掃描電子顯微鏡（SEM簡稱掃描電鏡）是一個集電子光學技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制技術(shù)于一體的復雜系統(tǒng)
2023-11-24 15:39:53
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。在電極材料測試方面也由以往的光學顯微鏡，發(fā)展到掃描電鏡，高分辨率場發(fā)射掃描電鏡，以及分辨率在1nm級的高分辨率透射電鏡。在掃描探針顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來的電化學隧道掃描顯微鏡ECSTM使得電化學
2013-05-04 11:25:49
蘇試宜特實驗室通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，直接掰開看斷面，這樣準確嗎？通過掃描電鏡看試樣氧化層的厚度，如果是玻璃或陶瓷這樣直接掰開看斷面是可以的；如果是金屬材料可能在切割時，樣品結(jié)構(gòu)發(fā)生變化就不行了，所以要看是什么材料的氧化層。
2021-09-30 18:45:38
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
`材料表面微結(jié)構(gòu)觀察半導體芯片剖面觀察電壓對比EDS Mapping分析液態(tài)材料觀察IC線路逆向工程`
2019-08-02 17:25:35
新型的按鍵掃描程序
2016-11-02 10:58:42
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導體、陶瓷、醫(yī)學和生物學等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應用范圍正在不斷擴大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場的質(zhì)量控制。因此，對更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
掃描電子顯微鏡（SEM簡稱掃描電鏡）是一個集電子光學技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制技術(shù)于一體的復雜系統(tǒng)，常用于對固態(tài)物質(zhì)的形貌顯微分析和對常規(guī)成分微小區(qū)域的精細分析。掃描電鏡憑借其
2019-06-28 11:13:30
的掃描電鏡觀察服務。金鑒實驗室蔡司場發(fā)射掃描電鏡可以提供：12×～1000,000×的放大倍數(shù)的觀察，還可提供顆粒尺寸、孔徑測量的測試服務。案例一：正極材料-SEM測試 磷酸鐵鋰 三元 案例二：負極
2017-07-07 10:22:27
如何去使用基于51單片機的新型按鍵掃描程序？基于51單片機的新型按鍵掃描程序有哪些應用？
2021-10-19 09:14:19
本帖最后由 淘淘發(fā)燒友 于 2019-7-26 16:57 編輯
影響掃描電鏡的分辨本領(lǐng)的主要因素有： 分辨率A. 入射電子束束斑直徑：為掃描電鏡分辨本領(lǐng)的極限。一般，熱陰極電子槍的最小束斑
2019-07-26 16:54:28
表面形貌分析方法主要是指利用掃描電鏡（SEM）對電弧侵蝕后的觸頭表面區(qū)域進行顯微結(jié)構(gòu)觀測，得到侵蝕區(qū)域的表面形貌圖像。通過對觸頭接觸表面 SEM 的觀察，可獲得觸頭表面的凹陷與凸起、微粒的沉積或
2018-03-07 08:55:14
采取SEM和其他分析手段相結(jié)合的分析方法。如：杭州柘大飛秒檢測技術(shù)有限公司的科研人員采用的是SEM掃描電鏡/EDX成分分析。 杭州柘大飛秒檢測技術(shù)有限公司立足浙江大學國家大學科技園光與電技術(shù)開放實驗室
2017-12-06 09:45:42
，鍍層晶格形貌、內(nèi)部缺陷一覽無遺。 FIB-SEM掃描電鏡下觀察支架鍍層截面形貌，鍍層界限明顯、結(jié)構(gòu)及晶格形貌清晰，尺寸測量準確。此款支架在常規(guī)鍍鎳層上方鍍銅，普通制樣方法極其容易忽略此層結(jié)構(gòu)
2020-01-16 22:02:26
3DMetrology軟件可以實現(xiàn)3維重構(gòu)及測量功能。 VEGA3配置VEGA3 SBH高真空型SEM,配備有3軸馬達驅(qū)動樣品臺，適用于觀察小型導電樣品。VEGA3 SBU可變真空型掃描電鏡，體現(xiàn)了高真空模式和低真空模式的優(yōu)點，可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導電樣品。`
2019-05-16 16:04:54
【設(shè)備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
電子顯微原理與技術(shù)【教學內(nèi)容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構(gòu)造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復型技術(shù)5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 提出一種基于陰影恢復技術(shù)的細胞圖像表面各點的曲率計算方法，利用邊界輪廓提取技術(shù)分離由掃描電鏡SEM得到的紅血球亮度圖像，對單個細胞從跟蹤得到的中心點開始進行區(qū)域生
2009-04-11 09:23:1418 掃描電子顯微鏡原理和應用2.4.1 掃描電鏡的特點與光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305129 本文主要討論利用掃描電鏡及其外加電路, 對集成電路的失效進行分析的方法 電壓襯度法.
