史密斯圓圖

當(dāng)阻抗不匹配時，就要通過阻抗變換使負(fù)載阻抗和源阻抗相等，以減小反射。經(jīng)常是使用smith圓圖來做阻抗匹配。反射系數(shù)是一個矢量，所以反射系數(shù)相同的點會形成一個圓，一系列反射系數(shù)形成反射圓圖。反射圓圖上的每一個點都有唯一的阻抗特性，這樣反射圓圖和阻抗圓圖重疊形成smith圓圖。R值表示等電阻圓，Z值表示等電抗圓有，交點為Z，該點半徑為反射系數(shù)模值，夾角為反射系數(shù)相位。

看右下方的Smith圓圖，上面左邊的點表示短路點，阻抗為0，反射系數(shù)是1，發(fā)生全反射，反射角為180度。中間點為匹配點，阻抗為特性阻抗，反射系數(shù)為0。右邊點位開路點，阻抗無窮大，反射系數(shù)為1，同樣也發(fā)生全反射，反射角為0度。上面是電感區(qū)，下面是電容區(qū)，然后上面還有等電阻圓，等點抗圓，等電導(dǎo)圓等等。

注意： 阻抗用直坐標(biāo)系的話，需要看到無窮大的阻抗橫軸和虛部縱軸，在儀表里顯示是不現(xiàn)實的，所以用圓圖。

圓圖的周期為傳輸線信號波長/2。圓圖旋轉(zhuǎn)一圈代表傳輸線傳輸電長度為l/2，半圈為l/4。

用史密斯圓圖進(jìn)行阻抗測試

作為一款應(yīng)用于電機與電子工程學(xué)的經(jīng)典圖表，史密斯圓圖被廣泛用于阻抗匹配、電路調(diào)試、參數(shù)計算甚至濾波器調(diào)試等用，今天我們將展示其中非常經(jīng)典的矢量網(wǎng)分儀阻抗測試方法。

首先，我們先挑選是德科技旗下的E5071C這款儀器。

不熟悉儀器型號的朋友們，可找Agitek!

在測試之前必不可少的工作，便是對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。E5071C ENA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在測試之前必不可少的工作，便是對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

首先，我們在數(shù)據(jù)格式上選擇史密斯圓圖。

然后，我們用校準(zhǔn)件上的一個負(fù)載（阻抗50歐姆）。

我們再接上負(fù)載校準(zhǔn)件。

設(shè)置一個marker點。

我們可以看到史密斯圓圖測出來的阻值50歐姆。

審核編輯：湯梓紅