對(duì)IC或子系統(tǒng)之間的接口常常會(huì)增加循環(huán)冗余校驗(yàn)(CRC)以檢測數(shù)據(jù)是否損壞,但標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)如何確定所選CRC是否足夠好則語焉不詳。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
IC
+關(guān)注
關(guān)注
36文章
5990瀏覽量
176342 -
數(shù)據(jù)
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
7184瀏覽量
89723 -
檢測
+關(guān)注
關(guān)注
5文章
4520瀏覽量
91796
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
如何判斷熱電偶是否損壞
熱電偶是一種常用的溫度測量設(shè)備,它通過兩種不同金屬或合金的接點(diǎn)在不同溫度下產(chǎn)生電動(dòng)勢(電壓)來測量溫度。熱電偶損壞可能會(huì)導(dǎo)致溫度讀數(shù)不準(zhǔn)確,影響生產(chǎn)過程和產(chǎn)品質(zhì)量。以下是一些判斷熱電偶是否損壞的方法
ADS8688特別容易損壞的原因?
波形均正常,僅僅SDO波形異常(如圖,看起來是有數(shù)據(jù)輸出的)。
這是否意味著該芯片數(shù)字輸入端接收都是正常的,僅數(shù)字輸出端壞了?如此現(xiàn)象,請(qǐng)問能否結(jié)合芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu),分析出浪涌進(jìn)入的途徑和損壞原理,從而施加防范措施?TI公司
發(fā)表于 12-05 06:10
ADS131 PGA切換是否會(huì)損壞ADC呢?
受到影響;目前我們想確認(rèn)切換PGA是否會(huì)對(duì)ADC造成影響,在切換過程中環(huán)路上依然存在電流,從一個(gè)大電流比如100A,1PGA切換到4PGA或8PGA(4PGA的最大量程是50A,8PGA的最大量程是25A),我們正常測試是切換是沒有發(fā)現(xiàn)有損壞情況,我們需要確認(rèn)
發(fā)表于 11-13 07:51
TAS5805內(nèi)部的硬件CRC8對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的哪種? CRC校驗(yàn)的數(shù)據(jù)是offset和value值嗎?
TAS5805 內(nèi)部的硬件 CRC8 對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的哪種? CRC 校驗(yàn)的數(shù)據(jù)是 offset 和 value 值嗎?用 PPC 加載文件計(jì)算出來的值和在線CRC計(jì)算工具計(jì)算的值不一樣。
發(fā)表于 10-12 06:19
怎么判斷磁性開關(guān)是否損壞
磁性開關(guān)是一種利用磁場變化來控制電路通斷的開關(guān)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于自動(dòng)化控制系統(tǒng)、安全防護(hù)系統(tǒng)等領(lǐng)域。當(dāng)磁性開關(guān)出現(xiàn)故障時(shí),可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)無法正常工作,因此及時(shí)判斷磁性開關(guān)是否損壞非常重要。 一
如何判斷電容器是否損壞
判斷電容器是否損壞可以通過以下幾個(gè)方法: 一、目視檢查 1、外觀變形 :檢查電容器外殼是否有變形、膨脹、漏液或燒焦痕跡,這些都是電容器損壞的明顯跡象。 2、連接端子 :檢查連接端子
![如何判斷電容器<b class='flag-5'>是否</b><b class='flag-5'>損壞</b>](https://file1.elecfans.com/web2/M00/FD/E5/wKgaomaXYf2ATW2MAAR68OPk_Tk525.jpg)
使用RTC內(nèi)存的用戶區(qū)域來存儲(chǔ)值,發(fā)現(xiàn)某些區(qū)域已損壞或無法寫入,為什么?
我正在嘗試使用RTC內(nèi)存的用戶區(qū)域來存儲(chǔ)值,但我發(fā)現(xiàn)某些區(qū)域已損壞或無法寫入。
我正在使用 NonOS SDK 2.2.1,并編寫了一個(gè)小程序來將隨機(jī)大小的數(shù)據(jù)塊寫入 RTC 用戶內(nèi)存區(qū)域,然后
發(fā)表于 07-09 06:39
如何檢測TC39x的閃存損壞情況?
我想檢測 TC39x 的閃存損壞情況。 我參考了技術(shù)參考手冊(cè),其中第 6 節(jié)(NVM Susbsystem)提到了閃存的 ECC 故障檢測。
它指出,當(dāng)檢測到單位、雙位或多位錯(cuò)誤等 E
發(fā)表于 06-03 08:22
電力補(bǔ)償電容是否損壞的判斷標(biāo)準(zhǔn)
電力補(bǔ)償電容的損壞可能會(huì)導(dǎo)致電力系統(tǒng)的效率下降,甚至?xí)?b class='flag-5'>損壞其他設(shè)備。以下是一些判斷電力補(bǔ)償電容是否損壞的常見標(biāo)準(zhǔn): 1、電容器外觀檢查: 首先,可以檢查電容器的外觀,包括外殼
![電力補(bǔ)償電容<b class='flag-5'>是否</b><b class='flag-5'>損壞</b>的判斷標(biāo)準(zhǔn)](https://file1.elecfans.com/web2/M00/EB/02/wKgaomZWx0KAYGYlAALvh5vOORM300.jpg)
這個(gè)CRC計(jì)算單元是如何基于固定的生成多項(xiàng)式(0x4C11DB7)來獲取給定數(shù)據(jù)緩沖區(qū)的CRC碼的?
這個(gè)CRC計(jì)算單元是如何基于固定的生成多項(xiàng)式(0x4C11DB7)來獲取給定數(shù)據(jù)緩沖區(qū)的CRC碼的?
7系列FPGA中的POST_CRC錯(cuò)誤檢測與恢復(fù)策略
FPGA 在比特流被加載時(shí)計(jì)算 CRC 值,然后該值與在比特流加載結(jié)束時(shí)預(yù)期的 CRC 值進(jìn)行比較。如果兩個(gè)值匹配,則FPGA 成功加載。
發(fā)表于 02-28 14:58
?1031次閱讀
![7系列FPGA中的POST_<b class='flag-5'>CRC</b>錯(cuò)誤<b class='flag-5'>檢測</b>與恢復(fù)策略](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C2/C1/wKgaomXe2huACgBVAABRnG1xrKI183.png)
RA MCU中的CRC模塊和使用方法
瑞薩RA單片機(jī)硬件CRC計(jì)算單元采用固定的多項(xiàng)式發(fā)生器來計(jì)算8位或者32位數(shù)據(jù)的CRC校驗(yàn)值,對(duì)數(shù)據(jù)傳輸或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的一致性、完整性進(jìn)行驗(yàn)證。
發(fā)表于 02-26 11:45
?1068次閱讀
![RA MCU中的<b class='flag-5'>CRC</b>模塊和使用方法](https://file1.elecfans.com/web2/M00/C0/FE/wKgZomXcCdaAXyV1AAAgl-5WVko528.jpg)
評(píng)論