2012-03-15 14:27:3334 半導體器件芯片分析的幾種方法與步驟。分析手段一般包括：c-sam，x-ray，sem掃描電鏡，EMMI微光顯微鏡等。
2012-05-02 15:36:089908 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《[掃描電鏡與能譜儀分析技術(shù)].張大同.掃描版.txt》資料免費下載
2013-04-29 20:47:150 EEPROM的掃描電鏡探測和探針攻擊_程鵬
2017-01-03 17:41:321 電子探針、掃描電鏡顯微分析學習資料
2017-02-07 16:15:3811 掃描電鏡圖像中電壓反差影響研究
2017-02-14 16:42:2415 本文詳細介紹了掃描電鏡圖像中電壓發(fā)差的影響。
2017-11-08 18:50:5911 本文介紹工業(yè)掃描電鏡的新貴——智能電鏡。著重描述其多重的自動化功能。智能目的是讓電鏡成為科研和工程上得心應手的利器，發(fā)揮工具的作用。
2018-04-14 10:50:001546 
電子顯微鏡從實驗室走向工業(yè)應用，關(guān)鍵詞是高速和好用。 首款智能化全自動高速成像掃描電子束顯微鏡在北京下線，不僅對科研， 而且對工程應用是利好消息，拓展了一條微觀世界探索之路。
2018-03-20 11:30:003472 曾毅告訴記者。但是，目前我國科研與工業(yè)部門所用的掃描電鏡嚴重依賴進口，每年我國花費超過1億美元采購的幾百臺掃描電鏡中，主要產(chǎn)自美、日、德和捷克等國。國產(chǎn)掃描電鏡只占約5%—10%。
2018-08-10 17:38:142039 
電鏡動畫，被驚艷到，原來枯燥無味的電鏡可以變得這么生動，閑言少敘，下面就和大家一起來分享。掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電鏡成像是利用細聚焦高能電子束在樣件表面激發(fā)各種物理信號，如二次電子、背散射
2018-11-06 15:00:44852 電鏡動畫，被驚艷到，原來枯燥無味的電鏡可以變得這么生動，閑言少敘，下面就和大家一起來分享。掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電鏡成像是利用細聚焦高能電子束在樣件表面激發(fā)各種物理信號，如二次電子、背散射
2018-11-22 16:24:313247 1、掃描電鏡樣品的基本要求 首先，導電性能好，樣品在電子束反復掃描下表面電位不會升啊，避免電荷效應； 其次，熱穩(wěn)定性能好，電子束溫度較高，導熱性差的樣品在觀察時會漂移，圖像不穩(wěn)定有些熱敏感材料會損傷
2020-03-21 09:35:007941 巖心聚焦離子東掃描電鏡（FIB-SEM）圖像存在灰度分布不均及孔隙內(nèi)局部高亮等現(xiàn)象，采用傳統(tǒng)圖像分割算法所得孔隙分割精度較低，而基于輪廓的分割算法需對孔隙進行人工標記，操作繁瑣且無法精確提取孔隙
2021-03-11 17:35:446 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過結(jié)合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品臺等附件成為一個集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體
2021-04-29 10:54:403087 
SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?，再?jīng)
2021-06-21 09:25:058788 聚焦離子束（FIB）與掃描電子顯微鏡（SEM）耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過結(jié)合相應的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測器及可控的樣品臺等附件成為一個集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體
2021-09-18 10:52:094441 
貼片電阻用無鉛焊錫焊接在基板上，用氬離子拋光制作掃描電鏡樣品，可以清楚地觀測到焊錫中的反應層 金鍵合引線剖光截面 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?軟金屬的清洗和拋光 銅鎳襯底
