由于人們不斷要求電源具有更高性能和更高功率密度，開關(guān)頻率也變得越來越高， 這要求數(shù)字控制器產(chǎn)品順應(yīng)市場趨勢的變化。Microchip 專為電源應(yīng)用而設(shè)計的dsPIC33EP ‘GS’ 系列數(shù)字信號控制器就是一種典型的示例。該系列器件引入了新的性能，可縮短線性差分方程（LDE）的執(zhí)行時間并減少系統(tǒng)的總延時。這些性能有助于提高控制環(huán)路（1 個或多個）的采樣率和減少相位損耗，從而實現(xiàn)環(huán)路增益性能的提升。

在數(shù)字供電單元（PSU）中，有幾個與單片機相關(guān)的影響環(huán)路增益性能的因素。這些因素包括最大采樣率、執(zhí)行補償算法（1 個或多個）所需的時間、模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的采樣/轉(zhuǎn)換時間以及單片機的運行速度。對于峰值電流模式控制轉(zhuǎn)換器而言，比較器的速度以及控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）的精度/速度也會對 PSU 的環(huán)路增益性能產(chǎn)生影響。因此在挑選特定應(yīng)用所需的單片機時需要考慮到所有這些因素。下面，讓我們一起來了解下 Microchip dsPIC33EP ‘GS’ 系列器件如何提升新一代電源應(yīng)用的環(huán)路增益性能。

新型 dsPIC33EP 系列器件最顯著的特點是運行頻率的提高。與現(xiàn)有 dsPIC33FJ 系列器件相比，新型 dsPIC33EP 系列器件的運行頻率已提高到 70 MHz，實現(xiàn)了 2,000萬條指令每秒（MIPS）的最大增幅。以執(zhí)行速率為 250 kHz 即 60 條指令的控制環(huán)路為例，如果dsPIC33FJ 系列器件則會消耗總共 15 MIPS 或 30%的可用資源。而如果換成新的 dsPIC33EP 系列處理器并執(zhí)行相同的采樣率，同一控制環(huán)路代碼只會消耗 20%的可用 CPU 資源。而如果遷移到新的 dsPIC33EP 系列器件，那么在消耗同樣比例的 MIPS 時，控制環(huán)路的執(zhí)行速率可達到 350 kHz。進一步分析表明，在特定的交叉頻率下，相位損耗可以減少 29%。如公式1 所示，我們可以通過采樣頻率與交叉頻率的關(guān)系計算出相位損耗。

公式1：因采樣而產(chǎn)生的相位損耗

在大多數(shù)使用數(shù)字補償器的 PSU 中，通常由一個簡易的 LDE 來進行功率級控制的管理。使用 LDE 是眾所周知的一種常用方式，但數(shù)字化實現(xiàn)方法有利于實施非線性控制算法。不過，本文將不就非線性技術(shù)展開討論。

LDE 的大小取決于補償器的順序以及用于將連續(xù)頻率函數(shù)變換為離散頻率函數(shù)的方法（向前/向后歐拉、雙線性變換等）。簡單來說，LDE 就是將控制誤差和先前的控制輸出進行線性組合以產(chǎn)生電流控制輸出的數(shù)學(xué)表達式。見公式2 的 3P3Z 線性差分方程示例。

公式2：3P3Z 線性差分方程

從圖中可以看出，對于 3P3Z 補償器而言需要 7 個乘法和加法來確定所需的控制輸出。這類算術(shù)非常適合 dsPIC33 系列器件的架構(gòu)。在 7 個單周期指令中，使用乘法累加（MAC）指令就可以完成這些指令的處理。但是這將會產(chǎn)生額外的軟件開銷， 包括：推入/彈出工作寄存器、工作寄存器數(shù)據(jù)的輸入/輸出、重置數(shù)組，以及鉗位
/縮放控制輸出。這一開銷可能會影響控制環(huán)路的執(zhí)行速率從而造成相位裕度減少。

如前所述，當 MIPS 增加時控制環(huán)路的執(zhí)行時間減少了很多。對于新型 dsPIC33EP‘GS’系列器件來說，由于添加了備用工作寄存器因而性能得以進一步提升。這些器件提供兩個額外的工作寄存器存儲區(qū)，每個區(qū)域各有 15 個工作寄存器，也可作永久寄存器使用。這意味著在器件初始化階段就可以將諸如鉗位限制、縮放因子、指針系數(shù)等數(shù)據(jù)預(yù)先加載到合適的備用工作寄存器中。然后我們可以將這些寄存器區(qū)域關(guān)聯(lián)至一個既定的中斷優(yōu)先級，使得只有控制環(huán)路軟件才有機會進行訪問。這樣就消除了將工作寄存器推入/彈出堆棧的需要，也將減少在執(zhí)行補償算法時將數(shù)據(jù)輸入工作寄存器所需的開銷。

圖 1 是借助 Microchip 硬件加速補償器功能來成功使用備用工作寄存器組的一個示例。尤其要牢記的是，特定指令需要特定的寄存器，這限制了數(shù)據(jù)可以存儲的地方。

