硬件測(cè)試顧名思義就是對(duì)于硬件產(chǎn)品的測(cè)試 ，一個(gè)好的產(chǎn)品想要正常流通到市場(chǎng)上進(jìn)行售賣，那售賣前是必須要進(jìn)行想要的產(chǎn)品測(cè)試的，不然就是產(chǎn)品最終順利流通到市場(chǎng)，也會(huì)出現(xiàn)各種各樣的問(wèn)題，比如說(shuō)常?？吹降钠嚹骋恍吞?hào)或者某一批次的產(chǎn)品質(zhì)量存在問(wèn)題，產(chǎn)品設(shè)計(jì)不合理而導(dǎo)致大量召回的新聞。

所以硬件測(cè)試是對(duì)于產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中的重要把關(guān)，保證最終產(chǎn)品上市是一個(gè)相對(duì)完美的狀態(tài)。

那這個(gè)硬件測(cè)試到底是測(cè)試個(gè)什么東西呢？接下來(lái)會(huì)分幾期來(lái)詳細(xì)分析一下硬件測(cè)試的相關(guān)知識(shí)內(nèi)容。

電氣性能測(cè)試

g.晶振頻偏

晶振頻偏對(duì)于整個(gè)電子主板的影響還是很大的，一旦頻偏嚴(yán)重超差，會(huì)有很大的可能導(dǎo)致操作整機(jī)不上電或者系統(tǒng)無(wú)法正常運(yùn)行，所以對(duì)于晶振頻偏的測(cè)試是很重要的。

一般晶振分為無(wú)源晶振和有源晶振兩種，無(wú)源晶振需要電路匹配，單體無(wú)法產(chǎn)生起振；有源晶振則是本身就擁有一套包括IC在內(nèi)的一套匹配好的振蕩電路。

對(duì)于晶振頻偏的測(cè)試需要用到頻率分析儀，頻率計(jì)或者專業(yè)的晶振測(cè)試儀，在儀器上觀察晶振的頻率，一般一個(gè)晶振的產(chǎn)品信息會(huì)標(biāo)明該晶振的中心頻率，而實(shí)際測(cè)量的晶振頻率與晶振本身中心頻率的差值就是晶振頻偏。

h.電流

對(duì)于電流的測(cè)試是有很多的，比如說(shuō)電源電路，一些關(guān)鍵信號(hào)的測(cè)試點(diǎn)電流等，測(cè)試時(shí)就需要量測(cè)它們上電時(shí)的工作電流，如果某些電路的電流值超出正常范圍，則很有可能某些元器件存在問(wèn)題，所以就導(dǎo)致整個(gè)電流值的偏差，一般情況下至少需要兩塊及以上的電路板進(jìn)行對(duì)比確定標(biāo)準(zhǔn)值。

還有包括上電時(shí)啟動(dòng)電流的浪涌電流（inrush current）有多大，尤其是對(duì)于會(huì)做大功耗機(jī)械能的電子產(chǎn)品，比如說(shuō)加了電機(jī)的，就會(huì)有比較大的浪涌電流，在電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)遇阻時(shí)，電流以及功耗又會(huì)升高到降低，變化會(huì)很大。

i.待機(jī)功率

大多數(shù)的電子產(chǎn)品都有工作狀態(tài)和待機(jī)狀態(tài)，而待機(jī)狀態(tài)就是一個(gè)省電的模式，理論上都是要求沒(méi)有太多的功耗的，所以對(duì)于待機(jī)功率就有一定的要求，如果待機(jī)功率過(guò)高，就需要思考整個(gè)電路板中哪里需要修改，或是電路或是更換某些元器件，軟件上的更改程序也有可能。

對(duì)于待機(jī)功率的測(cè)試也很簡(jiǎn)單，使用專門(mén)的功率分析儀就可以直接看到整個(gè)電路板的輸出功率，它的精度，帶寬，方便性都比較可靠專業(yè)，如果預(yù)算有限，也可以使用功率計(jì)或者功率萬(wàn)用表。