通用串行總線 (USB) Type-C? 推出了一種緊湊型、可反轉的數(shù)據(jù)和電源連接器，同時支持 USB 功率輸送 (USB PD)。USB PD 支持功率高達 100 W（20 V，5 A），除通用功能外，并因其支持鋰電池快速充電功能，從而推動了 USB Type-C 的迅速普及。

然而，與所有版本 USB 技術一樣，靜電放電 (ESD) 會對 USB Type-C 系統(tǒng)的敏感硅器件構成風險。USB Type-C 還導致了一些特有的安全挑戰(zhàn)：高功率輸送、緊湊的連接器、消費者可以輕松連接不合規(guī)的電纜，這大大增加了該技術的過壓故障概率，因此可靠的電路保護至關重要。

本文概述了對 USB Type-C 電路保護的需求，并介紹了一些保護電路和元器件實例。然后解釋如何設計并實現(xiàn)保護這些系統(tǒng)不受 ESD 和過壓故障模式影響的保護電路。

有關 USB PD 本身的更多詳細信息，請參閱文庫文章，“設計導入 USB Type-C 并使用其功率輸送功能實現(xiàn)快速充電”。

USB Type-C 會出現(xiàn)什么問題？

對所有 USB 系統(tǒng)實施 ESD 保護是一種良好的設計原則。一些標準規(guī)定了 USB 系統(tǒng)（和其他地方）中的 ESD 放電穩(wěn)健性要求。例如，EN 55024（“信息技術設備 - 抗擾度特性 - 限值和測量方法”）規(guī)定能經(jīng)受 4 kV 接觸放電，以及 8 kV 空氣放電（標準 B：瞬時擾動和自恢復）

除了影響所有 USB 系統(tǒng)的 ESD 風險外，USB Type-C 還導致了一些特有的故障模式。這些模式由兩種因素共同影響造成：USB PD 高功率輸送和緊湊的幾何形狀。

如果傳統(tǒng) USB 系統(tǒng)采用 USB 2.0 或 3.0 通信協(xié)議，則可以使用 USB PD 實現(xiàn)高功率輸送。然而，傳統(tǒng) USB 連接器（圖 1）對幾何形狀的要求并不那么嚴格，在一定程度上降低了非 USB Type-C 應用的故障風險。

圖 1：USB Type-C 的普及一定程度上歸因于其緊湊、可反轉的連接器。而缺點是引腳間距小于像 USB Type-A 之類舊版 USB 連接器。Type-C 引腳間距減小，導致短路概率增大。（資料來源：www.USB.org）

USB Type-C 連接器的引腳間距僅是 Type A 連接器的四分之一。當引腳間距減小后，在高電流/電壓條件下，扭轉電纜或拔下連接器時會導致災難性短路概率增大。連接器內(nèi)的碎屑堆積可能造成類似的災難性后果。

此外，Type-C 的普及促成了大量第三方電纜和電源適配器。其中多數(shù)無法適應 USB Type-C 和 USB PD 標準支持的高電流。

與其他版本的 USB 技術相比，緊湊型連接器的機械應力、碎屑和不合規(guī)電纜，以及高電流/電壓增加了 USB Type-C 系統(tǒng)短路的風險。如果連接器的相鄰引腳 VBUS和 CC 或 SBU 之間發(fā)生短路，下游電路可能會受到 20 V 浪涌電壓的損壞（圖 2）。

圖 2：USB 插座（未顯示所有引腳）剖面圖說明了 CC（連接/配置）引腳與 SBU（邊帶/音頻適配器附件配置/需定義的附加功能）引腳相鄰于總線電源 (VBUS)。（圖片來源：STMicroelectronics）

PD 控制器的短路風險特別高，因為器件直接連接 CC 引腳并且設計最高運行電壓為 5 V。由于在 USB PD 期間，PD 控制器負責協(xié)調(diào)充電器和被充電裝置之間的最大電流和電壓電平，因此保護好這些器件非常重要。PD 控制器損壞引起的 USB PD 異常運行，可能成為安全隱患。例如，未受保護的壁式適配器發(fā)生短路時，會導致下游 PD 控制器受損（圖 3）。

圖 3：故障壁式適配器可能會在 VBUS和 CC 引腳之間短路，使下游 PD 控制器面臨 20 V 的電壓傷害。（示意圖使用Digi-Key Scheme-it?參照Texas instruments原圖繪制）