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ATECLOUD芯片測試設(shè)備測試電源芯片持續(xù)電流的方法

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-09-18 17:39 ? 次閱讀

連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動的狀態(tài),一般都是用于對元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示該芯片可連續(xù)通過的最大電流。

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電源芯片持續(xù)電流

通過上面的描述我們可以知道,電源芯片的連續(xù)電流通常表示的是連續(xù)通過電流的最大值,所以即使芯片內(nèi)部的電流是隨時(shí)變化的,只要電流最大值不超過連續(xù)電流的限制,那么該芯片還是可以正常工作,并不會對芯片造成損壞。所以對于芯片來說它連續(xù)電流的波形與最大值是極為重要的指標(biāo),在芯片測試中也是必不可少的項(xiàng)目。

如何使用ATECLOUD測試電源芯片連續(xù)電流?

和手動測試需要的硬件基本一致,使用ATECLOUD系統(tǒng)對電源芯片測試系統(tǒng)也需要一臺多通道電源、一臺電子負(fù)載以及一臺示波器,與手動測試略有不同的是ATECLOUD測試需要添加一臺ATEBOX,ATEBOX是測試平臺中的邊緣計(jì)算設(shè)備,系統(tǒng)的試驗(yàn)設(shè)備控制及流程調(diào)度都是在它的內(nèi)部進(jìn)行。

在使用ATECLOUD測試電源芯片之前,我們需要將硬件儀器和電源芯片連接起來。

1. 將直流電源的不同通道分別和電源芯片的VIN和VEN連接,電子負(fù)載與電源芯片的VOUT連接,示波器接入電源芯片的VSW、VOUT端。然后將這些硬件通過USB/LAN/RS232與ATEBOX相連,之后將電腦與ATEBOX相連即可。

2. 硬件連接完成之后,打開瀏覽器,登陸ATECLOUD網(wǎng)站,之后在系統(tǒng)中搭建電源芯片持續(xù)電流的測試項(xiàng)目,將搭建好的項(xiàng)目組建成測試方案就可以運(yùn)行測試了。

3. 點(diǎn)擊運(yùn)行測試,2-3秒之后即可完成電源芯片持續(xù)電流的波形與指標(biāo)測試。

4. 點(diǎn)擊數(shù)據(jù)記錄,在數(shù)據(jù)記錄界面可以直接查看到測試到的波形與數(shù)據(jù),選擇數(shù)據(jù)導(dǎo)出可將測試數(shù)據(jù)直接導(dǎo)出為Exe或Word格式。

5. 點(diǎn)擊數(shù)據(jù)洞察,可以將測試到的所有數(shù)據(jù)集中處理分析并在大數(shù)據(jù)看板中集中展示

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ATECLOUD芯片自動化測試系統(tǒng)

ATECLOUD電源芯片測試系統(tǒng)的特點(diǎn)

1.提升研發(fā)和產(chǎn)線測試效率,ATECLOUD系統(tǒng)對電源芯片持續(xù)電流的測試只需2-3秒,而手動測試至少需要2-3分鐘,如果針對大批量的產(chǎn)線測試場景,手動測試則需要更長的時(shí)間,所以ATECLOUD系統(tǒng)可以提升測試效率超過了600%

2.優(yōu)化測試工藝,針對電源芯片的某些采樣率要求高的項(xiàng)目,手動測試時(shí)只能人工目測估值,而ATECLOUD可以達(dá)到毫秒級別的采樣率,有效的提升產(chǎn)品工藝,提升企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量

3.優(yōu)秀的系統(tǒng)靈活性,傳統(tǒng)的ATE軟件在項(xiàng)目結(jié)束后基本無法修改和優(yōu)化,而ATECLOUD后期如果想添加新的項(xiàng)目或儀器可以直接在系統(tǒng)中快速添加,無需重新開發(fā)等待

4.全面的數(shù)據(jù)分析,系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)洞察功能可以幫助企業(yè)快速的進(jìn)行大數(shù)據(jù)智能化分析,通過測試數(shù)據(jù)可以直接將測試中的產(chǎn)品參數(shù)、人員功效、測試合格率等核心參數(shù)通過圖表形式集中展示,方便企業(yè)管理和調(diào)整。

審核編輯 黃宇

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