作者:Paul Perrault and Mahdi Sadeghi
加速度計(jì)是奇妙的傳感器,能夠感應(yīng)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)加速度,從重力方向到橋梁開始失效的細(xì)微運(yùn)動(dòng)。這些傳感器的范圍從手機(jī)級(jí)設(shè)備(當(dāng)您傾斜顯示器時(shí)會(huì)改變顯示器的方向)到有助于導(dǎo)航軍用車輛或航天器的出口控制戰(zhàn)術(shù)級(jí)設(shè)備。1但是,與大多數(shù)傳感器一樣,傳感器在實(shí)驗(yàn)室或臺(tái)式中表現(xiàn)良好是一回事。在面對(duì)狂野和不受控制的環(huán)境和溫度壓力時(shí),在系統(tǒng)級(jí)別獲得這種性能是另一回事。當(dāng)加速度計(jì)像人類一樣,在其一生中經(jīng)歷前所未有的壓力時(shí),系統(tǒng)可能會(huì)由于這些壓力的影響而做出反應(yīng)并失敗。
高精度傾斜傳感系統(tǒng)通常經(jīng)過校準(zhǔn),以實(shí)現(xiàn)優(yōu)于 1° 的傾斜精度。利用市場(chǎng)領(lǐng)先的超低噪聲和高穩(wěn)定性加速度計(jì),如ADXL354或ADXL355,通過適當(dāng)校準(zhǔn)可觀察到的誤差源,可以實(shí)現(xiàn)0.005°的傾斜精度。2然而,只有適當(dāng)減輕應(yīng)力,才能達(dá)到這種精度水平。例如,傳感器上的壓縮/拉伸應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致高達(dá)20 mg的偏移,從而使傾斜誤差超過1°。
本文回顧了使用加速度計(jì)的高精度角度/傾斜傳感系統(tǒng)的性能指標(biāo)。首先,在微觀層面了解傳感器設(shè)計(jì)本身,以便更好地理解微米級(jí)應(yīng)力和應(yīng)變的影響。如果不遵循整體機(jī)械和物理設(shè)計(jì)方法,它將顯示一些令人驚訝的結(jié)果。最后,它將以設(shè)計(jì)人員可以采取的切實(shí)步驟結(jié)束,以最大限度地提高最苛刻應(yīng)用中的性能。
ADXL35x 傳感器設(shè)計(jì)
基于MEMS的加速度計(jì)可以在價(jià)格和性能方面涵蓋從消費(fèi)類產(chǎn)品到軍事傳感的所有范圍。ADI公司產(chǎn)品組合中性能最佳的低噪聲加速度器是ADXL354和ADXL355,它們支持精密傾斜檢測(cè)、地震成像等應(yīng)用,以及機(jī)器人和平臺(tái)穩(wěn)定領(lǐng)域的許多新興應(yīng)用。ADXL355具有市場(chǎng)領(lǐng)先的特性,使其在高精度傾斜/角度檢測(cè)應(yīng)用中獨(dú)樹一幟,如出色的噪聲、失調(diào)、可重復(fù)性和溫度相關(guān)失調(diào),以及振動(dòng)校正和跨軸靈敏度等二階效應(yīng)。作為高精度加速度計(jì)的示例,將詳細(xì)探討該特定傳感器;但是,本節(jié)討論的原理適用于絕大多數(shù)3軸MEMS加速度計(jì)。
為了更好地理解ADXL355實(shí)現(xiàn)最佳性能的設(shè)計(jì)考慮因素,首先回顧傳感器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是有益的,這將闡明三個(gè)軸對(duì)環(huán)境參數(shù)(例如,面外應(yīng)力)產(chǎn)生不同響應(yīng)的原因。在許多情況下,這種面外應(yīng)力是由傳感器z軸上的溫度梯度引起的。
