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廣立微正式發(fā)布DE-YMS 2.0版本

廣立微Semitronix ? 來源:廣立微Semitronix ? 2024-11-26 18:04 ? 次閱讀

DE-YMS 2.0更新

自廣立微推出良率管理系統(tǒng)(DE-YMS)以來,已在超過百家設(shè)計(jì)公司、晶圓廠及封測廠中得到廣泛驗(yàn)證和不斷完善,成為半導(dǎo)體行業(yè)公認(rèn)的高效良率管理平臺。

近日,廣立微正式發(fā)布DE-YMS 2.0版本,通過全面整合半導(dǎo)體全流程數(shù)據(jù),新增豐富的分析功能模塊,解決了多Die合封數(shù)據(jù)分析、物料回溯等關(guān)鍵技術(shù)難題,為半導(dǎo)體行業(yè)迎接新一輪技術(shù)升級和挑戰(zhàn)提供強(qiáng)大支持。

全流程數(shù)據(jù)采集與分析:

構(gòu)建穩(wěn)定的半導(dǎo)體大數(shù)據(jù)中臺

DE-YMS 2.0在原有基礎(chǔ)上進(jìn)行了全面升級,支持從芯片設(shè)計(jì)、制造、封裝到測試的全流程數(shù)據(jù)采集與分析,采用微服務(wù)架構(gòu)與分布式數(shù)據(jù)庫,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),查詢性能提升1.5~5倍。

微服務(wù)將系統(tǒng)拆分成多個獨(dú)立的服務(wù),每個服務(wù)都可以獨(dú)立部署和升級,不僅具備更高的可靠性,還能提供更靈活的擴(kuò)展和維護(hù)能力。分布式數(shù)據(jù)庫的引入,大幅提升了系統(tǒng)的可擴(kuò)展性與數(shù)據(jù)處理性能,搭建起穩(wěn)定可靠的半導(dǎo)體大數(shù)據(jù)中臺,助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動的生產(chǎn)優(yōu)化。

專業(yè)看板與多場景分析:

快速識別并解決良率瓶頸

廣立微在半導(dǎo)體良率提升領(lǐng)域擁有20多年的技術(shù)積淀與豐富的實(shí)施經(jīng)驗(yàn)。DE-YMS 2.0的專業(yè)看板功能,涵蓋了多種分析場景,通過深度數(shù)據(jù)挖掘與精準(zhǔn)識別,能夠高效查找并解決生產(chǎn)流程中的各種問題,顯著提升良率分析效率。 系統(tǒng)緊跟半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展趨勢,新增了多Die合封數(shù)據(jù)分析、Fail Bit Map(FBM)分析等多個模塊,全面應(yīng)對技術(shù)升級帶來的數(shù)據(jù)分析挑戰(zhàn)。

01良率分析場景:

DE-YMS 2.0提供了包括相關(guān)性、共同性、區(qū)域性等多種分析方法,靈活的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)和過濾功能,通過一鍵式操作,快速定位良率瓶頸,效率提升達(dá)到十倍。

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02FBM(Fail Bit Map)分析模塊:

為存儲器芯片失效分析提供精準(zhǔn)支持,幫助設(shè)計(jì)與制造團(tuán)隊(duì)識別失效模式,支持存儲產(chǎn)品與SOC產(chǎn)品存儲模塊失效分析,進(jìn)行多維度失效類型統(tǒng)計(jì)與分析,優(yōu)化工藝設(shè)計(jì),提高良率。

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03多Die合封數(shù)據(jù)分析:

新增的多Die合封分析模塊對FT數(shù)據(jù)進(jìn)行全鏈條追溯,提供Strip維度或wafer維度的全面數(shù)據(jù)展示,通過多個Die數(shù)據(jù)對比分析,精準(zhǔn)鎖定良率問題根源,助力提高封裝技術(shù)的生產(chǎn)效率。

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04全流程數(shù)據(jù)回溯:DE-YMS 2.0加強(qiáng)了全流程數(shù)據(jù)回溯能力。RMA(Return Material Authorization)模塊能夠串聯(lián)芯片的全周期數(shù)據(jù),全面追蹤失效芯片的生產(chǎn)履歷,幫助工程師快速識別生產(chǎn)問題源,優(yōu)化流程管理,提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。

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05車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)Ink Master:此外,DE-YMS 2.0內(nèi)置的INK Master模塊支持車規(guī)級標(biāo)準(zhǔn),幫助工程師高效管理和監(jiān)控芯片質(zhì)量,確保產(chǎn)品在高可靠性和嚴(yán)苛環(huán)境下的穩(wěn)定性,特別適用于車載電子等對質(zhì)量要求極高的領(lǐng)域。

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邁向半導(dǎo)體良率管理的新紀(jì)元

廣立微DE-YMS 2.0的發(fā)布不僅是半導(dǎo)體行業(yè)對軟件的認(rèn)可,也標(biāo)志著廣立微在良率管理領(lǐng)域的技術(shù)飛躍。憑借強(qiáng)大的技術(shù)創(chuàng)新能力與深厚的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),我們將繼續(xù)致力于為全球半導(dǎo)體企業(yè)提供更為精準(zhǔn)、高效的良率管理解決方案,推動半導(dǎo)體行業(yè)向智能化、數(shù)字化轉(zhuǎn)型邁進(jìn)。

關(guān)于我們

杭州廣立微電子股份有限公司(股票代碼:301095)是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設(shè)備供應(yīng)商,公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監(jiān)控技術(shù),是國內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計(jì)企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案,在集成電路設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的整個產(chǎn)品周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升,成功案例覆蓋多個集成電路工藝節(jié)點(diǎn)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:廣立微發(fā)布DE-YMS 2.0:全面提升半導(dǎo)體全流程數(shù)據(jù)管理與分析,助力行業(yè)應(yīng)對技術(shù)挑戰(zhàn)

文章出處:【微信號:gh_7b79775d4829,微信公眾號:廣立微Semitronix】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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