模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）是數(shù)字電子系統(tǒng)中重要組成部分，用于捕獲外部世界的模擬信號，如聲音、圖像、溫度、壓力等，并將它們轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號0\1, 以供計算機(jī)進(jìn)行處理分析。ADC芯片在出廠交付之前，需要對產(chǎn)品的性能做各種測試，尤其對于要求可靠性和安全性較高的行業(yè)，諸如航空航天、醫(yī)用醫(yī)療、汽車電子等應(yīng)用領(lǐng)域，都需要對ADC芯片做嚴(yán)苛的性能測試驗證。

ADC測試參數(shù)主要包括靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)。靜態(tài)參數(shù)主要表示ADC實際測量的輸出曲線和理想輸出曲線的關(guān)系，而動態(tài)參數(shù)著重分析ADC的頻譜特性。

靜態(tài)測試常見參數(shù)

• DNL：對于給定的輸入范圍，ADC輸出之間的步進(jìn)量誤差，用于衡量實際輸出碼和理想輸出碼的差距。
• INL：積分非線性，整個輸入范圍內(nèi)的非線性誤差，即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
• Offset：積分非線性，整個輸入范圍內(nèi)的非線性誤差，即真實與理想情況下碼寬誤差的累計。
• Gain：增益誤差。輸出全是1時，對應(yīng)的實際電壓和理想電壓之差。
• TUE：在考慮所有誤差來源的情況下，評估轉(zhuǎn)換器的整體性能。
• Missing code：輸出范圍中未被轉(zhuǎn)換器所表示的編碼值。

圖1. ADC靜態(tài)參數(shù)測試

動態(tài)測試常見參數(shù)

• THD：總諧波失真，轉(zhuǎn)換過程中非線性引起的諧波失真。
• SNR：信噪比，輸出信號與內(nèi)部噪聲之比。
• SFDR：無雜散動態(tài)范圍，就是基頻信號不存在額外雜散分量的最大范圍。
• ENOB：實際有效位數(shù)。在噪聲和失真存在的情況下，ADC實際可達(dá)到的位數(shù)。

圖2. ADC動態(tài)參數(shù)測試

德思特ADC測試解決方案

圖3. 德思特ADC測試臺架ATX7006A

目前針對ADC芯片的性能測試，表現(xiàn)出朝著高采樣率、高精度等性能參數(shù)測試的發(fā)展趨勢。

德思特提供完整的ADC測試解決方案，能夠測試8-24位的ADC芯片，功能測試涵蓋幾乎所有典型的性能參數(shù)測試（包括靜態(tài)參數(shù)測試和動態(tài)參數(shù)測試）。我們采用緊湊型模塊化集成的ATE測試硬件臺架，配套專用的測試分析軟件ATView和WaveAnalyzer，給您提供ADC測試交鑰匙解決方案。

德思特ADC測試平臺特點(diǎn)

? 完全集成的ADC測試解決方案

? 采樣頻率高達(dá)200/400 MHz

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? 支持所有線性/動態(tài)測試

? 靈活和通用的數(shù)字IO

? 擴(kuò)展分析軟件ATView\WaveAnalyzer

? 靜態(tài)、直方圖測試

? 易于用戶自定義的測試腳本

圖4. 德思特ADC測試系統(tǒng)架構(gòu)

圖5. 德思特ADC測試配套軟件ATView 7006