(yàn)體系。說這么多是因?yàn)檫@次要和大家介紹的這篇文章年代略久遠(yuǎn),發(fā)表于2012年,文章研究的核心點(diǎn)是利用激光減薄多層二硫化鉬制備單層樣品。
圖1 機(jī)械剝離二硫化鉬樣品激光處理前后的顯微鏡圖以及AFM表征
文章所用的激光光源為Renishaw in via RM 2000拉曼光譜儀,激光波長(zhǎng)514 nm。當(dāng)激光功率為10 mW,掃描步進(jìn)為400 nm,曝光時(shí)間為0.1 s時(shí)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)20層及以下的二硫化鉬進(jìn)行減薄至單層,且Z-掃描比光柵掃描得到的樣品更為均勻,效果更好。
圖2 不同層MoS2樣品拉曼表征結(jié)果比較
圖3 不同層MoS2樣品PL表征結(jié)果比較
激光加工的單層MoS2樣品的拉曼峰值差要略大于機(jī)械剝離的單層MoS2樣品,這是因?yàn)榧す饧庸?huì)在MoS2樣品表面存在一些樣品殘留,激光加工樣品的AFM測(cè)試的粗糙度更高也是這個(gè)原因。不知道能否通過一些清洗or其他的程序得到改善。此外,拉曼加工的速度可以達(dá)到8 μm2/min。
圖4 機(jī)械剝離與激光加工單層MoS2晶體管性能對(duì)比
制備的晶體管性能幾乎一致,開關(guān)比在103左右,用來驗(yàn)證激光加工的單層MoS2樣品質(zhì)量和機(jī)械剝離的差距不大。這里器件開關(guān)比差的原因主要是因?yàn)闆]有優(yōu)化接觸,且柵電壓掃描范圍小。這種情況下機(jī)械剝離制備的單層MoS2晶體管性能處于比較差的水平,我認(rèn)為是比較難看出激光加工出的MoS2樣品的實(shí)際質(zhì)量,就很難準(zhǔn)確判斷和機(jī)械剝離樣品之間的差距。
圖5 激光功率對(duì)減薄的影響
從實(shí)驗(yàn)中我們可以看到,激光功率的變化對(duì)應(yīng)于二硫化鉬層數(shù)的變化是非線性的,至少這個(gè)實(shí)驗(yàn)下是這樣的結(jié)果。也就是激光功率在10-17 mW之間,都可以實(shí)現(xiàn)多層MoS2樣品的減薄,選功率小的是減少損傷;激光功率大于17 mW,二硫化鉬樣品將會(huì)被激光直接切割。激光功率<10 mW的情況沒有做特別的說明,筆者也沒有搜集更多的資料,感興趣的小伙伴可以去查看下其他引用文獻(xiàn)的相關(guān)成果。
審核編輯:劉清
-
晶體管
+關(guān)注
關(guān)注
77文章
9782瀏覽量
138982 -
AFM
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
59瀏覽量
20220 -
激光功率
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
9瀏覽量
6736
原文標(biāo)題:激光制備單層二硫化鉬
文章出處:【微信號(hào):二維材料君,微信公眾號(hào):二維材料君】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
利用拉曼光譜測(cè)量二硫化鉬薄片層數(shù)的三種方法
![<b class='flag-5'>利用</b>拉曼光譜測(cè)量<b class='flag-5'>二硫化鉬</b>薄片層數(shù)的三種方法](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/37/wKgZO2ejAUyAZVr2AAAif5ebyFM082.png)
減少減薄碳化硅紋路的方法
![減少<b class='flag-5'>減</b><b class='flag-5'>薄</b>碳化硅紋路的方法](https://file1.elecfans.com/web3/M00/00/DC/wKgZPGdOqFyAFwC5AACoeBgifsw605.png)
TEM樣本制備:透射電子顯微鏡技術(shù)指南
![TEM樣本<b class='flag-5'>制備</b>:透射電子顯微鏡技術(shù)指南](https://file1.elecfans.com/web3/M00/04/C5/wKgZO2d3prqAJ42NAAAkOW04mOY311.png)
晶圓為什么要減薄
不同材料的 EBSD 樣品制備方法
![不同材料的 EBSD <b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>方法](https://file1.elecfans.com/web3/M00/02/A8/wKgZO2dhIuaAAPlyAACHwW1JIrQ954.png)
FIB技術(shù)在透射樣品制備中的應(yīng)用
![FIB技術(shù)在透射<b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>中的應(yīng)用](https://file1.elecfans.com/web3/M00/02/89/wKgZO2df77-AcXI9AAB4yGCEl4E183.png)
EBSD樣品制備技術(shù)的對(duì)比分析
![EBSD<b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>技術(shù)的對(duì)比分析](https://file1.elecfans.com/web3/M00/01/31/wKgZO2dRVkWAI9BMAADi0lDN0mA157.png)
透射電鏡(TEM)樣品制備方法
![透射電鏡(TEM)<b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>方法](https://file1.elecfans.com/web2/M00/0D/49/wKgaomdFQouAEXnAAABYsrmXqNI866.png)
TEM樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧
![TEM<b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>中載網(wǎng)的選擇技巧](https://file1.elecfans.com/web1/M00/F4/3F/wKgZoWcoU8KAcg-sAAB3RjrlChw519.png)
FIB在TEM樣品制備中的利與弊
![FIB在TEM<b class='flag-5'>樣品</b><b class='flag-5'>制備</b>中的利與弊](https://file1.elecfans.com/web1/M00/F4/1E/wKgaoWckc32AOQmnAABHht5wURo213.png)
評(píng)論