現(xiàn)如今dc-dc電源模塊因其特性被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、軍工、電子等領(lǐng)域。隨著技術(shù)的發(fā)展，電源模塊測(cè)試項(xiàng)目逐漸增多，測(cè)試過程也變得復(fù)雜。納米軟件dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)基于一種智能云測(cè)試平臺(tái)，可以為其提供高效快捷的電源測(cè)試方案。

dc-dc電源模塊測(cè)試難題

1. 測(cè)試項(xiàng)目多，測(cè)試過程復(fù)雜

2. 前期生產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試可能是由多家公司開發(fā)，不兼容

3. 編程式的測(cè)試方法對(duì)于測(cè)試人員的專業(yè)知識(shí)要求高，測(cè)試成本高

4. 傳統(tǒng)測(cè)試方法需要手動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，記錄量大

5. 沒有智能的數(shù)據(jù)診斷分析

ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)解決痛點(diǎn)

人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

測(cè)試產(chǎn)品種類繁多，測(cè)試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來的變化和需求;

記錄測(cè)試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性;

長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試，工作量大，需要降低測(cè)試成本;

現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品;

需要滿足特定的測(cè)試需求，如外購(gòu)配件等;

需要符合自身芯片測(cè)試方法;

需要尋找國(guó)產(chǎn)化替代方案。

dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)：提供整體解決方案

dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)區(qū)別于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，它基于一款智能云測(cè)試平臺(tái)為dc-dc電源模塊測(cè)試提供一站式軟硬件解決方案。

1. 兼容2000+儀器型號(hào)，各大品牌基本都適用，如是德、普源、同惠等。

2. 內(nèi)含56+測(cè)試項(xiàng)目，也可以根據(jù)客戶具體的測(cè)試要求定制測(cè)試項(xiàng)目。

3. 采取無編程方式，對(duì)測(cè)試指令進(jìn)行封裝，進(jìn)入智能云平臺(tái)后只需拖拽指令便可完成方案搭建。

4. 該系統(tǒng)支持搭建多個(gè)測(cè)試方案(根據(jù)需要測(cè)試的指標(biāo))，一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目可含多個(gè)方案，搭建完成后可以一鍵運(yùn)行測(cè)試，測(cè)試速度快，效率高，無需擔(dān)心測(cè)試項(xiàng)目復(fù)雜多樣。

5. 數(shù)據(jù)洞察功能可以統(tǒng)一匯總管理數(shù)據(jù)，以圖表形式展現(xiàn)，智能分析數(shù)據(jù)。

6. 該系統(tǒng)也含有數(shù)據(jù)報(bào)告功能，可以將測(cè)試數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出，格式多樣，如word, excel等。

納米軟件專注于儀器自動(dòng)化測(cè)試軟件的開發(fā)和智能大數(shù)據(jù)分析，為企業(yè)提供高效的測(cè)試方案，提升儀器可靠性，降低企業(yè)成本。納米軟件也將不斷努力，為智能測(cè)試貢獻(xiàn)一份力量!

審核編輯：湯梓紅