氬離子束拋光技術(shù)(Argon Ion Beam Polishing, AIBP),一種先進(jìn)的材料表面處理工藝,它通過精確控制的氬離子束對樣品表面進(jìn)行加工,以實現(xiàn)平滑無損傷的拋光效果。
![wKgZPGepddCANe64AAd-vKjjlSQ838.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A4/wKgZPGepddCANe64AAd-vKjjlSQ838.png)
技術(shù)概述
氬離子束拋光技術(shù)利用氬離子束對樣品表面進(jìn)行物理濺射,從而達(dá)到拋光的效果。在這個過程中,氬氣作為惰性氣體,不會與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng),保證了樣品的原始性質(zhì)不被破壞。通過精確控制離子束的能量、角度和作用時間,可以去除樣品表面的損傷層,暴露出材料的真實結(jié)構(gòu)。
![wKgZPGepddqAbGSQAAt5COUYHlI904.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A4/wKgZPGepddqAbGSQAAt5COUYHlI904.png)
應(yīng)用領(lǐng)域
經(jīng)過氬離子拋光的樣品適用于多種高精度分析技術(shù),包括但不限于掃描電子顯微鏡(SEM)、光學(xué)顯微鏡、掃描探針顯微鏡、能量色散X射線光譜(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)、陰極熒光(CL)、電子束誘導(dǎo)電流(EBIC)等。這些分析技術(shù)在半導(dǎo)體、鋰電池、光伏材料、地質(zhì)、金屬、陶瓷、高分子、聚合物、薄膜等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。
![wKgZO2epdeeAB0z8AAbsyN1JOo4098.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdeeAB0z8AAbsyN1JOo4098.png)
技術(shù)優(yōu)勢
與傳統(tǒng)的機(jī)械拋光相比,氬離子拋光技術(shù)提供了一種非破壞性的樣品制備方法。它避免了機(jī)械拋光可能帶來的樣品損傷和形變,通過精確控制拋光過程,可以獲得更高質(zhì)量的樣品表面,從而提高成像和分析的準(zhǔn)確性。此外,氬離子拋光技術(shù)可以適用于軟硬不同、溫度敏感的材料,這是傳統(tǒng)機(jī)械拋光難以實現(xiàn)的。
![wKgZPGepdfOAQxgBAAWZ-mQ6w2E798.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A4/wKgZPGepdfOAQxgBAAWZ-mQ6w2E798.png)
實際應(yīng)用案例
在鋰電池石墨負(fù)極片、芯片電極、LED金屬支架鍍層、線路板銅層等材料的截面拋光中,氬離子拋光技術(shù)能夠清晰地揭示材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分分布。通過這種技術(shù),研究人員可以在SEM下放大觀察到頁巖內(nèi)部的細(xì)微孔隙,以及材料內(nèi)部不同物質(zhì)的分層情況。
![wKgZO2epdf2AN5tKAAmpmDi3FRI686.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdf2AN5tKAAmpmDi3FRI686.png)
鋰電池石墨負(fù)極片截面拋光
![wKgZO2epdgKAaHpZAAepZ0hm_GU253.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdgKAaHpZAAepZ0hm_GU253.png)
芯片電極截面拋光
![wKgZPGepdgeAbhSrAAgp6uRWdsk402.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A4/wKgZPGepdgeAbhSrAAgp6uRWdsk402.png)
LED金屬支架鍍層截面拋光
![wKgZO2epdg2AOLvjAAVdcJPeIt8791.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdg2AOLvjAAVdcJPeIt8791.png)
線路板銅層截面拋光
![wKgZPGepdhKAM6MLAAcdN7hGc7M627.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A4/wKgZPGepdhKAM6MLAAcdN7hGc7M627.png)
線路板盲孔截面拋光
![wKgZO2epdhiAZ6p-AAc4UUA6RhU988.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdhiAZ6p-AAc4UUA6RhU988.png)
線路板盲孔截面拋光
![wKgZO2epdh2ARmd3AAUKp8JeFwE358.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdh2ARmd3AAUKp8JeFwE358.png)
金屬結(jié)合處平面拋光
![wKgZO2epdiKAFoP3AAU2ra9MWPs555.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdiKAFoP3AAU2ra9MWPs555.png)
線路板盲孔平面拋光
![wKgZPGepdimABsWpAAh6aIL6RLo821.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A5/wKgZPGepdimABsWpAAh6aIL6RLo821.png)
正極材料顆粒截面孔隙觀察
![wKgZPGepdi6AbHdeAAFfWV98jsA360.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A5/wKgZPGepdi6AbHdeAAFfWV98jsA360.png)
柔性顯示屏孔洞缺陷觀察
![wKgZPGepdjOAKapaAAdv9Ip49JE595.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A5/wKgZPGepdjOAKapaAAdv9Ip49JE595.png)
線路板通孔裂縫觀察
![wKgZO2epdjiAdUX1AAaTV5QGjTg365.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdjiAdUX1AAaTV5QGjTg365.png)
穿戴式顯示屏孔洞缺陷分析
![wKgZO2epdjyAAzu_AAYzm3_bd_M493.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdjyAAzu_AAYzm3_bd_M493.png)
LED芯片結(jié)構(gòu)分析
![wKgZO2epdkKAL4r-AAXSltLAW0M502.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/B1/wKgZO2epdkKAL4r-AAXSltLAW0M502.png)
鍵合球與芯片電極結(jié)合效果觀察
![wKgZPGepdkeAPysoAAX291hUt2Q889.png](https://file1.elecfans.com/web3/M00/07/A5/wKgZPGepdkeAPysoAAX291hUt2Q889.png)
-
SEM
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
237瀏覽量
14510 -
顯微鏡
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
582瀏覽量
23174 -
拋光機(jī)
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
34瀏覽量
6920
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
EBSD制樣最有效的方法------氬離子截面拋光儀
穿透式電子顯微鏡TEM
鋰電材料截面制樣-氬離子拋光CP離子研磨 金鑒實驗室分享(上)
掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用
掃描電子顯微鏡(SEM)在失效分析中的應(yīng)用
掃描電子顯微鏡(SEM )工作介紹
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
![蔡司<b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(<b class='flag-5'>sem</b><b class='flag-5'>掃描</b>電鏡)](https://file1.elecfans.com/web2/M00/8A/0C/wKgaomSPyFmAKdK8AADBrqcHYks445.png)
掃描電子顯微鏡SEM電鏡結(jié)構(gòu)及原理
![<b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b><b class='flag-5'>SEM</b>電鏡結(jié)構(gòu)及原理](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C5/20/wKgZomX6j_mAC-cNAADKz8jENYU362.png)
評論