在半導體測試領域，管理成本仍然是最嚴峻的挑戰(zhàn)之一，因為自動化測試設備（ATE）是一項重大的資本支出。降低每晶圓成本從而獲得競爭優(yōu)勢的一種方法？提高吞吐量。

為晶圓廠評估新ATE系統(tǒng)的半導體制造商要求每一代產(chǎn)品都具有更高的密度（即更多通道），但外形尺寸相同，以最大限度地利用其現(xiàn)有工廠空間。有了更多的渠道，他們可以測試更復雜的產(chǎn)品或更高數(shù)量的同一產(chǎn)品。

在這種環(huán)境下，ATE設計人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見。提高測試能力意味著主板（具有大量引腳驅動器電子元件的驅動板）將需要大量功率才能運行。當然，從長期性能和可靠性的角度來看，降低設備溫度非常重要。這意味著底層技術應該是高效、快速執(zhí)行和小型的。

面向ATE系統(tǒng)的雙通道引腳電子器件 創(chuàng)建新的ATE系統(tǒng)的
設計人員通過將IC放置在更緊密的電路板上，可以增加通道數(shù)量，同時保持相同的外形尺寸。這將產(chǎn)生更多的功耗，這可以通過用于空氣冷卻的散熱器或液體冷卻來解決。然而，液體冷卻是一個復雜的解決方案，需要高度專業(yè)化的技能。

或者，設計人員可以仔細觀察設備內部的引腳電子器件。集成度更高的IC將提供所需的功能，而無需增加物料清單（BOM）或使用分立元件增加設計尺寸。IC的工藝幾何形狀也值得考慮。正在考慮的IC可能支持大量通道，但它的制造工藝是否能夠實現(xiàn)設計所需的效率和尺寸？

Maxim采用定制設計的晶圓工藝，針對ATE架構進行了優(yōu)化，MAX9979雙通道1.1Gbps引腳電子器件就是采用該工藝制造的。MAX9979采用單IC封裝，理想用于存儲器和SoC測試儀應用，提供：

驅動器/比較器/有源負載 （DCL）

每通道參數(shù)測量單元 （PMU）

內置 16 位電平設置數(shù)模轉換器 （DAC）

每個通道包括一個四電平引腳驅動器、窗口比較器、差分比較器、動態(tài)箝位、一個多功能PMU、一個有源負載、一個高壓可編程電平和14個獨立的電平設置DAC。該器件設計采用具有金互連的工藝，通常不是標準功能，但支持更高的功率密度。其雙極晶體管旨在提供對稱開關;因此，上升和下降時間非常匹配，因此當信號發(fā)送到被測器件時，該信號的質量在系統(tǒng)中盡可能對稱。

另一個性能優(yōu)勢來自IC的電纜下垂補償功能。此功能允許設計人員微調每個通道，以優(yōu)化被測器件（DUT）的波形。如果電路板上有多個通道，并非所有通道都具有相同長度的跟蹤或到DUT的同軸電纜。電纜下垂補償使用雙時間常數(shù)來改變波形，以便當波形到達DUT時，它將盡可能對稱。這種校準DUT信號驅動以及每個通道返回路徑上的相同信號的能力產(chǎn)生了更清晰的信號質量。如果沒有校正或調整波形的能力，ATE設計中使用的同軸電纜的選擇變得更加關鍵。每個測試頭可以使用數(shù)百根這樣的電纜。質量較低且可能更便宜的電纜會導致信號失真。校正波形的能力減輕了這種失真。如果沒有這種能力，實現(xiàn)高質量信號的主要方法是使用更高質量、更昂貴的同軸電纜。

要評估MAX9979的下一個設計，請查看MAX9979評估板。該套件是完全安裝并經(jīng)過測試的PCB，包括用于高速數(shù)字I/O的SMA連接、MAX9979引腳驅動器輸出和用戶可配置的Windows GUI，為全面評估IC提供了一種簡便的方法。

審核編輯：郭婷