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瑞士ELDICO公司推出三維微晶電子衍射儀

深圳市賽姆烯金科技有限公司 ? 來源:QuantumDesign ? 2025-02-12 16:07 ? 次閱讀

以下文章來源于QuantumDesign,作者Jason

MOF結(jié)構(gòu)解析全新方案

隨著材料科學(xué)領(lǐng)域的不斷探索與發(fā)展,金屬有機(jī)框架(MOF)材料作一類新型功能性材料,憑借其優(yōu)異的比表面積、可調(diào)孔隙結(jié)構(gòu)以及在催化、吸附和儲(chǔ)存等方面的出色性能,迅速成科研人員的研究熱點(diǎn)。然而,對(duì)MOF 這類復(fù)雜材料進(jìn)行精確的結(jié)構(gòu)表征始終是一大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的×射線衍射(XRD)技術(shù)在面對(duì)微米甚至納米尺度的樣品時(shí), 難以獲取其精細(xì)的晶體結(jié)構(gòu)信息,限制了對(duì) MOF 材料深入的研究與應(yīng)用。

瑞士 ELDICO 公司推出的三維微晶電子衍射儀—ELDICO ED-1,憑借其特殊的電子衍射技術(shù),為 MOF 等新材料的晶體結(jié)構(gòu)解析帶來了革命性的解決方案。

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三維微晶電子衍射儀——ELDICO ED-1

技術(shù)革新,突破傳統(tǒng)困境:

三維微晶電子衍射儀—ELDICO ED-1能夠針對(duì) 20 nm-1000 nm. 尺寸范圍的微小樣品,獲取高分辨率的結(jié)構(gòu)信息。相較于傳統(tǒng)X射線衍射,電子衍射具有更強(qiáng)的空間分辨力,尤其適用于尺寸較小、質(zhì)量較輕或難以通過XRD 表征的材料。該儀器將掃描透射電子顯微鏡(STEM)和電子衍射技術(shù)有機(jī)結(jié)合,憑借高靈敏度的電子探測(cè)技術(shù),有效克服了樣品微小粒度帶來的分析難題,為MOF 等多孔材料的研究開辟了全新路徑。

多元優(yōu)勢(shì),助力MOF解析

超高分辨率結(jié)構(gòu)分析

傳統(tǒng) XRD 技術(shù)在面對(duì)高次晶面分析、樣品尺寸較小或晶體結(jié)構(gòu)不完美時(shí),常常面臨困難。三維微晶電子衍射儀—ELDICO ED-1可準(zhǔn)確解析納米甚至亞納米 尺度下的MOF 晶體結(jié)構(gòu) ,填補(bǔ)了傳統(tǒng)技術(shù)的在該領(lǐng)域的部分空白。

多孔結(jié)構(gòu)表征

MOF 材料的孔隙結(jié)構(gòu)和晶體缺陷對(duì)其功能性能有著直接的影響。三維微晶電子衍射儀—ELDICO ED-1 能夠揭示微小尺寸下的多孔結(jié)構(gòu) ,助力科研人員深度剖析材料結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)系,為其在催化、吸附等應(yīng)用中的優(yōu)化設(shè)計(jì)提供了重要數(shù)據(jù)支持。

廣泛的材料適用性

三維微晶電子衍射儀—ELDICO ED-1 的優(yōu)勢(shì)不僅體現(xiàn)在MOF 材料分析上, 還廣泛適用于多種其他材料的結(jié)構(gòu)分析。無論是金屬氧化物、碳材料還是有機(jī)一無機(jī)復(fù)合材料等復(fù)雜和異質(zhì)的材料體系,設(shè)備均能高效獲得精準(zhǔn)的衍射信息. 是新型功能材料研究分析的強(qiáng)大工具。

用戶成果,高效解析絕對(duì)構(gòu)型

香港科技大學(xué)Ian D.Williams教授等人利用三維微晶電子衍射儀——ELDICO ED-1,對(duì)手性鋅酒石酸金屬有機(jī)框架(MOFs)[Zn(L-TAR)]和[Zn(D-TAR)]的絕對(duì)構(gòu)型展開深入研究,成功揭示了其具有八面體金屬中心的手性特性,并將其分類為?(for L-TAR)或Λ(for D-TAR)配置。通過對(duì)MOFs無水相和水合相進(jìn)行比較,指出它們?cè)谂湮缓徒Y(jié)構(gòu)構(gòu)建單元上的顯著差異。該研究不僅強(qiáng)調(diào)了ELDICO ED-1在分析傳統(tǒng)方法難以處理的小晶體樣品時(shí)的突出優(yōu)勢(shì),還表明這些材料在手性光致發(fā)光方面具有潛在應(yīng)用,充分驗(yàn)證了現(xiàn)代電子衍射技術(shù)在提供手性納米晶體材料詳細(xì)結(jié)構(gòu)信息方面的有效性。

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圖1. Zn (L - TAR) 1 - L 和 Zn (D - TAR) 1 - D 的擴(kuò)展分子結(jié)構(gòu)圖示

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圖2. 1-L及錳、鈷、銅金屬酒石酸鹽 [M (L - TAR)] 的粉末 X 射線衍射圖

Ian D.Williams教授表示,借助ED-1儀器,團(tuán)隊(duì)能夠以超高的精度解析MOF的微觀結(jié)構(gòu),不僅提高了數(shù)據(jù)的可靠性,還顯著縮短了實(shí)驗(yàn)周期,科研效率大幅提升。特別是在MOF材料的孔道結(jié)構(gòu)分析中,ED-1儀器的高靈敏度使團(tuán)隊(duì)獲取了更為豐富、精準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù),為后續(xù)的功能優(yōu)化和應(yīng)用研究提供了堅(jiān)實(shí)的理論基礎(chǔ)。

瑞士三維微晶電子衍射儀——ELDICO ED-1的問世,為MOF等新型功能性材料的研究提供了強(qiáng)有力的工具支持。隨著該技術(shù)的持續(xù)發(fā)展和廣泛應(yīng)用,相信科研人員將在復(fù)雜材料的解析與應(yīng)用領(lǐng)域取得更多的突破性成果,為材料科學(xué)、化學(xué)工程等相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展注入新的活力。

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原文標(biāo)題:酷炫!納米級(jí)高精度MOF絕對(duì)構(gòu)型解析突破技術(shù),三維微晶電子衍射儀

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