ADXL35x系列加速度計(jì)由彈簧質(zhì)量系統(tǒng)組成,與許多其他MEMS加速度計(jì)類似。質(zhì)量響應(yīng)于外部加速度(如重力的靜態(tài)加速度或速度變化的動(dòng)態(tài)加速度)而移動(dòng),其物理位移由轉(zhuǎn)導(dǎo)機(jī)制感知。MEMS傳感器中最常見的轉(zhuǎn)導(dǎo)機(jī)制是電容式、壓阻式、壓電式或磁性。ADXL355采用容性轉(zhuǎn)導(dǎo)機(jī)制,通過電容變化感測(cè)運(yùn)動(dòng),電容變化通過讀出電路轉(zhuǎn)換為電壓或電流輸出。雖然ADXL355對(duì)硅芯片上的所有三個(gè)軸傳感器均采用電容式轉(zhuǎn)導(dǎo)機(jī)制,但X/Y傳感器和Z傳感器具有兩種根本不同的電容式檢測(cè)架構(gòu)。X/Y 傳感器基于差分面內(nèi)手指,而 Z 傳感器是面外平行板電容式傳感器,如圖 1 所示。
圖1.ADXL355的傳感器架構(gòu)。對(duì)于 X/Y 傳感器,隨著證明質(zhì)量的移動(dòng),錨定手指和連接到證明質(zhì)量的手指之間的電容會(huì)發(fā)生變化。z 軸傳感器上的質(zhì)量不平衡允許對(duì) z 軸加速度進(jìn)行面外感應(yīng)。
如果傳感器上有壓縮應(yīng)力或拉伸應(yīng)力,MEMS模具就會(huì)翹曲。由于證明質(zhì)量用彈簧懸浮在基板上,因此它不會(huì)與基板串聯(lián)翹曲,因此,質(zhì)量與基板之間的間隙會(huì)發(fā)生變化。對(duì)于 X/Y 傳感器,間隙不在電容靈敏度方向上,因?yàn)槊鎯?nèi)位移對(duì)手指的電容變化影響最大。這是由于條紋電場(chǎng)的補(bǔ)償作用。然而,對(duì)于Z傳感器來說,基板和證明質(zhì)量之間的間隙確實(shí)是傳感間隙。因此,它對(duì)Z傳感器有直接影響,因?yàn)樗行У馗淖兞薢傳感器的傳感間隙。另一個(gè)加劇效應(yīng)是Z傳感器位于模具的中心,對(duì)于模具上的任何給定應(yīng)力,翹曲最大化。
除了物理應(yīng)力外,由于大多數(shù)應(yīng)用中z軸的傳熱不對(duì)稱性,z軸傳感器上的溫度梯度也很常見。在典型應(yīng)用中,傳感器焊接到印刷電路板(PCB)上,整個(gè)系統(tǒng)都在一個(gè)封裝內(nèi)。X 和 Y 傳熱主要是通過封裝周邊的焊點(diǎn)傳導(dǎo)到對(duì)稱的 PCB。然而,在z方向上,當(dāng)熱量通過空氣并流出封裝時(shí),由于芯片頂部的焊接和對(duì)流,熱量傳遞是通過底部的傳導(dǎo)進(jìn)行的。由于這種不匹配,z軸上將存在殘余溫差梯度。與物理壓縮/拉伸應(yīng)力一樣,這將在 z 軸上產(chǎn)生不是由加速度引起的偏移。
環(huán)境壓力下的數(shù)據(jù)審查
雖然ADXL354(模擬輸出)加速度計(jì)可以連接到任何模擬數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,但ADXL355評(píng)估板經(jīng)過優(yōu)化,可直接放置在客戶系統(tǒng)中,以便于與現(xiàn)有嵌入式系統(tǒng)進(jìn)行原型設(shè)計(jì)。本文使用了小尺寸評(píng)估板EVAL-ADXL35x。為了進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄和分析,EVAL-ADXL35x連接到SDP-K1微控制器板,并使用Mbed環(huán)境進(jìn)行編程。Mbed 是 ARM 微控制器板的開源免費(fèi)開發(fā)環(huán)境。它有一個(gè)在線編譯器,可讓您快速入門。SDP-K1 板連接到 PC 時(shí)顯示為外部驅(qū)動(dòng)器。要對(duì)電路板進(jìn)行編程,只需將編譯器生成的二進(jìn)制文件拖放到 SDP-K1 驅(qū)動(dòng)器中即可。??3, 4
