電源管理芯片作為電子產(chǎn)品的重要組成部分，其性能測(cè)試必不可少。通過(guò)各項(xiàng)指標(biāo)測(cè)試，評(píng)估電源管理芯片是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范，及其穩(wěn)定性和可靠性。

可通過(guò)檢測(cè)以下指標(biāo)參數(shù)來(lái)評(píng)估電源芯片的性能：

輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、反饋端電壓；

欠壓關(guān)斷及欠壓恢復(fù)滯后、輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制；

啟動(dòng)過(guò)沖及啟動(dòng)延時(shí)、負(fù)載躍變電壓、負(fù)載躍變恢復(fù)、效率(每路)；

效率曲線、工作開(kāi)關(guān)頻率測(cè)試、SW占空比測(cè)試、輸入輸出信號(hào)相位差測(cè)試

用ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn)電源管理芯片性能的自動(dòng)化測(cè)試，需要以下測(cè)試設(shè)備：

直流電源

電子負(fù)載

示波器

萬(wàn)用表

ATEBOX（用于程控儀器與流程調(diào)動(dòng)）

測(cè)試機(jī)柜（按需定制）

測(cè)試線纜：電源線、通訊線、測(cè)試線等

1. 在測(cè)試之前，需要將被測(cè)電源芯片、測(cè)試儀器、ATEBOX與測(cè)試PC正確連接。

2. 登錄ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)，進(jìn)入“方案運(yùn)行”，選擇已經(jīng)創(chuàng)建好的測(cè)試方案，點(diǎn)擊“運(yùn)行”開(kāi)始測(cè)試。系統(tǒng)通過(guò)ATEBOX程控儀器，并且會(huì)按照已經(jīng)創(chuàng)建好的方案流程開(kāi)始測(cè)試。

3. 測(cè)試過(guò)程中，系統(tǒng)會(huì)采集測(cè)試儀器所測(cè)的數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)、波形圖實(shí)時(shí)展示在系統(tǒng)的測(cè)試面板中。測(cè)試結(jié)束后，系統(tǒng)會(huì)以Pass、Fail指標(biāo)反饋測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)判別產(chǎn)品是否合格。

4. 測(cè)試結(jié)束后，在記錄報(bào)告中查看測(cè)試詳情，選擇需要導(dǎo)出的數(shù)據(jù)和報(bào)告模板，導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告。

5. 分析電源芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)，可在數(shù)據(jù)洞察界面，用多類(lèi)型圖表展示數(shù)據(jù)，幫助分析、評(píng)估其性能。

ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)測(cè)試電源管理芯片性能，可以滿足基本項(xiàng)目測(cè)試，快速分析產(chǎn)品性能，幫助電源芯片的優(yōu)化提升。該系統(tǒng)支持測(cè)試數(shù)據(jù)以word、excel格式導(dǎo)出，可自定義報(bào)告模板。其內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能可以以多種類(lèi)型的圖表直觀展示測(cè)試數(shù)據(jù)，便于觀察數(shù)據(jù)變化，為電源芯片的性能分析提供數(shù)據(jù)支持。

審核編輯 黃宇