LED技術的革新與市場擴張
LED技術近年來取得了飛速的發(fā)展,特別是在發(fā)光效率上的顯著提升,使得LED在照明領域的應用日益廣泛。隨著LED技術的不斷進步,對發(fā)光二極管的色度、光感度以及電參數(shù)等性能指標的檢測變得至關重要。LED的發(fā)光特性獨特,單個LED芯片本身就是一個理想的光源,由于其發(fā)光面積小,可以被視為點光源,具有極佳的發(fā)光一致性和較小的立體角,且大多數(shù)LED芯片發(fā)出的是單色光。這使得對單個LED芯片的測量變得相對簡單。然而,單個LED芯片與封裝后的LED以及由多個芯片組成的陣列式元件在發(fā)光特性上存在顯著差異。與單個LED不同,封裝或組合后的元件發(fā)光缺乏統(tǒng)一性,發(fā)光角度也較小。因此,對封裝后的LED進行測量時,首先需要優(yōu)化并統(tǒng)一標準,以確保測量結果的一致性。
LED檢測參數(shù)的詳細分析
在LED的性能評估中,涉及到眾多光學參數(shù),包括光與輻射的強度、通量、發(fā)光效率、峰值以及主波長等。隨著LED光源對傳統(tǒng)光源構成挑戰(zhàn),市場上對LED的測量要求也在不斷增加,用戶越來越關注照度和亮度等參數(shù)。在測量過程中,常用的儀器包括光度計和輻射計等。金鑒實驗室提供專業(yè)的設備,確保對LED進行性能評估。我們的檢測方案能夠滿足各類客戶的需求,幫助客戶提升產品質量。
點光源發(fā)光強度的測定
點光源產生的光具有各向同性,利用這一特性,可以通過測量單位立體角內的光通量來確定點光源的發(fā)光強度。由于LED的尺寸較小,光強度有限,因此在測量時需要將探頭放置在靠近LED的位置。如果采用常規(guī)方法進行光強測定,可能會導致較大的誤差。因此,行業(yè)標準對LED光強的測定提出了具體要求,包括LED相對于參考光軸的位置、距離、探頭大小以及立體角等。
總光通量的測量方法
在討論了發(fā)光二極管的光強測定后,通過對所有角度的測量結果進行積分處理,可以得到LED輻射光通量的總和。目前,光通量的測量方法可以從原理和測量技術兩個方面進行區(qū)分。從原理上,除了總光通量外,還有光強積分法;從測量技術上,可以分為分布光度計法和積分球法。
1.總光通量的基準測量方法
總光通量的基準測量方法是國家標準GB/T24824-2009推薦的首選方法,適用于解決測量結果爭議。該方法在測光暗室內使用探測器旋轉式分布光度計,通過照度分布積分法實現(xiàn)總光通量的測量。要求被測LED模塊發(fā)光中心位于分布光度計的旋轉中心,并通過數(shù)值積分計算LED模塊的總光通量。
2.光強積分法測量光通量
光強積分法在測光暗室內使用分布光度計測量LED模塊的光強分布,并通過數(shù)值積分計算LED模塊的總光通量和區(qū)域光通量。同樣要求被測LED模塊發(fā)光中心位于分布光度計的旋轉中心,并確保測量距離足夠大,將被測LED模塊視為點光源。
3.積分球法測量光通量
積分球法將積分球與光度計或光譜輻射計結合,采用替代方法測量總光通量。測量時,將標準LED模塊和被測LED模塊放入積分球內,并記錄它們在光電轉換器的讀數(shù)Ei和Eo,通過公式計算被測LED模塊的光通量。在采用積分球法測量時,應注意積分球的尺寸、內壁涂層的反射率均勻性和光譜中性,以及對溫度和濕度變化的不敏感性。
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LED光譜特性與測量
LED的峰值波長多樣,覆蓋了整個可見光范圍及其相鄰的紅外和紫外光。與白熾燈光相比,LED的光譜差異顯著。LED光譜較窄,僅在20至40納米范圍內,因此探測儀器需要在其光波段內獲得理想的響應,而不僅僅是對寬波長進行平均測定。使用白熾光源校準的光度計或輻射度測量儀器在測量LED光源時可能會產生較大誤差。金鑒實驗室具備先進的光譜測量設備,能夠準確測量LED的光譜特性。
溫度與電流對LED發(fā)光的影響
LED被稱為冷光源,但這并不意味著其發(fā)光過程不受其他發(fā)熱物的影響。LED主要以固體元件形式存在,通過在固體材料內部反向流動的電子和空穴復合產生激發(fā)狀態(tài),從而發(fā)光。為了保持發(fā)光的穩(wěn)定性,需要控制外加電流,因此LED通常采用恒定電流下的直流電供電。典型電流范圍在10毫安至20毫安之間,高功率LED的供電需求在200毫安至300毫安之間。溫度環(huán)境對LED發(fā)光也有很大影響。LED通常以導熱性能不佳的材料封裝,銅導線可能導致其升溫,尤其是大功率LED,因此有必要對LED的夾具和電導線進行降溫處理,以避免對測量結果造成誤差。
LED測量的特殊性與環(huán)境控制
LED具有獨特的發(fā)光特性,對其進行測量時不能完全依照傳統(tǒng)方法。傳統(tǒng)光源的光強定義與LED不同,需要通過設定固定的距離、方向和立體角來獲得重復性較好的測量結果,并對探測器有相應規(guī)定。
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