一旦Mbed系統(tǒng)通過UART記錄數(shù)據(jù),我們現(xiàn)在有一個(gè)基本的測(cè)試環(huán)境,用于試用ADXL355實(shí)驗(yàn),并將輸出流式傳輸?shù)胶?jiǎn)單的終端進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄和進(jìn)一步分析。需要注意的是,無論加速度計(jì)的輸出數(shù)據(jù)速率如何,Mbed代碼都只是在2 Hz處記錄寄存器。 在 Mbed 中,日志記錄速度可能比這更快,但這超出了本文的范圍。
一個(gè)好的起始數(shù)據(jù)集有助于建立基線性能,并驗(yàn)證我們大多數(shù)后續(xù)數(shù)據(jù)分析中預(yù)期的噪聲水平。使用Panavise鉸接虎鉗臂5具有吸盤安裝座,可在工作臺(tái)設(shè)置中具有相當(dāng)穩(wěn)定的工作表面,因?yàn)樗吃诓AЧぷ鞅砻嫔?。在這種配置下,ADXL355板(從側(cè)面固定)與實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式一樣穩(wěn)定。更高級(jí)的高級(jí)用戶可能會(huì)注意到,這種虎鉗支架可能會(huì)有一些傾倒運(yùn)動(dòng)的風(fēng)險(xiǎn),但這是一種簡(jiǎn)單且經(jīng)濟(jì)有效的方法,允許根據(jù)重力改變方向。如圖2所示,將ADXL355電路板放置在支架中,捕獲一組60秒的數(shù)據(jù)用于首次分析。
圖2.使用EVAL-ADXL35x、SDP-K1和PanaVise卡口進(jìn)行測(cè)試設(shè)置。
圖3.不帶低通濾波器的ADXL355數(shù)據(jù)(寄存器0x28=0x00),耗時(shí)超過1分鐘。
取120個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)并測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差顯示噪聲在800 μg至1.1 mg范圍內(nèi)。根據(jù)數(shù)據(jù)手冊(cè)中的ADXL355典型性能規(guī)格,我們看到噪聲密度為25 μg/√Hz。使用默認(rèn)的低通濾波器(LPF)設(shè)置時(shí),加速度計(jì)的帶寬約為1000 Hz。 假設(shè)使用磚墻濾波器,噪聲預(yù)計(jì)為25 μ g/√Hz× √1000 Hz = 791 μg rms。第一個(gè)數(shù)據(jù)集通過了第一個(gè)嗅探測(cè)試。準(zhǔn)確地說,從噪聲頻譜密度到均方根噪聲的轉(zhuǎn)換應(yīng)該有一個(gè)因子來表示數(shù)字LPF沒有無限滾降(即磚墻濾波器)的事實(shí)。有些器件使用1.6×系數(shù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的RC單極點(diǎn)20 dB/十倍頻程滾降,但ADXL355數(shù)字低通濾波器不是單極點(diǎn)RC濾波器。無論如何,假設(shè)系數(shù)在1到1.6之間至少可以讓我們進(jìn)入噪聲期望的正確近似值。
對(duì)于許多精密傳感應(yīng)用,1000 Hz 的帶寬對(duì)于被測(cè)信號(hào)來說太寬了。為了幫助優(yōu)化帶寬和噪聲之間的權(quán)衡空間,ADXL355內(nèi)置數(shù)字低通濾波器。對(duì)于下一個(gè)測(cè)試,我們將LPF設(shè)置為4 Hz,這應(yīng)該使噪聲凈降低√1000 / √4倍≈16。這在 Mbed 環(huán)境中使用圖 4 所示的簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單完成,而數(shù)據(jù)如圖 5 所示。6濾波后,噪聲明顯如預(yù)期下降。如表 1 所示。
