高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS和高加速應(yīng)力稽核測(cè)試HASA，都是可靠性測(cè)試的方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。

HALT測(cè)試

高加速壽命測(cè)試（HALT）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。這種方法是由Gregg K. Hobbs于1988年提出的。

HALT測(cè)試通常利用階梯應(yīng)力加諸于試品，并在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設(shè)計(jì)邊際及結(jié)構(gòu)強(qiáng)度極限。試品通過(guò)HALT所暴露的缺陷，涉及線路設(shè)計(jì)、工藝、元部件和結(jié)構(gòu)等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，通過(guò)試驗(yàn)，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進(jìn)和驗(yàn)證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅(jiān)固性及可靠性。

在HALT測(cè)試中，施加于試品的應(yīng)力包括振動(dòng)、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等，采用步進(jìn)方式施加應(yīng)力，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品故障，幫助提前暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷，鑒別低質(zhì)量可靠性的元器件，優(yōu)化產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)。

HASS測(cè)試

高加速應(yīng)力篩選HASS測(cè)試，是一種可靠性測(cè)試方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中的可靠性和耐久性。它通過(guò)對(duì)樣品施加高溫、高濕和高壓的方式，模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)，以揭示產(chǎn)品潛在的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，提高產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

HASS測(cè)試通常在高度受控的壓力容器內(nèi)進(jìn)行，設(shè)定和創(chuàng)建不同的溫度、濕度和壓力條件，以加速水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到產(chǎn)品內(nèi)部。這種測(cè)試方法能夠加速溫濕度的老化效果，如遷移、腐蝕、絕緣劣化、材料老化等，從而在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，大大縮短測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。

步入式大批量溫濕度循環(huán)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 圖源:華南檢測(cè)中心

HASA測(cè)試

高加速應(yīng)力稽核HASA測(cè)試，也是一種可靠性測(cè)試方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)。它通過(guò)對(duì)樣品施加高溫、高濕和高壓的方式，模擬產(chǎn)品在使用過(guò)程中的應(yīng)力條件，以檢測(cè)產(chǎn)品在這些條件下的可靠性和穩(wěn)定性。

HASA測(cè)試通常在高度受控的壓力容器內(nèi)進(jìn)行，通過(guò)設(shè)定和創(chuàng)建不同的溫度、濕度和壓力條件，以加速產(chǎn)品內(nèi)部的各種物理、化學(xué)和電學(xué)過(guò)程。這種測(cè)試方法能夠加速產(chǎn)品的老化效果，如遷移、腐蝕、絕緣劣化、材料老化等，從而在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，大大縮短測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。