2021-11-06 09:46:271044 
1. 設(shè)備型號 日立-掃描電鏡-SU 1510, 配備能譜儀eds 2. 原理 SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說
2021-11-04 10:20:381837 
圖1 LED芯片（掃描電鏡SEM） 圖2 LED芯片（掃描電鏡SEM） 圖3 LED芯片（掃描電鏡SEM） ? ymf
2021-11-24 11:02:491649 
LED芯片粘結(jié)不牢（掃描電鏡SEM） LED芯片粘結(jié)錯位（掃描電鏡SEM） 冷熱沖擊后，銀膠開裂（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-24 10:59:52685 
案例分析： ? ?（掃描電鏡SEM） ? LED引線裂開（掃描電鏡SEM） ? 樣品制備 樣品制備多是破壞性實驗，即利用砂紙(或鉆石砂紙)進行粗磨和細磨，加上后續(xù)拋光，可處理出清晰的樣品剖面，搭配
2021-11-25 17:27:37942 
銀粉形貌圖 （掃描電鏡SEM） 銀粉的品種很多，可以依據(jù)物理化學特性和市場需求進行不同分類，每一類別里又有不同銀粉應用于不同方面，細化使用的目標是最大程度發(fā)揮銀的特性優(yōu)勢和降低成本，衡量銀粉的主要
2021-11-25 17:06:462724 
圖1 LED焊球良品（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 圖2 LED焊球不良品（掃描電鏡SEM） 圖3 LED焊球（掃描電鏡SEM
2021-11-26 16:33:04750 
于：光擴散燈罩，磨砂燈罩，霧面光擴散燈罩、陽光板、LED發(fā)光面板，電子顯示牌，燈箱廣告板數(shù)碼管，發(fā)光字等。 圖1 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） 圖2 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? 圖3 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? ? ? ? ymf
2021-11-26 16:24:34871 
掃描電鏡能夠直接觀察表面粗化后樣品表面的結(jié)構(gòu)，對比粗化處理前后表面的粗糙度。掃描電鏡景深大，圖象富有立體感，可觀察經(jīng)過粗化處理的表面三維島狀結(jié)構(gòu)。 ? ? ? ? ? ?ymf
2021-11-29 11:07:47922 
放置于兩極之間，能夠讓電解質(zhì)離子通過，又能避免兩極上的活性物質(zhì)直接接觸而造成短路。電池隔膜一般是用高分子材料PE（聚乙烯）或PP（聚丙烯）來制備，孔徑大小通常在10nm至300nm左右。 ? 掃描電鏡是用來檢測電池隔膜孔徑大小和孔洞分別是否均勻的常用儀
2021-12-14 16:24:51857 
金鑒實驗室提供氬離子拋光制備SEM樣品加頁巖石SEM測試服務，超高分辨率sem。詳細咨詢金鑒在線客服。 審核編輯：ymf ?
2021-12-14 16:45:23301 
IC 相同的故障模式。檢查 TFT 顯示器的兩種方法，即使用 SEM（掃描電子顯微鏡）和 EDX（能量色散 X 射線光譜）的方法通常僅分析表面。
2021-12-15 16:22:58545 
二次鋰離子電池基本原理： ? 掃描電鏡微觀分析系統(tǒng)SEM-EDS ? 1、?電池的失效分析? ? ? 鋰電正極剖面：拋光檢測 掃描電鏡二次電子圖像和俄歇電子元素面分布圖。 ? 2、不同類型鋰電池正極
2021-12-15 17:05:341101 
。 ? 但由于石油地質(zhì)行業(yè)中很多樣品需要進行掃描電鏡觀察前的樣品制備工作，傳統(tǒng)的方法是采用普通的手動或機械研磨，但因為其內(nèi)部的微小尺度結(jié)構(gòu)在研磨過程中會所造成的表面的機械劃痕、污染以及形變等各種損傷，很難得到其真實
2021-12-16 16:05:03623 
? 圖1 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? 圖2 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? ? ? 圖3?PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM） ? 審核編輯：ymf ?