圖4.用于配置寄存器的 Mbed 代碼。
圖5.LPF設(shè)置為4 Hz(寄存器0x28=0x08)的ADXL355數(shù)據(jù),耗時(shí)超過1分鐘。
噪聲 | X | Y | Z | |||
理論 (μg) | 測(cè)量 (μg) | 理論 (μg) | 測(cè)量 (μg) | 理論 (μg) | 測(cè)量 (μg) | |
無過濾器 | 791 | 923 | 791 | 1139 | 791 | 805 |
4 Hz 濾波器 | 50 | 58 | 50 | 185 | 50 | 63 |
表1顯示,采用當(dāng)前設(shè)置的y軸噪聲高于理論預(yù)期。在調(diào)查了可能的原因后,我們注意到額外的筆記本電腦和其他實(shí)驗(yàn)室設(shè)備風(fēng)扇振動(dòng)可能在 y 軸上表現(xiàn)為噪音。為了測(cè)試這一點(diǎn),旋轉(zhuǎn)虎鉗以將x軸放置在y軸用于此測(cè)試的位置,并且較高的噪聲軸確實(shí)移動(dòng)到x軸。因此,軸之間的噪聲差異似乎是儀器噪聲,而不是加速度計(jì)軸上噪聲水平的內(nèi)在差異。這種類型的測(cè)試實(shí)際上是低噪聲加速度計(jì)的“Hello World”測(cè)試,因此它為進(jìn)一步測(cè)試提供了信心。
為了了解熱沖擊對(duì)ADXL355的影響有多大,我們使用了熱風(fēng)槍。7并將其置于較冷的空氣模式(實(shí)際上比室溫高幾度),以便對(duì)加速度計(jì)施加熱應(yīng)力。溫度也使用ADXL355的板載溫度傳感器記錄。該實(shí)驗(yàn)使用虎鉗垂直放置ADXL355,以便氣槍可以在封裝頂部吹氣。該實(shí)驗(yàn)的預(yù)期結(jié)果是,隨著芯片升溫,偏移的溫度系數(shù)會(huì)出現(xiàn),但任何熱應(yīng)力差分幾乎都會(huì)立即出現(xiàn)。換句話說,如果各個(gè)傳感軸對(duì)差熱應(yīng)力敏感,則預(yù)計(jì)加速度計(jì)輸出會(huì)出現(xiàn)凸起。在數(shù)據(jù)安靜時(shí)從數(shù)據(jù)中刪除平均值,可以同時(shí)輕松比較所有三個(gè)軸。結(jié)果如圖 6 所示。
圖6.ADXL355在冷設(shè)置下使用熱風(fēng)槍的熱沖擊數(shù)據(jù)。
如圖6所示,氣槍將稍熱的空氣吹到陶瓷封裝上,陶瓷封裝對(duì)環(huán)境密封。這導(dǎo)致 z 軸偏移 ~1500 μ g,y 軸偏移量小得多(可能為 ~100 μg),并且 x 軸幾乎沒有偏移。雖然許多最終客戶產(chǎn)品在PCB頂部有一些分布差熱應(yīng)力的外殼,但重要的是要考慮這些類型的快速瞬態(tài)應(yīng)力,這些應(yīng)力可能表現(xiàn)為失調(diào)誤差,如這個(gè)簡(jiǎn)單的測(cè)試所示。
圖7顯示了熱風(fēng)槍關(guān)閉時(shí)的相反極性效應(yīng)。
圖7.ADXL355熱沖擊,氣槍在t = 240秒時(shí)關(guān)閉。
當(dāng)氣槍在加熱環(huán)境中使用時(shí),這種效果更加明顯;也就是說,當(dāng)溫度沖擊幅度較大時(shí)。Weller氣槍的輸出大約在~400°C左右,因此遠(yuǎn)距離使用以防止過熱或熱沖擊造成的損壞非常重要。在該測(cè)試中,熱空氣在距離ADXL355約15 cm處吹出,導(dǎo)致~40°C的幾乎瞬時(shí)溫度沖擊,如圖8所示。
圖8.帶熱風(fēng)槍的ADXL355熱沖擊。
