在硬件行業(yè)中，對(duì)于信號(hào)的測(cè)試往往能直接反映出一個(gè)電子元器件的性能好壞，而對(duì)于不同速率的信號(hào)，所需要的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也是不一樣的。

對(duì)于低速信號(hào)，它的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)就會(huì)比較低，比如說(shuō)測(cè)量設(shè)備的帶寬要求，是否需要有源等等都會(huì)是非常低的標(biāo)準(zhǔn)，但是對(duì)于高速信號(hào)，這些條件就會(huì)變得非?？量蹋蝗?a href="http://www.delux-kingway.cn/soft/data/50-103/" target="_blank">測(cè)試測(cè)量結(jié)果就會(huì)出現(xiàn)較大偏差。

其中比較重點(diǎn)的方向就是信號(hào)完整性測(cè)試，對(duì)于信號(hào)完整性的測(cè)試手段有很多，有從頻域的，時(shí)域的角度，也有一些綜合考量的。具體的選擇需要根據(jù)信號(hào)的實(shí)際情況進(jìn)行判斷選用，做到事半功倍的效果。

下面就來(lái)看一下有哪些高速信號(hào)完整性測(cè)試的手段。

（4）TDR測(cè)試

TDR是英文Time Domain Reflectometry的縮寫(xiě)，中文名時(shí)域反射計(jì)，是測(cè)量傳輸線特性阻抗的，比如單端信號(hào)線，差分信號(hào)線，連接器線纜等等。

不過(guò)TDR測(cè)試時(shí)是有要求的，就是和實(shí)際測(cè)量的東西相結(jié)合，比如實(shí)際信號(hào)線的信號(hào)上升沿在100ps，那么輸出脈沖信號(hào)的上升沿也要設(shè)置在100ps左右。

TDR測(cè)試是有精度的，主要影響因素包括反射，校準(zhǔn)，讀數(shù)選擇等等，其中反射會(huì)導(dǎo)致PCB信號(hào)線測(cè)試值出現(xiàn)嚴(yán)重的偏差。

（5）時(shí)序測(cè)試

時(shí)序測(cè)試就是時(shí)間順序的測(cè)試，通常需要支持多個(gè)通道的示波器和多個(gè)探頭，利用示波器的觸發(fā)功能測(cè)試來(lái)抓取某一時(shí)刻的波形時(shí)序，不過(guò)因?yàn)橛卸鄠€(gè)探頭，所以操作時(shí)需要使用到機(jī)械手臂來(lái)做支撐或者多個(gè)人協(xié)助來(lái)抓取多個(gè)波形。

為什么要進(jìn)行時(shí)序的原因就是現(xiàn)在的電子產(chǎn)品器件的工作頻率越來(lái)越快，時(shí)序容限越來(lái)越小，所以很可能會(huì)產(chǎn)生時(shí)序問(wèn)題，而時(shí)序問(wèn)題又會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品不穩(wěn)定，所以高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)序測(cè)試也是非常重要的。

做時(shí)序測(cè)試常常會(huì)使用到兩個(gè)工具，示波器或者是邏輯分析儀，不過(guò)如果有的選擇的話，還是建議直接選擇多通道的示波器效果更好。

（6）頻譜測(cè)試

在產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)初期階段，這種測(cè)試運(yùn)用的比較少，但是到后期的產(chǎn)品整體系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，很多產(chǎn)品是會(huì)進(jìn)行頻譜測(cè)試的。

在該測(cè)試下，可以直觀的看到某些超標(biāo)的頻點(diǎn)，然后可以根據(jù)頻譜儀來(lái)分析板卡上具體哪一部分的頻譜比較高，從而找到超標(biāo)的根源。