高分辨照片可以獲得材料的晶格條紋像，如下圖。圖中的每行亮點(diǎn)都代表某個(gè)方向的晶面，兩列點(diǎn)之間的間距就代表晶面間距。測(cè)量晶面間距是了解材料晶體結(jié)構(gòu)的常見(jiàn)手段。

一般而言，測(cè)量晶面間距需要用到各種圖像處理軟件。但如果我們想快速準(zhǔn)確地測(cè)量圖中的晶面間距，不想安裝或打開(kāi)各種的軟件，要怎么辦呢？

為了滿足這種需要，中材新材料的數(shù)據(jù)分析網(wǎng)站上特意制作了晶面間距測(cè)量工具，方便大家隨時(shí)使用。

我們的網(wǎng)站提供如下分析功能：

①常規(guī)晶體學(xué)計(jì)算——晶面夾角、晶面間距、晶帶軸、六方晶面晶向指數(shù)換算等

②單晶衍射標(biāo)定

③多晶衍射標(biāo)定

④晶面夾角測(cè)量

⑤晶面間距測(cè)量

⑥FCC、BCC、HCP位錯(cuò)消光表

⑦FCC、BCC孿晶衍射標(biāo)定

⑧視頻教程

這是我們的網(wǎng)址：

www.simr.ac.cn

下面是晶面夾角測(cè)量的詳細(xì)使用教程~

晶面間距測(cè)量流程

下面是“晶面夾角測(cè)量”功能的詳細(xì)使用教程：

1) 右上角登錄

使用前先點(diǎn)擊圖示位置登錄。

2) 進(jìn)入“晶面間距測(cè)量”頁(yè)面

點(diǎn)擊紅框內(nèi)的按鈕進(jìn)入晶面間距測(cè)量頁(yè)面。

3) 上傳高分辨圖片

點(diǎn)擊圖片框的左上角的“選擇高分辨圖片”，導(dǎo)入待測(cè)量的圖片。今天我們介紹的是該工具的第一種功能“晶面間距”，就是下圖中默認(rèn)選擇的功能。第二種功能我們下一期會(huì)介紹。

4) 確定確定待測(cè)晶面

在照片中依次點(diǎn)擊兩個(gè)晶格亮點(diǎn)，創(chuàng)建a點(diǎn)和b點(diǎn)標(biāo)記。注意，a點(diǎn)和b點(diǎn)的連線表示的是待測(cè)量的那個(gè)晶面。如果點(diǎn)擊完發(fā)現(xiàn)位置選得不太好，可以用鼠標(biāo)左鍵拖動(dòng)標(biāo)記調(diào)整位置。也可以用鍵盤的上下左右鍵調(diào)整位置。

確定完a點(diǎn)和b點(diǎn)后，就進(jìn)行下一步。

5) 確認(rèn)另一個(gè)平行面

如上圖，圖中點(diǎn)擊左鍵，創(chuàng)建c點(diǎn)。我們知道，晶面間距是兩個(gè)平行晶面的距離，而我們選的c點(diǎn)，就是為了確認(rèn)另一個(gè)平行晶面所在的位置，所以只要在相鄰的那排亮點(diǎn)里選一個(gè)點(diǎn)作為c點(diǎn)就可以了。

6) 確認(rèn)標(biāo)尺

接下來(lái)，將鼠標(biāo)光標(biāo)移動(dòng)至標(biāo)尺中心位置，按住Ctrl鍵，并點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵，系統(tǒng)將自動(dòng)識(shí)別標(biāo)尺的像素長(zhǎng)度；然后，手動(dòng)修改標(biāo)尺實(shí)際長(zhǎng)度，再按回車鍵Enter。例如我們導(dǎo)入的這張圖，圖中是0.5 nm，與網(wǎng)站默認(rèn)的2 nm不同，所以需要在左側(cè)輸入框中手動(dòng)改為0.5。

記得輸入完數(shù)字之后，要按回車鍵Enter才會(huì)進(jìn)入下一步哦！

7) 計(jì)算結(jié)果

點(diǎn)擊上方的“查看結(jié)果”，就可以看到計(jì)算結(jié)果顯示在下方啦。計(jì)算結(jié)果包括晶面間距和一個(gè)角度。這個(gè)角度是直線ab與ac的夾角∠cab。

8) 下載結(jié)果

點(diǎn)擊上方的“導(dǎo)出結(jié)果”，就可以下載結(jié)果了。