盡管熱沖擊量相當(dāng)大,但在這個(gè)實(shí)驗(yàn)中,z軸的響應(yīng)速度比x軸和y軸快得多,這仍然令人驚訝。使用數(shù)據(jù)手冊(cè)中的偏移溫度系數(shù),當(dāng)溫度偏移40°C時(shí),預(yù)計(jì)在40 °C = 4 m g偏移×觀察到約100 μg/°C,x軸和y軸最終開始顯示。然而,注意到z軸上幾乎瞬間的10 mg偏移表明,這是一種正在處理的不同效應(yīng),而不是由于溫度引起的偏移。這是傳感器上的熱應(yīng)力/應(yīng)變差分的結(jié)果,在z軸上最明顯,因?yàn)樵搨鞲衅鲗?duì)微分應(yīng)力比x和y更敏感,如本文前面所述。
ADXL355的典型失調(diào)溫度系數(shù)(失調(diào)溫度系數(shù))在數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定為±100 μg/°C。了解此處使用的測(cè)試方法很重要,因?yàn)槠茰囟认禂?shù)是用烤箱中的加速度計(jì)測(cè)量的。烘箱在傳感器的溫度范圍內(nèi)緩慢斜坡,并測(cè)量偏移的斜率。一個(gè)典型的示例如圖 9 所示。
圖9.ADXL355基于烘箱的溫度表征。
在這個(gè)情節(jié)中有兩個(gè)效果在起作用。一個(gè)是數(shù)據(jù)手冊(cè)中表征和記錄的偏移溫度系數(shù)。這可以解釋為從 –45°C 到 +120°C 的許多部件的平均值,因?yàn)榭鞠湟?5°C/min 的速度升溫,但沒有任何浸泡時(shí)間。這將從類似于圖9的曲線得出,在165°C或約109 μg/°C時(shí),其范圍略高于100 μg/°C的典型值,但在數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定的最小和最大范圍內(nèi)。但是,請(qǐng)考慮圖9的右側(cè),因?yàn)槠骷^續(xù)在120°C下浸泡約15分鐘。當(dāng)器件處于高溫時(shí),實(shí)際偏移量下降并改善。在這種情況下,平均值在165°C或約60 μg/°C偏移溫度系數(shù)下接近10 mg。第二個(gè)影響是差熱應(yīng)力,因?yàn)閭鞲衅髯C明質(zhì)量在整個(gè)硅器件的溫度上穩(wěn)定下來,然后應(yīng)力降低。這是在圖6至圖8所示的氣槍測(cè)試中看到的效應(yīng),重要的是要了解這種效應(yīng)在比數(shù)據(jù)手冊(cè)中列出的長(zhǎng)期失調(diào)溫度系數(shù)更快的時(shí)間尺度上工作。這對(duì)于許多系統(tǒng)來說可能是有價(jià)值的,由于其整體熱動(dòng)力學(xué),它們的升溫速度可能比5°C/min慢得多。
影響ADXL355穩(wěn)定性的其他因素
一旦很好地理解了設(shè)計(jì)中的熱應(yīng)力,慣性傳感器的另一個(gè)重要方面是其長(zhǎng)期穩(wěn)定性或可重復(fù)性。重復(fù)性定義為在相同條件下長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)量的精度。例如,在很長(zhǎng)一段時(shí)間內(nèi),在相同溫度下對(duì)重力場(chǎng)進(jìn)行兩次測(cè)量,看看它們的匹配程度。在無法適應(yīng)定期維護(hù)校準(zhǔn)的應(yīng)用中評(píng)估傳感器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性時(shí),偏移和靈敏度的可重復(fù)性至關(guān)重要。許多傳感器制造商沒有在其數(shù)據(jù)手冊(cè)中描述或指定長(zhǎng)期穩(wěn)定性。