在精密電子設(shè)備的研發(fā)過(guò)程中，紋波的抑制扮演著至關(guān)重要的角色。這種在直流電壓處理過(guò)程中產(chǎn)生的波動(dòng)，對(duì)微模塊的性能有著直接的影響，因此輸出紋波測(cè)試是電源芯片測(cè)試的重要項(xiàng)目之一。

紋波如何測(cè)試呢？

以輸入電壓4.5-16V，輸出電壓0.6-5.3V，滿載電流13A的單入雙出的電源管理芯片為例，電源芯片測(cè)試系統(tǒng)NSAT-2000通過(guò)測(cè)量其波形的峰峰值，判斷產(chǎn)品輸出的穩(wěn)定程度。其峰峰值越小，產(chǎn)品越穩(wěn)定。具體測(cè)試步驟如下：

1. 通過(guò)拖拽儀器標(biāo)準(zhǔn)指令節(jié)點(diǎn)，在平臺(tái)中快速創(chuàng)建紋波測(cè)試項(xiàng)目。在創(chuàng)建過(guò)程中要注意參數(shù)設(shè)置，以及負(fù)載設(shè)置為CC模式等。

紋波測(cè)試項(xiàng)目搭建，可靈活修改

2. 拖拽剛才創(chuàng)建的測(cè)試項(xiàng)目，建立測(cè)試方案

3. 連接好各種測(cè)試設(shè)備與被測(cè)產(chǎn)品，接通電源，運(yùn)行對(duì)應(yīng)的測(cè)試方案，開(kāi)始測(cè)試。測(cè)試結(jié)果以及抓取的示波器截圖會(huì)實(shí)時(shí)展示在測(cè)試面板中。

測(cè)試面板實(shí)時(shí)展示測(cè)試數(shù)據(jù)，可靈活調(diào)整

4. 測(cè)試結(jié)束后，可查看測(cè)試記錄，包括測(cè)試員、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試數(shù)據(jù)等信息。

詳細(xì)查看測(cè)試記錄信息，數(shù)據(jù)可追溯

5. 選擇所測(cè)數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，便于查看、傳閱被測(cè)產(chǎn)品紋波測(cè)試數(shù)據(jù)。

測(cè)試報(bào)告一鍵生成，模板可定制

6. 通過(guò)平臺(tái)的數(shù)據(jù)洞察功能分析數(shù)據(jù)，判斷產(chǎn)品輸出紋波是否符合設(shè)計(jì)，并指導(dǎo)電源芯片的優(yōu)化提升。

多方位分析數(shù)據(jù)，快速查找問(wèn)題，幫助產(chǎn)品優(yōu)化

納米軟件為客戶提供一站式自動(dòng)化測(cè)試服務(wù)，工程師會(huì)根據(jù)要求創(chuàng)建好測(cè)試項(xiàng)目和方案，系統(tǒng)交付后客戶直接運(yùn)行方案就可以開(kāi)始測(cè)試。通過(guò)對(duì)電源芯片的輸出紋波進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，我們不僅能夠精確地檢測(cè)和優(yōu)化電源管理芯片的紋波問(wèn)題，還能夠?yàn)槠髽I(yè)帶來(lái)更高的生產(chǎn)自動(dòng)化水平，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性。

審核編輯 黃宇