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芯片設計到底難在哪里?

穎脈Imgtec ? 2023-08-16 12:15 ? 次閱讀

來源:密科圈城MechTown


眾所周知,芯片一直是手機電子產(chǎn)品的核心部件,需要極其密集的資金支持和技術(shù)含量。芯片之于手機,猶如大腦之于人,這樣說來似乎更加容易理解。

一枚芯片從設計到投入使用需要經(jīng)歷芯片設計、晶圓制造、封裝、測試等幾個主要環(huán)節(jié),每個環(huán)節(jié)“各司其職”,都有其難點和不可替代的一面,且都是科技和人類智慧結(jié)晶的體現(xiàn)。

單從芯片設計來講,自八十年代EDA(Electronic design automation —— “電子設計自動化”)技術(shù)誕生以來,設計大規(guī)模集成電路的難度大大降低,設計工程師們只需要借助EDA軟件將語言編譯成邏輯電路,之后再進行一段時間的調(diào)試就可以了。

但盡管如此,有EDA如此強大的支持,芯片設計依舊不是一件容易的事情,不存在芯片設計比芯片制造簡單一說。

9088e59e-3beb-11ee-bbcf-dac502259ad0.jpg芯片設計流程

芯片設計,是一種復雜、高端、且浩瀚無比的技術(shù)工程。小編詳細羅列了芯片設計各個步驟的難點,以及designer為芯片設計所經(jīng)歷的艱辛,以饗讀者。


難點1——架構(gòu)

芯片設計有很多環(huán)節(jié),每一個都不可或缺,且都有其各自的難點。如若需要評估整個設計流程的難度,還需要拆分開來看,按照順序,想要完整設計出一個芯片的基本架構(gòu),步驟通常有:

需求分析:

無需多說,芯片應用對老百姓的生活可謂是無孔不入,而從一張簡單的IC卡,到售價幾千元的手機,不同的市場有不同的需求。因此,明確需求是芯片設計的第一步。其中包括對未來市場趨勢的準確判斷、自身工廠能力的評估、設計人員數(shù)量及能量的精準衡量。

前端設計:芯片前端設計主要包括HDL編碼,仿真驗證,STA,邏輯綜合,簡而言之就是從輸入需求到輸出網(wǎng)表的過程。例如在HDL編碼過程中,designer必須充分滿足芯片可以達到的目標,且不能超出臨界值。在靜態(tài)時序分析(STA中),designer不僅需要確定芯片最高工作頻率,還要檢查時序約束是否滿足,如若不滿足,要給出具體原因,進一步修改程序直至滿足要求。在邏輯綜合(ASIC綜合)中,designer需要設定詳細的目標參數(shù)和約束條件,才能將設計實現(xiàn)的RTL代碼翻譯成門級網(wǎng)表,交給后端工作人員。以上及其他未被列出的前端設計步驟,均需要designer嚴謹、周密的思維方式;需要對芯片的性能、性質(zhì)等有良好的把握;需要超于常人的精力,絕非一日之功可以達成。后端設計:

芯片后端設計主要包括DFT,布局規(guī)劃,布線,CTS,版圖物理驗證,簡而言之就是從輸入網(wǎng)表到輸出GDSII文件的過程。

例如DFT(Design For Test),可測性設計,在設計中插入掃描鏈,將非掃描單元(如寄存器)變?yōu)閽呙鑶卧?,由于芯片?nèi)部往往都自帶測試電路,designer需要在設計的時候就考慮將來的測試。

布局規(guī)劃(FloorPlan),這一環(huán)節(jié)難度在于對芯片結(jié)構(gòu)的熟悉,designer是否能用盡可能少的模塊和盡可能低的標準達到要求。

物理版圖驗證,對完成布線的物理版圖進行功能和時序上的驗證,驗證項目繁瑣且復雜,如LVS(Layout Vs Schematic)、DRC(Design Rule Checking)等。

以上及其他未被列出的后端設計步驟,均需要考慮許多變量,例如信號干擾、發(fā)熱分布等。

而芯片的物理特性在不同制程和不同環(huán)境下都有很大不同,且無現(xiàn)成公式套用計算,只能依靠EDA工具不斷試錯、模擬和取舍。稍有不慎,就有重蹈覆轍的危險。由此,芯片設計的難度可窺得一斑。


難點2——流片

IC設計領(lǐng)域,流片即指試生產(chǎn),就是說設計完電路以后,先生產(chǎn)一部分以供測試使用。雖然流片看起來是芯片制造的步驟,但實際屬于芯片設計。

檢驗流片在芯片設計到制造的過程中,是一個不可或缺的步驟。假如designer在設計的時發(fā)現(xiàn)某個地方可以進行優(yōu)化,但又怕給芯片帶來不可預估的后果,若根據(jù)有錯誤的設計方案著手制造,那么損失難以估量。

所以為了檢驗芯片設計的完整性、正確性,必須進行流片,從一個電路圖到一塊芯片,檢驗每一個工藝步驟是否可行,檢驗電路是否具備我們所要的性能和功能。測試通過,則大規(guī)模生產(chǎn);測試失敗,可能需要重復之前的設計步驟進行優(yōu)化,查缺補漏。


難點3——驗證

驗證是在芯片設計每一個環(huán)節(jié)中的重復性行為,可細分為系統(tǒng)級驗證、硬件邏輯功能驗證、物理層驗證、時序驗證等。在驗證過程中如若出現(xiàn)錯誤,需要重復前面幾步、不斷迭代優(yōu)化才能解決,由此也決定了這項工作的復雜性。

designer需要反復考慮可能會遇到的問題,在保證正確率的情況下高效進行,費用高昂不說,也非常考驗designer的耐心、決心與智慧。一方面要對相關(guān)協(xié)議算法有足夠了解,根據(jù)架構(gòu)、算法工程師設定的目標設計仿真向量;另一方面要對設計本身足夠了解,以提高驗證效率,縮短驗證時間。

遠眺未來,芯片的使用場景會愈發(fā)豐富,例如5G、智能汽車、云計算等領(lǐng)域,所需求芯片的質(zhì)量會有更高的要求;摩爾定律接近極限,芯片性能提升的重擔也落在了designer身上。以上因素勢必會給designer帶來更大的壓力,給芯片設計帶來更多新的挑戰(zhàn)。

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