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電流測(cè)量6種不同方法的優(yōu)缺點(diǎn)

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2023-09-04 11:21 ? 次閱讀

電流檢測(cè)用于執(zhí)行兩個(gè)基本電路功能。首先,是測(cè)量電路中流過的電流“有多大”。這些信息可用于DC/DC供電公司電源管理,以確定基本外圍負(fù)載并實(shí)現(xiàn)節(jié)能。第二個(gè)作用是在電流“過大”或失效時(shí)做出判斷。如果電流超過安全限值,滿足軟件或硬件的聯(lián)鎖條件,就會(huì)發(fā)出關(guān)閉設(shè)備的信號(hào),比如電機(jī)停轉(zhuǎn)或電池短路。因此,需要選擇一種能夠承受故障過程中極端條件的穩(wěn)健設(shè)計(jì)技術(shù)。使用合適的元件執(zhí)行測(cè)量功能不僅可以獲得準(zhǔn)確的電壓信號(hào),還可以防止印刷電路板被損壞。測(cè)量方法有多種測(cè)量方法可以產(chǎn)生提示“多大”或“太大”的信號(hào),如下所示:

電阻式(直接)檢流電阻;

磁(間接)電流互感器;

羅氏線圈;

霍爾效應(yīng)器件;

晶體管(直接)RDS(ON);

比率式。

每種方法都有自己的優(yōu)點(diǎn),這是一種有效或可接受的電流測(cè)量方法,但它也有自己的優(yōu)缺點(diǎn),這對(duì)應(yīng)用的可靠性至關(guān)重要。這些測(cè)量方法可以分為兩類:直接或間接。直接法是指測(cè)量元件直接接在被測(cè)電路上,間接法的測(cè)量元件與線電壓隔離,所以當(dāng)產(chǎn)品安全有要求時(shí),必須采用間接法。

電阻式(直接)檢流電阻

用電阻測(cè)量電流是一種直接的方法,具有簡(jiǎn)單、線性好的優(yōu)點(diǎn)。電流感測(cè)電阻放在有被測(cè)電流的電路中,流過電阻的電流會(huì)將少量的電能轉(zhuǎn)化為熱量。這個(gè)能量轉(zhuǎn)換過程產(chǎn)生一個(gè)電壓信號(hào)。電流感測(cè)電阻除了簡(jiǎn)單、線性度好之外,性價(jià)比也很高,溫度系數(shù)(TCR)穩(wěn)定,可以達(dá)到100 ppm/℃此外,低電阻(小于1mω)金屬合金電流檢測(cè)器具有優(yōu)異的抗浪涌能力,在短路和過流情況下能實(shí)現(xiàn)可靠的保護(hù)。

磁(間接)電流互感器

電流互感器(圖1)有三個(gè)突出優(yōu)點(diǎn):與線電壓隔離、無損測(cè)量電流、大信號(hào)電壓能很好地抗噪聲。這種間接電流測(cè)量方法需要使用變化的電流,例如交流電流、瞬態(tài)電流或開關(guān)模式直流電流,以產(chǎn)生磁耦合到次級(jí)繞組的變化磁場(chǎng)。測(cè)量的次級(jí)電壓可以根據(jù)初級(jí)和次級(jí)繞組之間的匝數(shù)比進(jìn)行縮放。這種測(cè)量方法被認(rèn)為是“非破壞性的”,因?yàn)橥ㄟ^銅繞組的電路電流的電阻損耗非常小。但如圖2所示,由于負(fù)載電阻、鐵芯損耗、一次和二次DC電阻的存在,變壓器的損耗會(huì)導(dǎo)致少量能量的損失。

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圖1,理想的電流互感器電路

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圖2,電流互感器損耗的組成

羅氏線圈

羅氏線圈(圖3)類似于電流互感器,會(huì)在次級(jí)線圈內(nèi)會(huì)感應(yīng)產(chǎn)生一個(gè)電壓,電壓大小與流經(jīng)隔離電感器的電流程正比。特殊之處在于,羅氏線圈采用的是氣芯設(shè)計(jì),這一點(diǎn)與依賴層壓鋼等高磁導(dǎo)率鐵芯和次級(jí)繞組磁耦合的電流互感器完全不同。氣芯設(shè)計(jì)的電感較小,有更快的信號(hào)響應(yīng)和非常線性的信號(hào)電壓。由于采用了這種設(shè)計(jì),羅氏線圈經(jīng)常被用在像手持電表這樣的已有接線上,臨時(shí)性地測(cè)量電流,可以認(rèn)為是電流互感器的低成本替代方案。

