測試用波形占空比不同,對EVM和ACLR測試結(jié)果有何影響?
占空比是指單位時間內(nèi)正弦波上連續(xù)占用的時間比例。在無線電通信中,占空比指的是信號在一個周期內(nèi),用于傳輸信息的時間與一個周期的總時間之比。不同的占空比會對無線電通信中的EVM和ACLR測試結(jié)果產(chǎn)生影響。
EVM是誤差向量幅度調(diào)制(Error Vector Magnitude)的縮寫,用于衡量在數(shù)字通信中由于干擾,多徑等造成的調(diào)制信號與原始信號之間的誤差量。EVM數(shù)值越小,表示信號品質(zhì)越好。ACLR則是帶外抑制比(Adjacent Channel Leakage Ratio)的縮寫,用于衡量調(diào)制信號在帶外對鄰頻通道造成的干擾,ACLR數(shù)值越小,表示信號抗干擾能力越強。
不同的占空比會對EVM和ACLR測試結(jié)果產(chǎn)生影響。在數(shù)字調(diào)制中,占空比會影響調(diào)制波形的時域和頻域特性。如果占空比較小,調(diào)制波形的頻譜會更寬,頻譜中會包含更多的高頻成分。這樣的波形容易受到帶內(nèi)和帶外的干擾,同時也會對相鄰通道產(chǎn)生更多的干擾,導致ACLR變差。因為占空比較小,調(diào)制波形瞬時功率較低,如果在發(fā)送端的功率控制未能準確感知到這種變化,會導致發(fā)射功率不穩(wěn)定,最終對EVM的測試結(jié)果產(chǎn)生影響。
相對而言,占空比較大的波形,其瞬時功率更高,頻譜也更窄,對帶內(nèi)和帶外的干擾抵抗能力較強,同時對相鄰通道的干擾也較小,可以獲得更好的ACLR功率性能。然而,如果占空比過大,調(diào)制信號的頻率也會受到影響。因為調(diào)制波形的占空比變大,信號變慢,且信號頻率縮小對應縮小了信號帶,會導致相鄰信道存在較大的干擾,從而將ACLR值也變大。
綜上所述,占空比對EVM和ACLR測試結(jié)果都有影響。因此,在進行無線電通信中的EVM和ACLR測試時,需要根據(jù)測試信號的實際情況,選擇合適的占空比。如果選擇合適的占空比,可以最大程度地減小干擾和較低測試結(jié)果誤差,有效提高信號質(zhì)量。在實際工作中,優(yōu)秀的測試工程師必須相當熟練地掌握占空比對測試結(jié)果的影響,使得測試儀器的性能得到充分發(fā)揮,可靠地檢測出設備的性能指標,并為設計和優(yōu)化提供科學準確的數(shù)據(jù)支持。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
相關(guān)推薦
LMP91000EVM+SPIO-4+GUI v2.0.3.0 :
1、CityTech 4CL sensor
實際氣體濃度17.7ppm,測試結(jié)果為2.37ppm
2、CityTech 4CM
發(fā)表于 02-07 06:16
光時域反射儀(OTDR)是光纖通信領域中不可或缺的測試工具。它通過發(fā)送光脈沖并測量反射回來的光信號,來確定光纖鏈路的長度、損耗和故障位置。然而,OTDR測試結(jié)果的準確性受到多種因素的影響。 1.
發(fā)表于 12-31 09:22
?249次閱讀
試圖用DAC39J84EVM做一個任意波形發(fā)生器,在產(chǎn)生方波的時候出現(xiàn)了問題。
當我給30M方波數(shù)據(jù)的時候,一切都很正常,但是給80M方波的數(shù)據(jù)的時候,用示波器看到的波形占空比是相反
發(fā)表于 12-30 07:55
在射頻設計中,我們經(jīng)常會遇到各種各樣的系統(tǒng)指標,比如EVM,VSWR,NF,ACLR等等,這么多的縮寫搞得人云里霧里,尤其是對很多剛?cè)腴T的同學來說,不懂這些縮寫的意思,有時候很難理解大牛們在說
發(fā)表于 12-24 13:57
?437次閱讀
BUCK電路的占空比對電流波形具有顯著的影響。以下是對這一影響的分析: 一、占空比對電流波形的影響機制 在BUCK電路中,占空比決定了開關(guān)管
發(fā)表于 12-12 17:08
?687次閱讀
傳感器 的響應時間對測量結(jié)果有以下幾方面的影響:測量準確性 快速變化信號測量失真:當測量對象的物理量變化較快時,如果 傳感器 響應時間過長,就無法及時跟上變化,導致測量結(jié)果與實際值存在偏差。例如
發(fā)表于 11-29 09:24
?433次閱讀
兩塊ADC,兩塊ADC的測試結(jié)果均出現(xiàn)相同的問題。評估板從未更改過。
測試結(jié)果如附圖所示。
圖1使用PSIEVM測試ADS7057
發(fā)表于 11-22 13:16
ESD HBM測試結(jié)果差異較大的原因,通常包括設備/儀器差異、?校準和維護水平不同、?環(huán)境條件差異、?測試樣本差異、?測試操作員技能和經(jīng)驗差異以及測
發(fā)表于 11-18 15:17
?595次閱讀
EMC(電磁兼容性)電磁兼容測試是評估設備在電磁環(huán)境中能否正常工作且不對其他設備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在解讀EMC測試波形時,需要掌握一定的專業(yè)知識和技能。 一、EMC測試
發(fā)表于 10-21 17:48
?966次閱讀
編寫端到端測試用例是確保軟件系統(tǒng)從頭到尾能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。以下是一個詳細的指南,介紹如何編寫端到端測試用例: 一、理解端到端測試 端到端測試(End-to-End Testing
發(fā)表于 09-20 10:29
?580次閱讀
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《TLV1805-Q1 EVM ISO測試結(jié)果.pdf》資料免費下載
發(fā)表于 09-19 12:43
?0次下載
在電子測試和測量領域,探頭是連接被測設備(DUT)與測量儀器(如示波器)之間的關(guān)鍵組件。探頭的性能直接影響到測試結(jié)果的準確性和可靠性。其中,寄生電容是探頭設計中一個不容忽視的因素,它對測試
發(fā)表于 09-06 11:04
?460次閱讀
分: 使用
en.SOURCES-stm32mp1-openstlinux-5.15-yocto-kirkstone-mp1-v22.06.15.tar.xz
進行編譯測試,結(jié)果有報錯,但可以進uboot
因為芯片為
發(fā)表于 07-04 07:40
電源紋波測試用什么探頭 電源紋波測試是評估電源質(zhì)量的重要手段,它可以幫助我們了解電源在不同負載條件下的穩(wěn)定性和紋波表現(xiàn)。在進行電源紋波測試時,選擇合適的探頭至關(guān)重要,因為探頭的性能直接影響測試
發(fā)表于 06-10 17:16
?966次閱讀
PTCRB的測試用類認證等級CategoryA/B/EA類項:測試用例在商用系統(tǒng)上經(jīng)過完全驗證;必測項且需要結(jié)果為PASSB類項:測試用例在商用系統(tǒng)上經(jīng)過部分驗證(標準或系統(tǒng)有缺陷);
發(fā)表于 03-14 16:46
?458次閱讀
評論