欧美性猛交xxxx免费看_牛牛在线视频国产免费_天堂草原电视剧在线观看免费_国产粉嫩高清在线观看_国产欧美日本亚洲精品一5区

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

精智達(dá):DRAM晶圓老化測試設(shè)備進(jìn)入驗證階段

微云疏影 ? 來源:綜合整理 ? 作者:綜合整理 ? 2024-01-03 14:43 ? 次閱讀

1月2日,精智達(dá)發(fā)布最新研究報告,披露其半導(dǎo)體存儲器件測試設(shè)備的研發(fā)進(jìn)展順利。DRAM晶圓老化測試設(shè)備已完成開發(fā)與測試,步入驗證階段; DRAM測試機(jī)仍處研發(fā)環(huán)節(jié)。

公司聲稱,在半導(dǎo)體業(yè)務(wù)上,探針卡業(yè)務(wù)實現(xiàn)重大突破,開始量產(chǎn),前景看好。

至于面板業(yè)務(wù),公司正積極涉足MicroLED、Micro-OLED等微型顯示領(lǐng)域,已先后獲得數(shù)個Micro-LED檢測設(shè)備訂單。同時,關(guān)于微型顯示領(lǐng)域的技術(shù)開發(fā)和設(shè)備驗證工作正在穩(wěn)步展開。

談及公司近年來的對外投資行動,精智達(dá)強(qiáng)調(diào),標(biāo)的公司主營業(yè)務(wù)與公司業(yè)務(wù)具備高度協(xié)同效應(yīng),有助于加速推動測試設(shè)備的核心信號處理引擎芯片國產(chǎn)化進(jìn)程,同時 豐富產(chǎn)業(yè)鏈布局,提升在ATE設(shè)備市場中的核心競爭實力和供應(yīng)鏈可靠性。

更為詳細(xì)地說,標(biāo)的方提供存儲芯片測試開發(fā)服務(wù),技術(shù)水準(zhǔn)領(lǐng)先全球,所研發(fā)出的高性能數(shù)字混合信號測試芯片涵蓋DDR5等產(chǎn)品,并支持9Gbps傳輸協(xié)議。該芯片的問世將有助于加快芯片測試裝備的研發(fā)速度及提高測試效率。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    334

    文章

    27790

    瀏覽量

    223189
  • 檢測設(shè)備
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    641

    瀏覽量

    16908
  • MicroLED
    +關(guān)注

    關(guān)注

    30

    文章

    620

    瀏覽量

    38204
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    臺積電進(jìn)入代工2.0”,市場規(guī)模翻倍,押注先進(jìn)封測技術(shù)

    尤其是先進(jìn)封測技術(shù),以期推動臺積電進(jìn)入下一個業(yè)務(wù)擴(kuò)張的階段。 ? 代工2.0的機(jī)會 ? 在日前臺積電2024年第二季度業(yè)績的法說會上,臺積電董事長兼總裁魏哲家提出了“
    的頭像 發(fā)表于 07-21 00:04 ?3850次閱讀
    臺積電<b class='flag-5'>進(jìn)入</b>“<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>代工2.0”,市場規(guī)模翻倍,押注先進(jìn)封測技術(shù)

    一文看懂測試(WAT)

    隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,接受測試(Wafer Acceptance Test,WAT)在半導(dǎo)體制造過程中的地位日益凸顯。WAT測試的核心目標(biāo)是確保
    的頭像 發(fā)表于 01-23 14:11 ?457次閱讀
    一文看懂<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>測試</b>(WAT)

    功率器件測試及封裝成品測試介紹

    AP-200,中間為晶體管檢測儀IWATSU CS-10105C,右邊為控制用計算機(jī)。三部分組成了一個測試系統(tǒng)。 下圖所示為探針臺,主要對進(jìn)行電學(xué)檢測,分為載物臺、探卡、絕緣氣體供應(yīng)設(shè)備
    的頭像 發(fā)表于 01-14 09:29 ?318次閱讀
    功率器件<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>測試</b>及封裝成品<b class='flag-5'>測試</b>介紹

    背面涂敷工藝對的影響

    一、概述 背面涂敷工藝是在背面涂覆一層特定的材料,以滿足封裝過程中的各種需求。這種工藝不僅可以提高芯片的機(jī)械強(qiáng)度,還可以優(yōu)化散熱性能,確保芯片的穩(wěn)定性和可靠性。 二、材料選擇
    的頭像 發(fā)表于 12-19 09:54 ?384次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>背面涂敷工藝對<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>的影響

    #高溫CV測試 探索極限,駕馭高溫挑戰(zhàn)!

