CMUT首先由M.I.Haller提出。CMUT 換能器是由多層結(jié)構(gòu)和多層材料構(gòu)成。CMUT電容單元結(jié)構(gòu)如圖 2 所示,從上到下依次為金屬鋁上電極氧化硅電氣隔離層、絕緣體上硅(silicon on insulator,SOI)晶圓頂層硅制成的振動膜、在氧化硅上蝕刻的真空腔、氧化硅隔離層、硅襯底和金屬鋁底電極。在外界大氣壓強的作用下,薄膜向下凹陷。CMUT 在工作狀態(tài)下需要在上下電極之間施加直流偏置電壓,通過提高薄膜應(yīng)力來提高靈敏度。
圖2 CMUT 換能器單元結(jié)構(gòu)
發(fā)射狀態(tài)下,在上下電極板之間施加直流偏置,通過交流電壓和直流偏置電壓的疊加,使薄膜隨著交流信號產(chǎn)生簡諧振動,發(fā)生電能向機械能的轉(zhuǎn)換,產(chǎn)生超聲波;
圖3 超聲發(fā)射原理圖
接收狀態(tài)下,在上下電極板之間施加直流偏置,振動薄膜在受到超聲波的聲壓作用而發(fā)生振動,引起電容值的改變,通過檢測電容變化從而實現(xiàn)對超聲波的檢測,實現(xiàn)機械能向電能的轉(zhuǎn)換。
圖4 超聲接收原理圖
3.1 CMUT 換能器制備工藝過程
根據(jù)確定的 CMUT 參數(shù),對換能器進行制備。
1)準(zhǔn)備氧化層厚度為 500nm 的氧化片(低阻硅) 和器件層厚度為 2μm的 SOI 晶圓,器件層的2μm 薄膜將作為換能器單元的振動薄膜;如圖5
圖5 備片,氧化片和 SOI
2) 通過反應(yīng)離子刻蝕(reactive ion-etching,RIE),在氧化硅氧化層表面刻蝕 300 nm 的空腔,用作 CMUT 換能器的真空腔隙;如圖6
圖6 RIE 刻蝕空腔
3)在真空環(huán)境下對刻蝕有空腔的氧化片和 SOI 晶圓器件層進行硅—硅鍵合,隨即在高溫退火爐中進行退火處理,使得晶圓間的范德華力作用轉(zhuǎn)變?yōu)榛瘜W(xué)鍵作用;如圖7
圖7 硅 -硅鍵合
4)將鍵合片的埋氧層以上部分去除,用 BOE 漂洗掉頂層和底層的氧化硅,為背面金屬附著做準(zhǔn)備;如圖8
圖8減薄、BOE 漂洗氧化層
5)利用等離子增強化學(xué)氣相淀積(plasma-enhanced chemical vapor deposition,PECVD)在振膜上表面生長 200 nm 的氧化硅作為振膜與上電極金屬的電氣隔離;如圖9
圖9 PECVD 沉積氧化硅
6)通過磁控濺射儀器在正反面濺射500nm 的金屬鋁,并對上表面金屬通過磷酸腐蝕進行圖形化,最后在真空退火爐中進行退火處理,用于修復(fù)晶格損傷并形成良好的歐姆接觸;如圖10
圖10 做金屬上下電極,退火
完成以上工藝后得到的芯片如下圖11
圖11 CMUT芯片效果圖
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原文標(biāo)題:CMUT電容式微機械超聲換能器
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