射頻芯片的性能優(yōu)劣直接決定了通信設(shè)備的效能，因此，對(duì)其性能的精確測(cè)試顯得尤為關(guān)鍵。接下來(lái)，和納米軟件一起了解那些不可或缺的測(cè)試指標(biāo)。

一、射頻芯片測(cè)試項(xiàng)目

在測(cè)試射頻芯片之前，我們需要先了解衡量和評(píng)估芯片性能的指標(biāo)，從而判斷射頻芯片是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范和要求。

1. 駐波

用來(lái)評(píng)估射頻芯片與傳輸線之間的阻抗匹配程度，駐波會(huì)影響到信號(hào)傳輸?shù)馁|(zhì)量，造成信號(hào)失真、衰減等。

2. 插入損耗

指在信號(hào)通過(guò)頻段內(nèi)，?信號(hào)的幅度損耗值。插入損耗直接影響著信號(hào)傳輸?shù)男屎唾|(zhì)量。

3. 帶寬

指射頻芯片能夠有效工作的頻率范圍，是評(píng)估信號(hào)傳輸能力的指標(biāo)之一，影響著信號(hào)傳輸?shù)乃俣群头秶?/p>

4. 帶外抑制

帶外抑制指芯片對(duì)偏離其設(shè)計(jì)工作頻段范圍外的信號(hào)的抑制能力，對(duì)減少干擾、保證通信質(zhì)量有著重要作用。

5. 群延遲

群延遲是射頻芯片性能測(cè)試中的重要指標(biāo)之一，它影響著信號(hào)的每個(gè)頻率分量的相位，從而影響信號(hào)傳遞的正確性。

6. 輸入輸出阻抗

輸入輸出阻抗對(duì)于信號(hào)的準(zhǔn)確傳輸和電路性能的提升有著重要影響。

7. 功耗

是指射頻芯片在不通過(guò)工作狀態(tài)下的功耗，是芯片的一個(gè)重要技術(shù)指標(biāo)，直接影響著無(wú)線通信設(shè)備的能效和續(xù)航能力。

8. 頻率的穩(wěn)定性

頻率穩(wěn)定性是指在一段時(shí)間內(nèi)射頻芯片輸出頻率的變化程度。頻率穩(wěn)定性較高，說(shuō)明芯片輸出的頻率在不同環(huán)境條件下變化較小，提供的射頻信號(hào)更穩(wěn)定。

NSAT-1000射頻自動(dòng)化測(cè)試集成系統(tǒng)

二、射頻芯片S參數(shù)測(cè)試

S參數(shù)是評(píng)估和衡量射頻芯片性能的一個(gè)重要指標(biāo)，通過(guò)測(cè)量S參數(shù)，可以評(píng)估射頻芯片在信號(hào)傳輸中的損耗、反射、散射等影響因素，為射頻芯片的優(yōu)化提升提供方向。射頻芯片S參數(shù)測(cè)試主要包括：

S11：反射系數(shù)，用來(lái)衡量信號(hào)從端口1反射回源端的程度。

S21：傳輸系數(shù)，用來(lái)描述信號(hào)從源端傳輸?shù)截?fù)載的能力。

S12：傳輸系數(shù)，用于描述信號(hào)從負(fù)載端反向傳輸?shù)皆炊说男盘?hào)強(qiáng)度。

S22：反射系數(shù)，用來(lái)衡量端口2接收到的信號(hào)的反射情況。

射頻芯片S參數(shù)測(cè)試通常用網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)檢測(cè)，測(cè)試設(shè)備的選擇對(duì)于測(cè)試射頻芯片也是非常重要的。隨著自動(dòng)化測(cè)試需求日益強(qiáng)烈，射頻自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備成為芯片測(cè)試過(guò)程中的重要組成部分。

S參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試

NSAT-1000射頻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成是專門針對(duì)各類元器件S參數(shù)測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，通過(guò)測(cè)試軟件程控網(wǎng)分，實(shí)現(xiàn)兩者之間的通訊，完成射頻芯片S參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試解放了人力，大幅提高了測(cè)試速度和效率，并且系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)采集和分析數(shù)據(jù)，避免了手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)出錯(cuò)和人工分析工作量大、耗時(shí)的問(wèn)題。

數(shù)據(jù)多維度智能分析

無(wú)線通信的未來(lái)依賴于射頻芯片的穩(wěn)定性能，而納米軟件的自動(dòng)化測(cè)試方案正是這一未來(lái)的有力支撐。我們期待與您攜手，共同推動(dòng)無(wú)線通信技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步。

審核編輯 黃宇