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圖3

霍爾效應(yīng)

當(dāng)一個(gè)帶電流的導(dǎo)體被放進(jìn)磁場(chǎng)里時(shí)(圖4),在垂直于磁場(chǎng)和電流流動(dòng)方向上會(huì)產(chǎn)生電位差。這個(gè)電位與電流大小成正比。在沒有磁場(chǎng)和電流流過時(shí),就沒有電位差。但如圖5所示,當(dāng)有磁場(chǎng)和電流流過時(shí),電荷與磁場(chǎng)相互作用,引起電流分布發(fā)生變化,這樣就產(chǎn)生了霍爾電壓。

霍爾效應(yīng)元件的優(yōu)點(diǎn)是能測(cè)量大電流,而且功率耗散小。然而,這種方法也有不少缺點(diǎn),限制其使用,例如要對(duì)非線性的溫度漂移進(jìn)行補(bǔ)償;帶寬有限;對(duì)小量程的電流進(jìn)行測(cè)量時(shí),要求使用大偏置電壓,這會(huì)引起誤差;易受外部磁場(chǎng)的影響;對(duì)ESD敏感;成本高。

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圖4,霍爾效應(yīng)原理,無磁場(chǎng)

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圖5,霍爾效應(yīng)原理,有磁場(chǎng)

晶體管

RDS(ON) -漏極到源極的導(dǎo)通電阻

由于晶體管對(duì)電路設(shè)計(jì)來說是標(biāo)準(zhǔn)的控制器件,不需要電阻或消耗能量的器件來提供控制信號(hào),因此晶體管被認(rèn)為是沒有能量損失的過流探測(cè)方法。晶體管數(shù)據(jù)表給出了漏極到源極的導(dǎo)通電阻(RDS(ON)),功率MOSFET的典型電阻一般在毫歐范圍內(nèi)。這個(gè)電阻由幾部分組成,首先是連到半導(dǎo)體裸晶的引線(圖6),這部分電阻影響了很多溝道特性?;谶@個(gè)資料,流經(jīng)MOSFET的電流可以用公式 ILoad = VRDS(ON) / RDS(ON)計(jì)算得出。

由于界面區(qū)域電阻的微小變化和TCR效應(yīng),RDS(ON)的每個(gè)組成部分都會(huì)造成測(cè)量誤差。通過測(cè)量溫度,及用由溫度引起的電阻預(yù)期變化來修正被測(cè)電壓,可以對(duì)TCR效應(yīng)部分地加以補(bǔ)償。很多時(shí)候,MOSFET的TCR會(huì)高達(dá)4000ppm/℃,相當(dāng)于溫度上升100℃,電阻的變化達(dá)到40%。通常來說,這種測(cè)量方法的信號(hào)精度大約為10%~20%。從應(yīng)用對(duì)精度的要求來看,對(duì)于提供過壓保護(hù)來說,這個(gè)精度范圍是可以接受的。

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圖6 ,N溝道增強(qiáng)型MOSFET的簡(jiǎn)化模型

比率式 - 電流檢測(cè)MOSFET

MOSFET由成千上萬個(gè)能降低導(dǎo)通電阻的并聯(lián)的晶體管元胞構(gòu)成。檢流MOSFET使用一少部分并聯(lián)元胞,連到共柵極和漏極,但源極是分開的(圖7)。這樣就產(chǎn)生了第2個(gè)隔離的晶體管,即“檢測(cè)”晶體管。當(dāng)晶體管導(dǎo)通時(shí),流經(jīng)檢測(cè)晶體管的電流與流經(jīng)其他元胞的主電流成一定比例。

精度公差的范圍取決于具體的晶體管產(chǎn)品,低的達(dá)到5%,高的可以達(dá)到15%到20%。這種方法通常不適合一般要求測(cè)量精度達(dá)到1%的電流控制應(yīng)用,但適合過流和短路保護(hù)。

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圖 7

從上面的匯總表可以看出,檢測(cè)電路中電流的方法有很多種,應(yīng)根據(jù)應(yīng)用的具體要求選擇合適的方法。每種方法都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn),在設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)仔細(xì)考慮這些因素。

以上就是關(guān)于電流測(cè)量的6種不同方法的優(yōu)缺點(diǎn),如您使用中還有其他問題,歡迎登陸西安普科電子科技

審核編輯:湯梓紅

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