    武漢普賽斯儀表有限公司
    發(fā)布于 :2024年12月10日 16:46:11

    WAT接受測試簡介

    WAT是英文 Wafer Acceptance Test 的縮寫,意思是接受測試,業(yè)界也稱WAT 為工藝控制監(jiān)測(Process Control Monitor,PCM)。
    的頭像 發(fā)表于 11-25 15:51 ?592次閱讀
    WAT<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>接受<b class='flag-5'>測試</b>簡介

    表面污染及其檢測方法

    本身、潔凈室、工藝工具、工藝化學(xué)品或水。污染一般可以通過肉眼觀察、過程檢查、或是最終器件測試中使用復(fù)雜的分析設(shè)備檢測到。 ▲硅
    的頭像 發(fā)表于 11-21 16:33 ?564次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>表面污染及其檢測方法

    是德科技發(fā)布3kV高壓測試系統(tǒng)

    是德科技近日推出了全新的4881HV高壓測試系統(tǒng),進(jìn)一步豐富了其半導(dǎo)體測試產(chǎn)品線。
    的頭像 發(fā)表于 10-14 17:03 ?490次閱讀

    淺談影響分選良率的因素(1)

    制造后,被送到分選測試儀。在測試期間,每個芯片都會進(jìn)行電氣
    的頭像 發(fā)表于 10-09 09:43 ?438次閱讀
    淺談影響<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>分選良率的因素(1)

    碳化硅和硅的區(qū)別是什么

    以下是關(guān)于碳化硅和硅的區(qū)別的分析: 材料特性: 碳化硅(SiC)是一種寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有比硅(Si)更高的熱導(dǎo)率、電子遷移率和擊穿電場。這使得碳化硅
    的頭像 發(fā)表于 08-08 10:13 ?1878次閱讀

    設(shè)備老化測試遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng)解決方案

    檢測的設(shè)備,能夠?qū)a(chǎn)品設(shè)備置于人工營造的惡劣環(huán)境中,從而測試產(chǎn)品的性能。 通過對多組測試數(shù)據(jù)的長時間分析比較,企業(yè)可以有效了解設(shè)備的使用壽命
    的頭像 發(fā)表于 07-30 15:49 ?598次閱讀
    <b class='flag-5'>設(shè)備</b><b class='flag-5'>老化</b><b class='flag-5'>測試</b>遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng)解決方案

    北方華創(chuàng)微電子:清洗設(shè)備定位裝置專利

    該發(fā)明涉及一種清洗設(shè)備定位裝置、定位方法。其中,
    的頭像 發(fā)表于 05-28 09:58 ?451次閱讀
    北方華創(chuàng)微電子:<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>清洗<b class='flag-5'>設(shè)備</b>及<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>定位裝置專利

    一文解析半導(dǎo)體測試系統(tǒng)

    測試的對象是,而由許多芯片組成,
    發(fā)表于 04-23 16:56 ?1864次閱讀
    一文解析半導(dǎo)體<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng)

    半導(dǎo)體晶片的測試針測制程的確認(rèn)

    將制作在上的許多半導(dǎo)體,一個個判定是否為良品,此制程稱為“針測制程”。
    的頭像 發(fā)表于 04-19 11:35 ?993次閱讀
    半導(dǎo)體晶片的<b class='flag-5'>測試</b>—<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>針測制程的確認(rèn)

    TC WAFER 測溫系統(tǒng) 儀表化溫度測量

    測溫系統(tǒng)對于保證制造過程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品的一致性非常關(guān)鍵。 “儀表化溫度測量”可能指的是使用儀表(如溫度計、熱像儀等)對溫度進(jìn)行精確測量的過程。這種測量可以幫助制造人員實時了解
    的頭像 發(fā)表于 03-08 17:58 ?1164次閱讀
    TC WAFER   <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>測溫系統(tǒng) 儀表化<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>溫度測量