圖 1：備用工作寄存器示例

我們來看一下高頻控制環(huán)路中備用工作寄存器對 MIPS 消耗的影響。之前使用dsPIC33FJ 器件時，若每隔一個開關(guān)周期要調(diào)用一次補償算法，而現(xiàn)在使用新型器件，消耗相同的 MIPS 可能每一個開關(guān)周期就能調(diào)用一次補償算法。圖 1 所示的是因采樣過程而產(chǎn)生的相位損耗。相位損耗程度取決于交叉頻率和采樣頻率。因此， 如果采樣速率增加一倍，則相位損耗程度會減少一半。也就是說，在使用了備用工作寄存器后，因器件運行速度的影響所造成的相位損耗減少的比例從 29%提高到了50%。

現(xiàn)在我們舉例來說明因采樣頻率造成的相位損耗減少。比如，在采樣頻率為 175 kHz、帶寬為 10 kHz 的系統(tǒng)中，計算出的相位損耗大約為 10度。而在同樣一個系統(tǒng)中，如果采樣頻率為 350 kHz，則相位損耗僅為 5 度。與 dsPIC33FJ 系列器件相 比，dsPIC33EP 系列器件在使用相同比例 MIPS 的條件下可以實現(xiàn)更多的相位裕度。

上文表明，dsPIC33EP 系列器件的備用工作寄存器和更快的執(zhí)行速度可以獲得較高的采樣頻率，從而減少了相位損耗。接下來，我們再討論一下其它可增加相位裕度并進而提升環(huán)路增益性能的特定于器件的外設(shè)與技巧。

dsPIC33EP ‘GS’系列器件包含一個集成了多個逐次逼近寄存器（SAR）內(nèi)核的新型 12 位 ADC。該器件能夠同時對多個模擬輸入進行采樣，并且只需不到 300 ns 的時間即可獲得專用 12 位結(jié)果。而專用 SAR 內(nèi)核會持續(xù)跟蹤輸入信號，這意味著采樣是同步進行的，沒有額外的采樣時間。當 ADC 檢測到一個觸發(fā)事件時就會自動啟動轉(zhuǎn)換過程。請記住在控制環(huán)路中，采樣/轉(zhuǎn)換時間被視作一種延時，該 ADC 將采樣/轉(zhuǎn)換總延時降至最低，進而減少相位裕度損耗。

該 ADC 擁有一個獨特的性能，即可在轉(zhuǎn)換完成之前產(chǎn)生中斷。這一 ADC 早期中斷功能，一旦允許，可有助減少從 ADC 完成轉(zhuǎn)換到控制環(huán)路軟件啟動（中斷）之間的中斷延遲。最大的可選早期中斷時間為 8 個 ADC 時鐘（Tad）。在吞吐率最快的情況下，這將進入補償算法所需的時間減少了 114 ns。這是另一種減少控制環(huán)路軟件中總延時的方法。詳情請參見圖 2 所示的 ADC 早期中斷。

圖 2：ADC 早期中斷時序

ADC 模塊的另一個特性是包含多個數(shù)字比較器，可經(jīng)過配置以便當轉(zhuǎn)換后的模擬結(jié)果（未）超出給定的一組限值時引發(fā)中斷。這一性能看上去似乎不會直接影響采樣頻率，但事實上是絕對會的。當軟件只在故障狀態(tài)下才會運行，這種情況消耗的MIPS 更少。這意味著我們是能夠增加控制環(huán)路采樣率的。這高度依賴于軟件，而且并不是所有的應(yīng)用程序都能夠利用這個新功能的優(yōu)勢。但是，在諸如輸入電壓及溫度監(jiān)控等應(yīng)用中，它可以減少 CPU 的工作負荷。

為了進一步減少從 ADC 觸發(fā)到控制輸出回寫的時間，可以使用 PWM ISR 來代替 ADC 中斷服務(wù)程序（ISR）和 ADC 早期中斷功能。在通用情況下，PWM 會觸發(fā) ADC 以啟動轉(zhuǎn)換過程，但是現(xiàn)在它也將同時產(chǎn)生自身的中斷事件。憑借PWM ISR 內(nèi)的補償算法，軟件將在獲取 ADC 的電流反饋數(shù)據(jù)之前開始執(zhí)行補償算法。軟件執(zhí)行和 ADC 轉(zhuǎn)換完成之間大概有 143 ns 的時間。也就是說，當單片機以最大的器件頻率運行時， 從 ADC 結(jié)果緩沖區(qū)取數(shù)之前需要放置至少 10 條指令。如果補償算法是以這樣的一種方式建構(gòu)以便可以使用這一技術(shù)，那么 它將能夠把進入補償程序的時間減少45%。圖2 即帶有 PWM 中斷服務(wù)程序的早期中斷時序示例。要特別注意的是，這個方法只能在專用 SAR 內(nèi)核的時序可預(yù)測的情況下應(yīng)用。