2021-12-20 17:14:541344 
figure class=image image_resized style=width:500px;img alt=金屬氧化物（掃描電鏡SEM） src=https
2021-12-22 16:44:42575 
。這個工具就是掃描電鏡和能譜儀（SEM-EDS），使得快速解決困難問題的分析成為可能，并且有效、及時和經(jīng)濟。? SEM-EDS成為終極解決工具理由如下：? 沉積物和摩屑分析? 顆粒形貌尺寸和特征分析? 失效分析? 污染物分析? 冶金學
2021-12-22 16:54:591179 
。 3、X射線：由于內(nèi)殼層電子躍遷產(chǎn)生，不同原子產(chǎn)生的能量不同，用于EDS分析。 入射電子與樣品作用產(chǎn)生的信號 SEM原理 1.2 掃描電鏡的用途（SEMEDS） （1）材料的微觀形貌、組織 （2）微區(qū)元素定量、定性成分分析 （3）材料斷口分析和失效分析 （4）多元素面掃描和線掃
2021-12-23 15:46:041138 
No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM 。它利用細聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等，對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392732 場發(fā)射掃描電鏡的日常維護與管理
2022-12-09 16:10:164742 電鏡帶你看世界，我們帶你看電鏡！近日，由儀器信息網(wǎng)主辦的“關(guān)于電鏡的Everything——創(chuàng)意微視頻征集大賽”圓滿落幕，《掃描電鏡下的芝麻?！芬曨l榮獲“最具人氣獎（用戶榜）”TOP1，《國儀量子
2022-08-16 10:07:152412 
2022年9月，國儀量子掃描電鏡交付劉小春教授團隊，目前已調(diào)試完畢，正式投入運行。通過短視頻，劉老師現(xiàn)身說法，為大家分享了國儀量子掃描電鏡的使用體驗與心得。劉老師在視頻中說，有賴于國儀量子掃描電鏡
2022-10-09 10:18:181001 摘要：以石蠟作為相變物質(zhì)，與埃洛石復合，以無水乙醇為溶劑，采用溶液插層法制備出不同配比的新型石蠟/埃洛石復合相變材料。使用掃描電鏡(SEM)觀察其表面形貌，對材料相變過程中的形狀穩(wěn)定性進行測試，采用
2022-10-20 11:16:571390 
鎢燈絲掃描電鏡性價比高、易于維護、操作相對簡單、對場地要求較小便于大眾使用但長期以來鎢燈絲掃描電鏡的分辨率都停滯不前難以實現(xiàn)用戶對更高分辨率的追求國儀量子于近日推出的鎢燈絲掃描電鏡SEM
2022-12-09 11:14:38532 當下，全球都在強調(diào)制造業(yè)的重要性我國更是將制造業(yè)轉(zhuǎn)型升級作為長期的發(fā)展戰(zhàn)略掃描電鏡作為一種強大的分析儀器在提升制造業(yè)產(chǎn)品創(chuàng)新能力與產(chǎn)品質(zhì)量上將大有作為鎢燈絲掃描電鏡SEM2000但在實際應用中常
2022-12-13 09:18:22511 在此前的兩期推文中我們?yōu)榇蠹医榻B了兩款鎢燈絲掃描電鏡“重新定義鎢燈絲掃描電鏡”的SEM3300和“操作不挑人，簡約不簡單”的SEM2000今天，針對有分析型需求的用戶超大束流，超快分析的場發(fā)射
2022-12-15 10:25:38594 納米的商用鎢燈絲掃描電子顯微鏡（國儀量子鎢燈絲掃描電鏡SEM3300），這一成果的出現(xiàn)依托于中國科技大學的成果轉(zhuǎn)化團隊。圖片來源：新聞聯(lián)播鎢燈絲掃描電鏡SEM33
2023-01-13 09:40:33404 近日，國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐新型材料有限公司（以下簡稱“華豐新材“），為其板材產(chǎn)品的品質(zhì)控制與改善提供了高效便捷的技術(shù)保障。華豐新材華豐新材成立于2004年，主要生產(chǎn)
2023-03-06 14:08:34402 場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30573 5月18日，2023第十六屆中國科學儀器發(fā)展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發(fā)的場發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16367 新推出的場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 360和Sigma 560繼承了Gemini電子透鏡管的優(yōu)良性能，將成為材料研究、生命科學和工業(yè)檢驗領(lǐng)域的“全方位”。蔡司致力于與用戶攜手共進，推動科學發(fā)展和行業(yè)進步。 新Sigma系列的亮點: 高分辨率 雙子座的電
2023-07-04 15:39:24249 
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061998 
的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38272 
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務指南任意移動SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433 
蔡司場發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設(shè)計，打破了傳統(tǒng)設(shè)計中電子束交叉三次發(fā)生能量擴散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需
2023-07-14 16:26:59917 
。蔡司代理三本精密儀器小編今天為您介紹蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡制備要求：1.SEM樣品要求(1)塊體樣品：金屬塊體樣品可用導電膠直接固定在樣品臺上
2023-07-26 10:48:06650 
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56331 
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學組成與宏觀物理或化學性質(zhì)之間的關(guān)系。光學顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351420 場發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350 今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40814 能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241964 
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47363 
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