在ADI公司的ADXL355數(shù)據(jù)手冊(cè)中,預(yù)測(cè)的重復(fù)性為10年,包括高溫工作壽命測(cè)試(HTOL)(T一個(gè)= 150°C, V供應(yīng)= 3.6 V和1000小時(shí)),測(cè)量的溫度循環(huán)(?55°C至+125°C和1000個(gè)周期),速度隨機(jī)游走,寬帶噪聲和溫度滯后。ADXL35x系列具有出色的重復(fù)性,如數(shù)據(jù)手冊(cè)所示,ADXL355對(duì)于X/Y和Z傳感器的重復(fù)性分別為±2 mg和±3 mg。
在穩(wěn)定的機(jī)械、環(huán)境和慣性條件下的可重復(fù)性遵循與測(cè)量時(shí)間相關(guān)的平方根定律。例如,要獲得 x 軸 2.5 年的偏移重復(fù)性(最終產(chǎn)品的任務(wù)曲線可能更短),請(qǐng)使用以下公式:±2 m g × √(2.5 年/10 年)= ±1 mg。圖 10 顯示了 23 天內(nèi) 32 個(gè)器件的 0 g 失調(diào)漂移的 HTOL 測(cè)試結(jié)果示例。在此圖中可以清楚地觀察到平方根定律。還應(yīng)該強(qiáng)調(diào)的是,由于MEMS傳感器制造過程中的工藝差異,每個(gè)部件的行為都不同,有些部件的性能比其他部件更好。
圖 10.ADXL355 的 500 小時(shí)長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
機(jī)械系統(tǒng)設(shè)計(jì)建議
根據(jù)前面討論的知識(shí),很明顯,機(jī)械安裝接口和外殼設(shè)計(jì)將有助于ADXL355傳感器的整體性能,因?yàn)樗鼤?huì)影響傳播到傳感器的物理應(yīng)力。通常,機(jī)械安裝,外殼和傳感器形成二階(或更高)系統(tǒng);因此,其響應(yīng)在共振或過阻尼之間變化。機(jī)械支持系統(tǒng)具有代表這些二階系統(tǒng)的模式(由共振頻率和品質(zhì)因數(shù)定義)。在大多數(shù)情況下,目標(biāo)是了解這些因素并盡量減少它們對(duì)傳感系統(tǒng)的影響。因此,應(yīng)選擇傳感器封裝的任何外殼的幾何形狀以及所有接口和材料,以避免ADXL355應(yīng)用帶寬內(nèi)的機(jī)械衰減(由于過阻尼)或放大(由于諧振)。此類設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)的詳細(xì)信息超出了本文的范圍;但是,簡(jiǎn)要列出了一些實(shí)用項(xiàng)目:
PCB、安裝和外殼
將 PCB 牢固地連接到剛體基板上。使用多個(gè)安裝螺釘與PCB背面的粘合劑相結(jié)合可提供最佳支撐。
將傳感器靠近安裝螺釘或緊固件放置。如果PCB幾何形狀很大(幾英寸),請(qǐng)?jiān)陔娐钒逯虚g使用多個(gè)安裝螺釘,以避免PCB的低頻振動(dòng),這些振動(dòng)會(huì)耦合到加速度計(jì)并進(jìn)行測(cè)量。
如果 PCB 僅由凹槽/舌形結(jié)構(gòu)機(jī)械支撐,請(qǐng)使用較厚的 PCB(建議厚度大于 2 毫米)。對(duì)于幾何形狀較大的PCB, 增加厚度以保持系統(tǒng)的剛度.使用有限元分析(如ANSYS或類似技術(shù))為特定設(shè)計(jì)提供最佳的PCB幾何形狀和厚度。
對(duì)于結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)等長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量傳感器的應(yīng)用,傳感器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性至關(guān)重要。應(yīng)選擇封裝、PCB和粘合劑材料,以盡量減少機(jī)械性能隨時(shí)間推移的退化或變化,這可能會(huì)導(dǎo)致傳感器上的額外應(yīng)力,從而造成偏移。
