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解析電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)

金鑒實(shí)驗(yàn)室 ? 2024-11-28 17:12 ? 次閱讀

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)(Voltage Dips and Short Interruption Immunity Test)是用于評估電子設(shè)備或系統(tǒng)對電力系統(tǒng)中電壓暫降和短時(shí)中斷的抗擾度的測試方法。該測試方法旨在模擬電力系統(tǒng)中可能發(fā)生的電源故障,以驗(yàn)證設(shè)備在這些故障下的正常運(yùn)行和穩(wěn)定性。電壓暫降是指電力系統(tǒng)中電源電壓短時(shí)間內(nèi)降低到較低水平并持續(xù)一段時(shí)間的現(xiàn)象。這可能由于電力系統(tǒng)中負(fù)載突然增加、線路故障或電力網(wǎng)絡(luò)切換等原因引起。電壓暫降可能導(dǎo)致設(shè)備電壓不穩(wěn)定、電機(jī)停轉(zhuǎn)、計(jì)算機(jī)重啟或數(shù)據(jù)丟失等問題。短時(shí)中斷是指電力系統(tǒng)中電源電壓突然中斷并在很短時(shí)間內(nèi)重新恢復(fù)的現(xiàn)象。這可能由于電力系統(tǒng)中的瞬時(shí)故障、過載保護(hù)裝置動(dòng)作或電力網(wǎng)絡(luò)維護(hù)等原因引起。短時(shí)中斷可能導(dǎo)致設(shè)備重新啟動(dòng)、數(shù)據(jù)丟失、通信中斷或系統(tǒng)異常等問題。在電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)中,設(shè)備或系統(tǒng)在特定的測試環(huán)境下被暴露在由電源模擬器產(chǎn)生的電壓暫降和中斷事件下。這些事件具有預(yù)定的電壓水平、持續(xù)時(shí)間和波形。通過監(jiān)測設(shè)備在測試過程中的性能和功能,可以評估設(shè)備對這些電力系統(tǒng)故障的抗擾度。

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)的目的

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)一般符合國際電工委員會(huì)(IEC)發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn),如IEC 61000-4-11。這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測試設(shè)備和測試方法,以及評估設(shè)備在不同電壓暫降和中斷條件下的抗擾度要求。通過進(jìn)行電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn),制造商可以了解設(shè)備在面對電力系統(tǒng)故障時(shí)的表現(xiàn),并根據(jù)測試結(jié)果改進(jìn)設(shè)備的設(shè)計(jì)和電能質(zhì)量兼容性。這將有助于確保設(shè)備在真實(shí)環(huán)境中的正常運(yùn)行,減少可能的故障和損壞,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 17626.11-2008《電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》
  • IEC 61000-4-11:2020《Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11:Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with input current up to 16 A per phase》

電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)

試驗(yàn)設(shè)備:

智能型周波跌落發(fā)生器。電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)需根據(jù)設(shè)備使用場所的電磁環(huán)境,選擇相應(yīng)的試驗(yàn)等級,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 18039.4電磁環(huán)境分類可分為以下3類:

第1類

適用于受保護(hù)的供電電源,其兼容水平低于公用供電系統(tǒng)。它涉及到對電源騷擾很敏感的設(shè)備(例如,實(shí)驗(yàn)室的儀器、某些自動(dòng)控制和保護(hù)設(shè)備及計(jì)算機(jī)等)的使用。注:安裝在第1類環(huán)境中的設(shè)備要水有保護(hù)裝置如不間斷電源(UPS)、濾波器或浪涌抑制器等。

第2類

一般適用于商用環(huán)境的公共耦合點(diǎn)PCC和工業(yè)環(huán)境的內(nèi)部耦合點(diǎn)(IPC)。該類的兼容水平與公用供電系統(tǒng)的相同。因此涉及用于公用系統(tǒng)的元件也適用于這類工業(yè)環(huán)境。

第3類

僅適用于工業(yè)環(huán)境中的C。該類某些騷擾現(xiàn)象的兼容水平要高于第2類。在連接有下列設(shè)備時(shí)應(yīng)認(rèn)為是這類環(huán)境:大部分負(fù)荷經(jīng)換流器供電;有焊接設(shè)備;頻繁啟動(dòng)的大型電動(dòng)機(jī);變化迅速的負(fù)荷。

wKgZO2dIM96AIOitAAINbb4K10A841.png

電壓暫降示例1:

wKgZPGdIM-aAXSmSAAENuLNthVc119.png

電壓暫降示例2:

wKgZO2dIM-uALB8WAADoMP4uxng630.png

短時(shí)中斷的試驗(yàn)等級:

wKgZO2dIM--AeBLxAAFtzBdZOIk898.png

短時(shí)中斷示例:

wKgZPGdIM_yAdzp9AAOy3fi6exM378.png

試驗(yàn)判定:

試驗(yàn)結(jié)果依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降級進(jìn)行分類。按如下要求分類:

  • 在制造商,委托方或購買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常;
  • 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但在騷擾停止后能自行恢復(fù),不需要操作者干預(yù);
  • 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù);
  • 因設(shè)備硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)委失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。

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