stb分析可以得到環(huán)路增益的bode圖，但卻不能看到環(huán)路中其他位置的AC增益大小，這在需要分析不同級的放大倍數(shù)時造成了困難。解決這個問題，可以按照下圖所示的方法設(shè)計testbench。

圖1

以圖1a為例，對環(huán)路斷環(huán)進(jìn)行仿真時，除了用stb分析方式之外，可以用如圖1b所示添加L、C的辦法進(jìn)行環(huán)路增益仿真。L的作用是通直流交流，所以電路可以認(rèn)為存在直流連接，此時負(fù)反饋環(huán)路認(rèn)為沒有斷開，因此可以保證電路直流工作點(diǎn)的正常。但交流時，由于L設(shè)定值很大，呈現(xiàn)出很大的交流阻抗，相當(dāng)于“斷路”，所以在交流角度此處路徑又是斷開的。再看電容C，它的作用是通交流隔直流。直流時，所加的AC激勵源直流電平被電容隔開，不會對環(huán)路造成影響。交流時的信號可以通過電容、RF、R1的網(wǎng)絡(luò)施加到OP輸入端。

使用圖1的仿真辦法，激勵源AC=1V，收集到的Vo即為環(huán)路增益大小。除了這點(diǎn)之外，可以看到電路中任何一點(diǎn)的小信號增益和相位情況，這一點(diǎn)對分析電路尤其有幫助。