避免對(duì)外殼的固有頻率做出假設(shè)。在簡(jiǎn)單外殼的情況下計(jì)算固有振動(dòng)模式,在更復(fù)雜的外殼設(shè)計(jì)的情況下計(jì)算有限元分析將是有用的。
事實(shí)證明,將ADXL355焊接到電路板上會(huì)產(chǎn)生應(yīng)力積聚,會(huì)導(dǎo)致高達(dá)幾毫克的偏移。為了減輕這種影響,建議在PCB上通過銅走線的PCB著陸圖案、導(dǎo)熱焊盤和傳導(dǎo)路徑對(duì)稱。請(qǐng)嚴(yán)格遵循ADXL355數(shù)據(jù)手冊(cè)中提供的焊接指南。還觀察到,在某些情況下,在任何校準(zhǔn)之前進(jìn)行焊接退火或熱循環(huán)有助于緩解應(yīng)力積聚并管理長(zhǎng)期穩(wěn)定性問題。
灌封化合物
灌封化合物廣泛用于固定外殼內(nèi)的電子設(shè)備。如果傳感器封裝是包覆成型塑料,例如焊盤柵格陣列(LGA),則強(qiáng)烈建議不要使用灌封化合物,因?yàn)樗鼈兊臏囟认禂?shù)(TC)與外殼材料不匹配,導(dǎo)致壓力直接施加在傳感器上,然后偏移。然而,ADXL355采用密封陶瓷封裝,可顯著保護(hù)傳感器免受TC效應(yīng)的影響。但是,由于材料隨著時(shí)間的推移而退化,灌封化合物仍然會(huì)導(dǎo)致PCB上的應(yīng)力積聚,從而可能通過硅芯片的小翹曲對(duì)傳感器造成應(yīng)變。通常建議避免在需要高穩(wěn)定性的應(yīng)用中灌封傳感器。低應(yīng)力保形涂層(如聚對(duì)二甲苯C)可以提供某種形式的防潮層作為灌封的替代品。8
氣流、傳熱和熱平衡
為了實(shí)現(xiàn)最佳的傳感器性能,在優(yōu)化溫度穩(wěn)定性的環(huán)境中設(shè)計(jì)、定位和利用傳感系統(tǒng)非常重要。如本文所示,由于傳感器芯片上的熱應(yīng)力差,即使是很小的溫度變化也會(huì)顯示出意想不到的結(jié)果。以下是一些提示:
傳感器應(yīng)放置在PCB上,以使傳感器上的熱梯度最小。例如,線性穩(wěn)壓器可以產(chǎn)生大量熱量;因此,它們靠近傳感器會(huì)導(dǎo)致MEMS兩端的溫度梯度,該梯度可能隨穩(wěn)壓器中的電流輸出而變化。
如果可能,傳感器模塊應(yīng)部署在遠(yuǎn)離氣流的區(qū)域(例如HVAC),以避免頻繁的溫度波動(dòng)。如果不可能,封裝外部或內(nèi)部的熱隔離是有幫助的,可以通過隔熱來實(shí)現(xiàn)。請(qǐng)注意,需要考慮傳導(dǎo)和對(duì)流熱路徑。
建議選擇外殼的熱質(zhì)量,以便在環(huán)境熱變化不可避免的應(yīng)用中抑制環(huán)境熱波動(dòng)。
結(jié)論
本文介紹了高精度ADXL355加速度計(jì)如何在不充分考慮環(huán)境和機(jī)械效應(yīng)的情況下降低性能。通過整體設(shè)計(jì)實(shí)踐和對(duì)系統(tǒng)級(jí)別的關(guān)注,挑剔的工程師可以為他們的傳感器系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)出色的性能。由于我們中的許多人在生活中都經(jīng)歷了前所未有的壓力,因此認(rèn)識(shí)到,與加速度計(jì)類似,殺死我們的從來都不是壓力,而是我們對(duì)壓力的反應(yīng)!
審核編輯:郭婷
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