動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-02-07 10:02

  DeepSeek對芯片算力的影響

  

  DeepSeek模型，尤其是其基于MOE（混合專家）架構(gòu)的DeepSeek-V3，對芯片算力的要求產(chǎn)生了深遠影響。為了更好地理解這一影響，我們可以從幾個方面進行分析。一.MOE架構(gòu)對算力的優(yōu)化MOE架構(gòu)的核心理念是將整個模型劃分為多個子模型（專家），每個子模型負(fù)責(zé)特定的任務(wù)，且在實際推理時并非激活所有專家，而是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)選擇性激活需要的專家。對于芯片算力的

  漢通達 DeepSeek 算力 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-01-17 10:03

  非常詳細的BUCK電路 PCB layout建議

  

  在DC-DC芯片的應(yīng)用設(shè)計中，PCB布板是否合理對于芯片能否表現(xiàn)出其最優(yōu)性能有著至關(guān)重要的影響。不合理的PCB布板會造成芯片性能變差如線性度下降（包括輸入線性度以及輸出線性度）、帶載能力下降、工作不穩(wěn)定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等，更嚴(yán)重的可能會直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊中都會有其對應(yīng)的PCB布板設(shè)計要求以及布板示意圖，本次我們就以同

  漢通達 buck電路 Pcb layout 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-01-10 10:02

  拋磚引玉，教你學(xué)習(xí)各種總線技術(shù)

  

  如果一座只能容一個人來往的獨木橋，兩端的人都想要過橋，為了不擁擠、阻塞，那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時間哪端的人過橋，另一端的人就等著該他過橋的時間段的到來，同時也還可以規(guī)定人多時要按先來后到或年齡長幼的次序過橋。在這不經(jīng)意間，我們就體會到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過總線按時分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿，F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展，特別是對于成本和空間而言，總線傳輸

  漢通達 bus 總線技術(shù) 數(shù)據(jù)總線

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 10:03

  芯片行業(yè)，怎么看？

  

  剛過去的2024年，半導(dǎo)體行業(yè)喜憂參半。但恭喜大家，我們都順利跨入了2025年?；氐饺ツ甑陌雽?dǎo)體行業(yè)，喜的是，在AI的推動下，類似英偉達、博通、Marvell等大廠能夠憑借在數(shù)據(jù)中心相關(guān)芯片上的優(yōu)勢，獲得了很多的機會。但除了AI以外，似乎所有市場都不盡如人意。無論是之前高歌猛進的汽車產(chǎn)業(yè)，還是早已陷入了低潮的消費電子。這就讓芯片市場在2024年，愁容滿面。展

  漢通達 AI 人工智能 半導(dǎo)體 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-12-27 10:03

  半導(dǎo)體，最新預(yù)測

  

  人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對2025年更加樂觀，但阻力可能來自地緣政治和人才保留問題。這些是美國審計、稅務(wù)和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報告中的一些預(yù)測。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測2025年整個行業(yè)將實現(xiàn)增長。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無線通信和汽車應(yīng)用的發(fā)展，對芯片的需求將持續(xù)增長，畢馬威

  漢通達 人工智能 半導(dǎo)體 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-12-20 10:02

  芯片的失效性分析與應(yīng)對方法

  

  在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機理，揭示芯片失效問題的復(fù)雜性，并提出針對性的應(yīng)對策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定

  漢通達 半導(dǎo)體 失效性 芯片

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• 發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01

  【漢通達科技】引領(lǐng)未來測試技術(shù)，ATX中國區(qū)獨家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備

  

  在這個日新月異的科技時代，每一個細微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國ATX公司在中國區(qū)的獨家代理商，北京漢通達科技有限公司攜手ATX，為您帶來一場前所未有的測試技術(shù)盛宴。ATX，以其卓越的創(chuàng)新能力和對品質(zhì)的不懈追求，為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天，就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來。一、產(chǎn)品介紹1

  漢通達 夾具 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04

  北京漢通達科技有限公司正式簽約德國ATX公司，成為中國獨家代理商

  

  近日，北京漢通達科技有限公司（以下簡稱“漢通達”）與德國ATX公司達成戰(zhàn)略合作，正式成為ATX公司在中國地區(qū)的獨家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達在測試夾具及自動化技術(shù)領(lǐng)域的進一步拓展，也意味著中國客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司，作為歐洲市場的領(lǐng)導(dǎo)者，自1997年成立以來，始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試夾具和自

  漢通達 ATX 測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02

  IC芯片老化測試以及方案詳解

  

  芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負(fù)載測試的方法，以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測試方案設(shè)計：-選擇適當(dāng)?shù)臏y試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預(yù)期使用條件，確定合適的測試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計測試持續(xù)時間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用

  漢通達 IC芯片 模擬芯片 老化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03

  芯片測試程序

  

  一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件（DUT）交互，具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵，如何測量其響應(yīng)信號，以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值（Limit）進行比較，最終判定測試結(jié)果為“通過”（Pas

  漢通達 ATE 測試程序 芯片測試

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