電光調(diào)制器的性能主要由幾個參數(shù)決定,相對而言,插損、半波電壓、帶寬和消光比是最常見的,也是最經(jīng)常問到的問題,本章節(jié)將介紹iXblue電光調(diào)制器常見參數(shù)的測量方法。
**1.1 插損 ** (Insertion loss-IL)
調(diào)制器的損耗主要是由于幾個光傳輸過程中造成的光強衰減,例如光纖和鈮酸鋰波導(dǎo)之間的耦合、光在波導(dǎo)中傳輸?shù)膿p耗等。對于強度調(diào)制器,需要通過調(diào)節(jié)調(diào)制器的DC偏壓(Pin 1&2),以測量調(diào)制器的最大傳輸(輸出)功率。對于相位調(diào)制器,則無需偏壓控制,直接測量輸入和輸出功率。需要注意的是有沒有光學(xué)接頭(通常為FC/APC),調(diào)制器的測量方法有區(qū)別,常規(guī)產(chǎn)品都是帶光纖接頭的,所以這里我們僅僅介紹這種測量方法。無光纖接頭的測量方法,請聯(lián)系我們提供詳細的調(diào)制器手冊。
將電光調(diào)制器輸入功率和輸出功率之差定義為插損:
接下來的部分描述關(guān)于帶光纖接頭的電光強度調(diào)制器的測量。
參考光功率的測量 ( Pref ):
強度調(diào)制器最大輸出功率測量 ( Pout ):
備注:該測量包含因光纖接頭錯位及法蘭匹配問題所帶來的不確定性。
鑒于每個器件(接頭、法蘭)的質(zhì)量和兼容性,預(yù)估光損耗如下:
FC/APC @1550 nm: DIL ≤ 0.25 dB 每個接頭
FC/APC @1060 nm: DIL ≤ 0.4 dB 每個接頭
FC/APC @850 nm: DIL ≤ 0.5 dB 每個接頭
1.2 靜態(tài)消光比 (Static Extinction Ratio - SER)
靜態(tài)消光比僅僅適用于強度調(diào)制器,而非相位調(diào)制器。其被定義為,在無外接射頻RF電信號的時候,強度調(diào)制器輸出光的ON-(or Max)狀態(tài)和OFF-(or Min)狀態(tài)之間的最大動態(tài)范圍。通過調(diào)節(jié)調(diào)制器的DC偏壓(Pin 1&2),以測量調(diào)制器的最大輸出(ON)和最小輸出(OFF)光功率,通過dB值表示:
備注:用于調(diào)節(jié)Pmin的DC電壓可正可負。我們建議選擇最接近光功率為零的那個Min點作為參考(以便最大程度的降低DC漂移)。如下圖,0V左右兩邊各有一個Min點,左邊Min點所對應(yīng)的optical power數(shù)值更接近零。
1.3 動態(tài)消光比(Dynamic Extinction Ratio - DER )
動態(tài)消光比的測量需要接入射頻RF電信號在調(diào)制器的射頻端口,并且DC偏壓設(shè)置在所做應(yīng)用的合適工作點上(通常Quad+, Quad-, Min,詳見調(diào)制器的偏壓控制文章)。所以,動態(tài)消光比是和最終應(yīng)用相關(guān)的。例如數(shù)字調(diào)制方式(10Gb/s,通過MX-LN-10調(diào)制),如下圖,通過PRBS產(chǎn)生射頻電信號,偏壓控制在Quad點上,通過高速示波器,我們測量的眼圖最高和最低水平的比值-動態(tài)消光比是18.6dB(見示波器測量數(shù)值Ext. Ratio)。
沒有特殊的物理原因解釋為什么動態(tài)消光比和靜態(tài)消光比不一樣。但是,動態(tài)消光比通常測量的要比靜態(tài)消光比低一些。我們的簡單解釋是,動態(tài)消光比測試中由于引入了射頻信號、射頻放大器、高速探測器和示波器等更多器件和設(shè)備,這些額外的噪聲會導(dǎo)致動態(tài)消光比略低。
1.4 半波電壓 (Vπ**) **
通常有兩種半波電壓的定義:直流偏壓的半波電壓VπDC和射頻半波電壓VπRF,下面將分別介紹。
1.4.1 **直流偏壓的半波電壓V~ π~DC 的測量(DC 偏壓端口)**
