下圖是一個(gè)典型的EDA仿真驗(yàn)證環(huán)境，其中主要的組件就是激勵生成、檢查和覆蓋率收集。

這三者缺一不可。

激勵生成是我們驗(yàn)證環(huán)境的第一個(gè)關(guān)鍵組件，用于驅(qū)動DUT到一個(gè)預(yù)期的狀態(tài)。

在DUT正在處理激勵以及完成激勵處理之后我們需要實(shí)時(shí)的或者離線的checker機(jī)制來確保芯片按照預(yù)期行為工作。

覆蓋率是最終的量化機(jī)制、也可以理解為激勵的反饋機(jī)制。我們不斷地激勵著DUT，同時(shí)也在進(jìn)行檢查，整個(gè)過程中通過覆蓋率的量化來反饋驗(yàn)證工程師有沒有驗(yàn)證完成？哪里還需要繼續(xù)驗(yàn)證？

下圖是覆蓋率反饋到激勵，以及表明驗(yàn)證是否完成的一個(gè)流程。在這個(gè)流程中，我們不斷地根據(jù)覆蓋率調(diào)整激勵發(fā)送的隨機(jī)機(jī)制，直到只剩幾個(gè)邊界場景很難覆蓋到，我們再構(gòu)造定向用例。

這是一個(gè)比較高效的現(xiàn)代EDA仿真驗(yàn)證流程，整個(gè)流程中激勵生成、檢查機(jī)制和覆蓋率量化都需要保證完備性。

完備的激勵+完備的檢查機(jī)制+完備的覆蓋率量化才能夠獲得有信心的驗(yàn)證結(jié)果，缺一不可。另外，這三者中的任何一個(gè)做到絕對的完備就是非常難的。

如果覆蓋率完備了，也可以保證激勵的完備。如果發(fā)現(xiàn)用例構(gòu)造過程非常困難，大概率是驗(yàn)證環(huán)境架構(gòu)的不合理。要么趨向于定向用例，你需要維護(hù)非常多的sequence，經(jīng)常一個(gè)需求會讓你改動多個(gè)sequence；要么趨向完全隨機(jī)，可控性比較差。這兩個(gè)情況都降低驗(yàn)證效率。

checker是必須要保證完備的，否則就算你激勵覆蓋到了某個(gè)場景，你也識別不出來問題。驗(yàn)證的重點(diǎn)是發(fā)現(xiàn)所有的bug，然后才是盡可能地保證激勵完備性。如果非要分個(gè)優(yōu)先級，個(gè)人覺得checker的完備要高于激勵的完備。因?yàn)槿绻氵z漏了某個(gè)bug，更上層的驗(yàn)證環(huán)境也許可以通過集成你的checker來發(fā)現(xiàn)問題。

覆蓋率也非常重要。否則就是在黑暗中胡亂開槍射擊，你不知道去過哪里，也就不知道后面要往哪里去了。

保證激勵、檢查和覆蓋率的完備，全部都是難點(diǎn)。

審核編輯：劉清