測試點(diǎn)之間的間距決定了使用何種樣式的測試探針。以下是幾種常見的測試探針樣式和其適用的間距范圍：

100mil測試探針：這種樣式的測試探針提供了最佳的價(jià)格、性能和可靠性，并且有助于打造堅(jiān)固耐用的測試夾具。這種探針適用于測試點(diǎn)間距大于等于100mil的情況。

50mil測試探針：這種樣式的測試探針提供的價(jià)格、性能和可靠性相對較差，并且需要定期的特殊保養(yǎng)。這種探針適用于測試點(diǎn)間距在50mil左右的情況。

小于50mil的測試點(diǎn)間距：對于小于50mil的測試點(diǎn)間距，不建議使用50mil測試探針。使用50mil測試探針可能會導(dǎo)致接觸不良、信號干擾等問題。因此，嘗試應(yīng)完全避免或盡量減少小于50mil的測試點(diǎn)間距。

圖：測試點(diǎn)到測試點(diǎn)間距

中心間距測試點(diǎn)之間的距離取決于用于制造測試裝置的探針的類型，有三種類型，根據(jù)要求的觸點(diǎn)有不同的頭：

尖頭：被測點(diǎn)是凸?fàn)畹钠狡瑺罨蛘哂醒趸F(xiàn)象

傘形頭：被測點(diǎn)是孔或者是平片狀或凹狀

平頭：被測點(diǎn)是凸起平片狀

內(nèi)碗口平頭：被測點(diǎn)是凸起

皇冠頭：被測點(diǎn)是凸起或平片狀

九爪頭：被測點(diǎn)是平片或者凹狀

三針頭：被測點(diǎn)是凹狀

圓頭：被測點(diǎn)是間距較密且凸起或平片狀