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納米軟件分享:如何測量開關(guān)電源的損耗情況?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源: 納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者: 納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-01-09 15:20 ? 次閱讀

開關(guān)電源在實(shí)際使用過程中會產(chǎn)生損耗,損耗過大會直接影響到開關(guān)電源的轉(zhuǎn)換效率和性能,從而導(dǎo)致設(shè)備無法正常運(yùn)行。因此測試開關(guān)電源的損耗情況也是非常重要的步驟。

高壓空載運(yùn)行測試用來檢測開關(guān)電源的損耗情況,在空載情況下,帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊會變?yōu)橛查_關(guān),損耗也因此增加。低壓滿載運(yùn)行是測試在最大輸入電流時(shí)開關(guān)電源的損耗情況。一般來說開關(guān)電源在低壓輸入、滿載輸出狀態(tài)下的效率最低,此時(shí)開關(guān)電源的發(fā)熱最為嚴(yán)重。那么高壓空載測試方法如何檢測開關(guān)電源的損耗情況呢?

該測試需要在規(guī)格書規(guī)定的最高工作溫度下進(jìn)行:

1.調(diào)整開關(guān)電源輸入電壓為輸入過壓保護(hù)點(diǎn)-3v,輸出為最低輸出電壓,空載運(yùn)行。此時(shí)開關(guān)電源占空比最小,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),檢測開關(guān)電源是否損壞;

2.調(diào)整開關(guān)電源輸入電壓為欠壓點(diǎn)+3v,輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài)。此時(shí)開關(guān)電源占空比最大,運(yùn)行2小時(shí),檢測開關(guān)電源是否損壞;

3.調(diào)整開關(guān)電源輸入電壓為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),檢測開關(guān)電源是否損壞;

4.調(diào)整開關(guān)電源輸入電壓為過壓點(diǎn)-3v,輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)開關(guān)電源占空比最大,運(yùn)行2小時(shí),檢測開關(guān)電源是否損壞;

5.調(diào)整開關(guān)電源輸入電壓為效率最低點(diǎn)時(shí)的輸入電壓,輸出為最高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),檢測開關(guān)電源是否損壞。

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開關(guān)電源損耗是常規(guī)的測試項(xiàng)目之一,以評估開關(guān)電源的性能、可靠性和穩(wěn)定性,從而確保電子設(shè)備的正常工作。開關(guān)電源測試系統(tǒng)是一款智能自動化測試系統(tǒng),經(jīng)濟(jì)適用,針對用戶具體測試需求定制測試方案,從儀器選型到軟件開發(fā),提供一體化測試解決方案。開關(guān)電源自動測試系統(tǒng)的優(yōu)勢主要體現(xiàn)在:

1. 靈活使用儀器

系統(tǒng)對測試儀器進(jìn)行二次封裝,兼容多種測試儀器型號文字指令,自定義設(shè)備指令名稱。用戶可以任意更換設(shè)備完成測試,而且可以充分利用測試設(shè)備,自動化測試不用捆綁固定儀器。

2. 靈活的操作流程

系統(tǒng)采取無代碼編程模式,技術(shù)人員不用學(xué)習(xí)編程也可以完成測試,程序開發(fā)和維護(hù)不用集中在一個(gè)人身上,用戶也可以自己開發(fā)、測試,統(tǒng)一管理測試方案和數(shù)據(jù)。同時(shí),用戶也可以不用買多套ATE、維護(hù)多套ATE,降低成本。

3. 靈活的數(shù)據(jù)報(bào)告

系統(tǒng)會將測試指標(biāo)編碼化,支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出,用戶也可以自定義更改報(bào)告模板。

4. 數(shù)據(jù)分析具有靈活性

系統(tǒng)內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能,可以對接MES上傳數(shù)據(jù),會及時(shí)、準(zhǔn)確、多維度對測試指標(biāo)進(jìn)行自動分析,快速分析數(shù)據(jù),查找問題。

5. 權(quán)限管理

系統(tǒng)支持權(quán)限管理功能,可以針對不同人員開發(fā)不同的權(quán)限,可以保密數(shù)據(jù)。

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