01、RESET系統(tǒng)

復(fù)位MCU可使MCU從已知的初始條件下開始運(yùn)行。系統(tǒng)復(fù)位開始時，片上穩(wěn)壓器處于完全工作狀態(tài)，系統(tǒng)時鐘由內(nèi)部參考時鐘產(chǎn)生。

外部引腳RESET

對于所有的復(fù)位源，RESET_B引腳都會被MCU驅(qū)動為低電平，時長至少維持128個總線時鐘周期，直到閃存初始化完成。在閃存初始化完成后，RESET_B引腳被釋放，芯片內(nèi)部復(fù)位信號失效。外部保持RESET_B引腳被拉低，會延遲芯片內(nèi)部復(fù)位信號的失效時間。如果發(fā)生外部引腳復(fù)位，復(fù)位模塊的狀態(tài)寄存器中相應(yīng)的標(biāo)志位會被置位。因此，應(yīng)用軟件可以通過讀取該寄存器來檢測外部引腳的復(fù)位。

復(fù)位引腳，與其他一些GPIO類似，有一個弱的內(nèi)部上拉。如果環(huán)境和客戶的應(yīng)用存在噪聲影響，就必須在復(fù)位引腳上直接加一個外部上拉電阻到VDD，以避免發(fā)生隨機(jī)的或意外的復(fù)位。關(guān)于該引腳允許的電壓和電流水平，請參考器件的數(shù)據(jù)手冊。

盡管復(fù)位線中的電容對MCU來說不是必須項，但在某些情況下，為了進(jìn)一步增加ESD保護(hù)，會在RESET引腳和地之間添加一個外部電容。上拉電阻和電容的值須根據(jù)應(yīng)用的設(shè)計要求選擇。關(guān)于MCU可檢測到的最小RESET脈沖值，請參考器件的數(shù)據(jù)手冊。

02、RJTAG和TRACE接口

本章節(jié)列舉了一些常用的調(diào)試連接器，大多數(shù)ARM開發(fā)工具都會使用這些引腳。當(dāng)開發(fā)ARM電路板時，建議使用標(biāo)準(zhǔn)的調(diào)試信號排列，以使與調(diào)試器的連接更容易。SWD/SWV引腳疊加在JTAG引腳之上，如下所示。

△表1CVM01xx – JTAG和SWD信號描述

△表2CVM01xx – JTAG和SWD接口

注意：可以為JTAG信號添加外部上拉/下拉電阻，以增加調(diào)試器連接的穩(wěn)定性。

△圖1JTAG/SWD信號連接

03、調(diào)試連接器引腳布局

3.120針 Cortex Debug D ETM 連接器

部分較新的ARM微控制器板使用一個1.27mm間距的20針頭（Samtec FTSH-110），用于調(diào)試和跟蹤，20針Cortex Debug D ETM連接器支持JTAG和Serial-Wire調(diào)試協(xié)議。當(dāng)使用Serial-Wire調(diào)試協(xié)議時，TDO信號可用于Serial-Wire觀測器的輸出，用于跟蹤捕獲。該連接器還提供了一個4位寬的跟蹤端口，用于捕獲有更高帶寬需求的跟蹤調(diào)試（例如，當(dāng)ETM跟蹤被啟用時）。

△圖220針Cortex Debug D ETM連接器引腳布局

3.210針 Cortex 調(diào)試連接器

對于沒有ETM的設(shè)備，可使用更小的1.27毫米間距的10針連接器（Samtec FTSH-105）進(jìn)行調(diào)試。與20針的Cortex Debug D ETM連接器類似，10針版本的連接器同樣支持JTAG和Serial-Wire調(diào)試協(xié)議。

△圖310針Cortex調(diào)試連接器引腳布局

3.3傳統(tǒng)的20針 IDC 連接器

ARM開發(fā)板中常用的調(diào)試連接器是20針I(yè)DC連接器，20針I(yè)DC連接器支持JTAG調(diào)試、Serial-Wire調(diào)試（SWIO和SWCLK）、串行線輸出（SWO）。

nICEDETECT引腳允許目標(biāo)系統(tǒng)檢測是否有調(diào)試器連接。當(dāng)沒有調(diào)試器連接時，該引腳被拉高，而調(diào)試器連接時將該引腳連接到地，常被使用在支持多種JTAG配置的開發(fā)板；nSRST連接是可選的，調(diào)試器可通過系統(tǒng)控制塊（SCB）復(fù)位Cortex-M系統(tǒng)，所以此連接在做微控制器頂層設(shè)計時常被省略。

△圖420針的IDC連接器

來源：深圳曦華科技

審核編輯：湯梓紅