直流偏壓的半波電壓VπDC僅僅適用于強度調(diào)制器,而非相位調(diào)制器(無偏壓接口)。VπDC是電光調(diào)制器,通過DC偏壓調(diào)節(jié),傳輸?shù)墓獠ㄒ胍粋€π相移所需的電壓。對于強度調(diào)制器,即M-Z干涉儀,半波電壓(V π )對應(yīng)為將光輸出功率從最大Pmax改變?yōu)樽钚min時的DC偏壓值,(參考調(diào)制器的傳輸曲線 MTF),其測量方法同前面靜態(tài)消光比的測量,只不過此時記錄電壓值的差值。
強度調(diào)制器傳輸曲線
1.4.2 射頻半波電壓V~ π~RF的測量(RF 射頻端口)
射頻半波電壓VπRF是射頻信號源的電壓注入RF射頻端口,輸出的光波一個p相移所需的電壓。對于強度調(diào)制器,該電壓需將光輸出功率從為最小P min (OFF狀態(tài))調(diào)制到最大P max (ON 狀態(tài))。對于數(shù)字調(diào)制,如前面眼圖,眼圖的張開(強度)的大小是通過改變射頻驅(qū)動電壓的大小而優(yōu)化得到最好的動態(tài)消光比,此時注入調(diào)制器的射頻電壓稱為射頻半波電壓VπRF。
1.4.2.1 強度調(diào)制器
1.4.2.2 相位調(diào)制器
對于相位調(diào)制器測量VπRF,必須將相位的變化轉(zhuǎn)變?yōu)閺姸鹊淖兓?。這有很多方法:其一包括45度入射相位調(diào)制器波導(dǎo)(偏振波導(dǎo)APE工藝不適用,通常iXblue 1微米及其以下波長調(diào)制器為偏振波導(dǎo)),建立一個干涉儀系統(tǒng)。其二可通過在一路光路中加入相位調(diào)制器,建議法布里-珀羅干涉儀。更多方法,請參考我們應(yīng)用指南”相位調(diào)制器帶寬測試”應(yīng)用指南。
1.5 電回損****S11(Electrical return loss)及電光帶寬S21(Electro-optical bandwidth)
S11是電回損,定義為射頻電信號從調(diào)制器RF端口反射回信號源的比例(dB表示)。S21定義為注入調(diào)制器射頻端口的電信號-3dB高頻截止帶寬。調(diào)制器的RF射頻端的高頻效率通常由電回損和電光帶寬決定,用高速儀器比如光電探測器和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可測量出這些參數(shù)。強度調(diào)制器需要設(shè)置在正確的直流偏壓點,并且輸入射頻弱信號(S11一般0dBm數(shù)量級,S21一般-15dBm數(shù)量級),S11需要記錄它在整個頻率段的最大數(shù)值,S21測量時網(wǎng)絡(luò)分析儀和高速光探測器需要被校準(zhǔn)和去嵌,以確保測量出的電光帶寬僅僅是調(diào)制器本身的。
Electro-optical bandwith (S 11 )
Electro-optical bandwith (S~21~)
特殊說明:調(diào)制器的帶寬我們定義為-3dB帶寬高頻截止頻率,此截止帶寬并非指完全截止,超過此頻率就無法使用;而是射頻驅(qū)動功率加載到調(diào)制器時,衰減一半功率的頻率點,超過-3dB帶寬,調(diào)制器仍然可以使用,僅僅是射頻衰減更高,調(diào)制效果變差。有些產(chǎn)品也會定義-6dB帶寬,或者可用帶寬(usable bandwidth)等參數(shù)。
iXblue廠家命名方式及其-3dB帶寬:
-10: >10GHz, 甚至14GHz
-20: >18GHz
-40: >28GHz
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光纖
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帶寬
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電光調(diào)制器
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