動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:44

  SPEA創(chuàng)新實踐：AI芯片混合信號測試儀

  

  芯片是人工智能（AI）應(yīng)用的支柱，為從自動駕駛汽車到虛擬助手等各類應(yīng)用提供著核心動力。AI芯片專門設(shè)計用于處理海量數(shù)據(jù)，并能實時做出決策，因此它們對于確保最終應(yīng)用的成功發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。隨著AI引發(fā)的變革，各行業(yè)對更強大、更高效的AI芯片的需求持續(xù)攀升。AI算法的日益復(fù)雜，市場對AI運行速度需求不斷提升，測試AI芯片已成為半導(dǎo)體公司面臨的一大挑戰(zhàn)。如果沒

  AI芯片 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2025-01-03 11:40

  DOT800 多核混合信號測試儀

  

  DOT800將兩臺測試儀的能力融合到一個只有測試頭的系統(tǒng)中，采用創(chuàng)新的面向器件的儀器，所有模擬、數(shù)字和信號處理資源都集中在一個功能強大的可配置主板上。測試性能優(yōu)越，多站點效率>99.5%。多核心架構(gòu)DOT800由兩個體積小于0.3立方米的獨立系統(tǒng)核心構(gòu)成。每個核心配有一個專用CPU，用于在全異步模式下執(zhí)行測試程序，從而確保達(dá)到最高的并行測試效率。儀器功能強大

  主板 測試儀 混合信號

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• 發(fā)布了文章 2024-12-31 17:21

  SPEA—ADC與DAC測試簡介

  

  如今，有大量應(yīng)用都依賴于數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）和模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。它們在信號處理中非常重要，因為它們構(gòu)建了數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)之間的橋梁。通過使數(shù)字電路能夠與模擬組件交互，ADC和DAC在音頻處理、電信、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。DAC與ADC的作用模數(shù)轉(zhuǎn)換器是現(xiàn)代數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（DAQ或DAS系統(tǒng)）中的基本構(gòu)建模塊。它們將調(diào)節(jié)后的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)

  adc ADC dac 采集系統(tǒng)

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• 發(fā)布了文章 2024-12-19 13:12

  都靈理工大學(xué)校長一行再訪SPEA

  

  SPEA與都靈理工大學(xué)有著深厚的歷史淵源，雙方通過構(gòu)建人才培養(yǎng)體系、推動融合創(chuàng)新、不斷拓寬技術(shù)應(yīng)用的邊界，共同促進(jìn)了自動化測試技術(shù)在半導(dǎo)體、MEMS傳感器、電子制造等多個關(guān)鍵領(lǐng)域快速發(fā)展。近日，都靈理工大學(xué)校長率領(lǐng)代表團(tuán)，再度訪問SPEA總部，雙方展開了一場深入且富有成效的交流。交流內(nèi)容涵蓋科技創(chuàng)新的前沿方向、人才培育新策略、機械設(shè)備制造、測試技術(shù)等。SPE

  半導(dǎo)體 機械設(shè)備 自動化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-12-06 01:05

  Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部：探索全球頂尖自動化測試技術(shù)

  

  在自動化測試的廣闊領(lǐng)域中，SPEA憑借飛針測試儀、功率半導(dǎo)體測試設(shè)備、MEMS測試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強勁動力，已然成為支撐汽車產(chǎn)業(yè)向電動化、智能化發(fā)展的重要推手。正因如此，SPEA總部常迎來各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日，Rinaldi代表團(tuán)20余位客戶到訪了SPEA總部，踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo

  半導(dǎo)體測試 測試儀 自動化測量

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• 發(fā)布了文章 2024-12-03 01:05

  SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會

  

  近日，中國意大利商會（CICC）在意大利駐上?？傤I(lǐng)事館及蘇州政府大力支持下，于蘇州工業(yè)園區(qū)香格里拉酒店舉辦了第十六屆在蘇意大利企業(yè)答謝交流會。包括SPEA在內(nèi)的一批知名意大利企業(yè)代表出席本次活動。意大利大使安博思、意大利駐上?？傤I(lǐng)事館等嘉賓的蒞臨，極大地提升了本次交流會的規(guī)格與影響力。答謝交流會期間，眾多企業(yè)代表分享各自企業(yè)的在蘇發(fā)展近況與未來規(guī)劃，展現(xiàn)了對

  傳感器 半導(dǎo)體

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• 發(fā)布了文章 2024-11-15 01:07

  SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟（ESRA）代表團(tuán)

  

  SPEA接待歐洲半導(dǎo)體地區(qū)聯(lián)盟（ESRA）代表團(tuán)

  半導(dǎo)體 測試設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-10-23 08:07

  新加坡裕廊西中學(xué)到訪SPEA蘇州

  

  10月22日，SPEA蘇州測試培訓(xùn)中心迎來了一批特殊的訪客——新加坡裕廊西中學(xué)的60余位師生。在SPEA蘇州團(tuán)隊的熱情陪同下，師生們開啟了一場聚焦自動化測試的參訪探索之旅。步入SPEA蘇州測試實驗室，展現(xiàn)在眾人眼前的是一系列尖端的半導(dǎo)體測試機、MEMS測試設(shè)備以及飛針測試設(shè)備，數(shù)位專業(yè)的測試工程師正聚精會神地進(jìn)行著設(shè)備的調(diào)試與測試工作。井然有序的工作環(huán)境，精

  測試機 測試設(shè)備 自動化測試

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• 發(fā)布了文章 2024-10-10 08:06

  喜訊：都靈理工大學(xué)與 SPEA 簽署測試研究協(xié)議，共繪電子測試新篇章

  

  SPEANewsStefanoCorgnati校長、SPEACEOLucianoBonaria▲近日，都靈理工大學(xué)與SPEA在校長StefanoCorgnati、SPEACEOLucianoBonaria見證下，簽署了一項具有里程碑意義的合作協(xié)議。這項協(xié)議有望推動微芯片測試、微機電系統(tǒng)（MEMS）、自動化機械設(shè)計生產(chǎn)等領(lǐng)域融合創(chuàng)新。作為電子測試領(lǐng)域的全球領(lǐng)袖

  電子測試 自動化測試 芯片測試

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• 發(fā)布了文章 2024-09-26 08:09

  【ISES China 2024精彩回顧】半導(dǎo)體精英齊聚，共促產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展

  

  2024國際汽車半導(dǎo)體創(chuàng)新發(fā)展交流會（ISESChina2024）日前在無錫圓滿落幕。本次活動匯聚了全球汽車半導(dǎo)體行業(yè)的頂尖企業(yè)與精英領(lǐng)袖，共同探索行業(yè)新趨勢，推動技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展，為汽車半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)帶來了強勁動能。SPEA中國區(qū)總經(jīng)理孫媛麗女士的演講無疑是全場的亮點之一。她聚焦于功率半導(dǎo)體的可靠性話題，特別是在KGD（良品芯片）級別測試SiC半導(dǎo)體器件方面進(jìn)行了

  SiC 半導(dǎo)體 汽車

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