補償算法的結(jié)構(gòu)對更新控制輸出變量所需時間的影響非常大。有了備用工作寄存器， 該算法的寫法可以改為在更新控制輸出之前，只需將電流誤差乘以系數(shù) B0，所得結(jié)果再加上前一個周期的累加輸出即可。當然，落后的標準化和鉗位仍然存在，但 是這將顯著減少控制輸出回寫時間而無需使用專用的累加器。圖 3 所示的即如何建構(gòu)補償算法以實現(xiàn)最快更新時間的范例。現(xiàn)在，一旦進入補償算法，控制輸出回寫 只需要不到 300 ns 的時間。在接下來的章節(jié)中，我們將會清楚地了解它的作用。

圖 3：3P3Z 硬件加速補償框圖

現(xiàn)在讓我們來看看所有這些不同的功能對于相位損耗的影響。在電壓模式控制和平均電流模式控制系統(tǒng)中，我們有機會在 50%關(guān)斷時間里對輸出電容電壓和電感電流進行采樣。而最常見的方法是在 50%導(dǎo)通時間里進行采樣，以便有足夠的時間在下一個 PWM 周期開始之前處理該控制算法。有了上述所有功能，就能夠很容易地在關(guān)斷時間里對控制反饋信號進行采樣，并在下一個 PWM 周期開始之前完成控制輸出回寫。圖 4 所示為一個實現(xiàn)范例中不同開關(guān)頻率條件下估計的占空比限值，而圖 7 所示為 50%關(guān)斷時間時序圖。相位裕度的增加依賴于占空比，如果以 50%的占空比進行平均，那么與 50%導(dǎo)通時間條件下的測量相比，相位損耗會減少一半。

圖 4：不同觸發(fā)機制下最小/最大導(dǎo)通時間的關(guān)系

dsPIC33EP ‘GS’ 系列器件擁有即時更新模式，一旦啟用，將會在寫入特殊功能寄存器（SFR）的同一周期完成 PWM 參數(shù)更新。這適用于相位、周期、死區(qū)時間和占空比，分辨率均為 1 ns。在 50%關(guān)斷時間的情況下，我們曾提到控制輸出回寫要在下一個 PWM 周期開始之前完成，這就限制了在給定開關(guān)頻率條件下的最大導(dǎo)通時間。而如果啟用即時更新功能，這個問題就不存在了。這一性能使得我們現(xiàn)在可以繼續(xù)提高占空比限值和/或開關(guān)頻率限值，從而有助于更進一步減少相位裕度損耗。圖5所示為兩種 50%關(guān)斷時間實現(xiàn)方式的時序圖。

圖 5：50%導(dǎo)通/關(guān)斷時間觸發(fā)時序圖

減少相位裕度誤差最好的情況就是在 50%導(dǎo)通時間里對控制反饋信號進行采樣而同時確保新的控制輸出被施加到當前 PWM 周期的后一個邊沿。這意味著我們要基于同一 PWM 周期內(nèi)剛被調(diào)用的補償器輸出對 PWM 占空比的有效邊沿進行更新。而這將促成數(shù)字系統(tǒng)中可能實現(xiàn)的最佳相位裕度。然而我們要注意的是，這只是實現(xiàn)最佳用 例的情況，由于受限于最小導(dǎo)通時間，并不能在所有的應(yīng)用中實現(xiàn)。請參見圖 6 不同開關(guān)頻率條件下占開關(guān)周期不同比例的最小導(dǎo)通時間。以開關(guān)頻率為 100 kHz 的升壓 PFC 為例，所需最小導(dǎo)通時間的周期占比將接近于 10%。由于最小占空比發(fā)生在 AC 線電壓的峰值，在額定 220V 輸入電壓條件下，占空比要求約為 22%，這就留出了充足的余量進行即時更新，以應(yīng)對控制輸出的大幅變化。隨著輸入電壓進一步 增加，即時更新看上去逐漸趨同于周期更新的結(jié)束，并且相位裕度也將減少。然而， 這種情況只發(fā)生在標稱條件之外。如圖 7 所示，我們還可以看到 50%導(dǎo)通時間觸發(fā)用例時序圖與 50%導(dǎo)通時間觸發(fā)機制的對比。

我們使用同步降壓轉(zhuǎn)換器結(jié)合本文討論的所有技巧進行了實踐。結(jié)果顯示，采樣速率從每隔一個 PWM 周期（175 kHz）增加到了每一個 PWM 周期（350 kHz）但無需消耗更多的 MIPS，補償器被編寫成可實現(xiàn)到控制輸出變量的快速回寫，PWM 中斷也生成用以處理控制環(huán)路，同時采用 50%導(dǎo)通時間并啟用即時更新功能。我們可以觀察到相位裕度因此增加了大約 16 度。環(huán)路增益性能開始稍顯穩(wěn)定并維持在相位裕度僅為 46 度的水平，并最終趨近于 62 度模擬環(huán)路。本文所討論的減少相位損耗的技巧并不是萬能的；但是它們適用于范圍廣泛的設(shè)計并且能在一定程度上提升環(huán)路增益。