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高壓低漏電開關(guān)矩陣RM1013-HV,滿足功率半導(dǎo)體參數(shù)測試應(yīng)用!

聯(lián)訊儀器 ? 來源:聯(lián)訊儀器 ? 作者:聯(lián)訊儀器 ? 2024-12-02 14:05 ? 次閱讀

隨著人工智能、新能源汽車、物聯(lián)網(wǎng)等新興領(lǐng)域的蓬勃推進(jìn),寬禁帶半導(dǎo)體材料——尤其是碳化硅(SiC)與氮化鎵(GaN)——憑借其卓越性能迎來了迅猛的發(fā)展勢頭。為了深入剖析并精確測量這些先進(jìn)器件的各項參數(shù)及特性,進(jìn)而提升其效率與可靠性,聯(lián)訊儀器最新推出了10x24高壓低漏電開關(guān)矩陣——RM1013-HV,能夠在小于300pA的偏置電流滿足3000V高壓測量,完成各種高精度的半導(dǎo)體表征測試。

wKgZO2dJEMuAD6WOACZLghOb8Vk411.png

01,高精度自動測量

聯(lián)訊儀器最新推出了10x24高壓低漏電開關(guān)矩陣——RM1013-HV,能夠在小于300pA的偏置電流滿足3000V高壓測量,可配合高精度SMU完成各種功率半導(dǎo)體的表征測試。

wKgZPGdIOIeAD2K5AALHgRhfoDs033.png▲RM1013-HV高壓低泄漏開關(guān)矩陣框圖

多路高壓靈活測量

支持2路高壓低泄漏電流通道輸入,整機(jī)支持10路輸入和24路輸出,提高參數(shù)測量的靈活性,節(jié)省成本和時間??膳浜蟂MU/CMU/DMM等測量設(shè)備實現(xiàn)一套高效的半導(dǎo)體參數(shù)自動測試系統(tǒng)。

高壓低泄漏電流

矩陣低泄漏電流小于300pA@3000V(高壓低泄漏電流通道),可配合高精度的SMU (如S3030F等)實現(xiàn)高精度自動測量。

支持快速測量

開關(guān)矩陣電流建立時間小于10秒(1V電壓輸入開始到電流<300fA的時間),可配合SMU (如S3030F,S2016C等)實現(xiàn)微弱電流信號的快速測量。

高繼電器觸點壽命

開關(guān)矩陣使用世界一流的干簧管制作的繼電器,機(jī)械壽命最高可達(dá)10^8次。

10MHz帶寬

開關(guān)矩陣優(yōu)化了C-V和DMM通道的傳輸帶寬,滿足高速測試的需求。

控制連接

支持通過USB線纜或LAN直接連接至RM1013-HV,實現(xiàn)通道閉合斷開的控制??梢酝ㄟ^編程(SCPI 指令)或GUI界面控制。界面GUI非常直觀和簡潔,可輕松配置通道的閉合、斷開進(jìn)行測量。

wKgZO2dIOLSAWGr-AALrXBXiVtk819.png▲矩陣控制軟件GUI

02,通道配置

參數(shù)名稱 指標(biāo)
輸入通道數(shù)量 2 (High Voltage Low Leakage I-V Port,3500V)
4(General I-V Port,200V)
2 (C-V Port)
2 (DMM Port)
輸出通道數(shù)量 8/16/24

03,典型應(yīng)用場景

使用高壓低漏電開關(guān)矩陣可以與源表/高壓源表/LCR meter/數(shù)字萬用表等儀表無縫集成,組成強(qiáng)大的功率器件I-V、C-V參數(shù)自動化測試系統(tǒng)??梢愿咝y量MOSFET/IGBT/BJT/Diode/電容/電阻等器件的I-V、C-V各項特征參數(shù),例如MOSFET 的BVdss、Off-leak/Id(off)-Vds、 Id-Vds等。不同器件及不同測量項目之間通過編程控制自動進(jìn)行連接路徑切換,一站式完成測量。

wKgZPGdIOT6ASX36AAQiGDis8Co977.png▲矩陣路徑切換示意圖

在半導(dǎo)體功率器件測試中通常需要測量Ciss/Coss/Crss等高壓電容參數(shù)。高壓電容測量與I-V測量之間的路徑切換一直是測試中的難點,高壓切換矩陣中內(nèi)置了可切換的高壓電容測量偏置電路(HV Bias Tee),可以有效地解決這個問題。

wKgZO2dIOV6AbMd8AAJ1K0W0ONU141.png▲SiC MOSFET 電容特性 wKgZO2dIOXaANhaPAADJ-3agMwU757.png▲電容等效模型

審核編輯 黃宇

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